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軟X線吸収測定法と表面光第二高調波発生法による液晶-配向膜界面配向評価 / 酒井隆宏

資料種別:
学位論文
出版情報:
東京 : 東京工業大学, 2001
著者名:
酒井, 隆宏  
書誌ID:
1000379365
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