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半導体中のバリスティックエレクトロンを観測する新しいSTM技術の研究 / 古屋一仁

資料種別:
図書
出版情報:
東京 : 東京工業大学, 1998.3
著者名:
古屋, 一仁  
書誌ID:
1000304211
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