Basics of interferometry

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Basics of interferometry / P. Hariharan

資料種別:: 図書
出版情報:: Boston : Academic Press, c1992
形態:: xvii, 213 p. ; 24 cm
著者名:: Hariharan, P. <DA00663278>
ISBN:: 9780123252180 [0123252180]
書誌ID:: BA13863568

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書誌詳細

注記:

Includes bibliographical references and index

主題:

Interferometry

言語:

英語

目次情報:

Preface

Acknowledgments

Introduction / 1：

Interference: A Primer / 2：

Light Waves / 2.1：

Intensity in an Interference Pattern / 2.2：

Visibility of Interference Fringes / 2.3：

Interference with a Point Source / 2.4：

Localization of Fringes / 2.5：

Summary / 2.6：

Problems / 2.7：

Two-Beam Interferometers / 3：

Wavefront Division / 3.1：

Amplitude Division / 3.2：

The Rayleigh Interferometer / 3.3：

The Michelson Interferometer / 3.4：

Fringes Formed with a Point Source / 3.4.1：

Fringes Formed with an Extended Source / 3.4.2：

Fringes Formed with Collimated Light / 3.4.3：

Applications / 3.4.4：

The Mach-Zehnder Interferometer / 3.5：

The Sagnac Interferometer / 3.6：

Light Sources / 3.7：

Coherence / 4.1：

Source-Size Effects / 4.2：

Slit Source / 4.2.1：

Circular Pinhole / 4.2.2：

Spectral Effects / 4.3：

Polarization Effects / 4.4：

White-Light Fringes / 4.5：

Channeled Spectra / 4.6：

Multiple-Beam Interference / 4.7：

Multiple-Beam Fringes by Transmission / 5.1：

Multiple-Beam Fringes by Reflection / 5.2：

Multiple-Beam Fringes of Equal Thickness / 5.3：

Fringes of Equal Chromatic Order (FECO Fringes) / 5.4：

The Fabry-Perot Interferometer / 5.5：

The Laser as a Light Source / 5.6：

Lasers for Interferometry / 6.1：

Laser Modes / 6.2：

Single-Wavelength Operation of Lasers / 6.3：

Polarization of Laser Beams / 6.4：

Wavelength Stabilization of Lasers / 6.5：

Laser Beam Expansion / 6.6：

Problems with Laser Sources / 6.7：

Laser Safety / 6.8：

Detectors / 6.9：

Photomultipliers / 7.1：

Photodiodes / 7.2：

Charge-Coupled Detector Arrays / 7.3：

Linear CCD Sensors / 7.3.1：

Area CCD Sensors / 7.3.2：

Frame-Transfer CCD Sensors / 7.3.3：

Photoconductive Detectors / 7.4：

Pyroelectric Detectors / 7.5：

Measurements of Length / 7.6：

The Definition of the Metre / 8.1：

Length Measurements / 8.2：

The Fractional-Fringe Method / 8.2.1：

Fringe Counting / 8.2.2：

Heterodyne Techniques / 8.2.3：

Synthetic Long-Wavelength Signals / 8.2.4：

Laser Frequency Modulation / 8.2.5：

Environmental Effects / 8.2.6：

Measurement of Changes in Length / 8.3：

Phase Compensation / 8.3.1：

Heterodyne Methods / 8.3.2：

Optical Testing / 8.4：

The Fizeau Interferometer / 9.1：

The Twyman-Green Interferometer / 9.2：

Analysis of Wavefront Aberrations / 9.3：

Laser Unequal-Path Interferometers / 9.4：

The Point-Diffraction Interferometer / 9.5：

Shearing Interferometers / 9.6：

Lateral Shearing Interferometers / 9.6.1：

Radial Shearing Interferometers / 9.6.2：

Digital Techniques / 9.7：

Digital Fringe Analysis / 10.1：

Digital Phase Measurements / 10.2：

Testing Aspheric Surfaces / 10.3：

Direct Measurements of Surface Shape / 10.3.1：

Long-Wavelength Tests / 10.3.2：

Tests with Shearing Interferometers / 10.3.3：

Tests with Computer-Generated Holograms / 10.3.4：

Macro- and Micro-Interferometry / 10.4：

Interferometry of Refractive Index Fields / 11.1：

Interference Microscopy / 11.2：

Two-Beam Interference Microscopes / 11.4：

The Nomarski Interferometer / 11.6：

Holographic and Speckle Interferometry / 11.7：

Holographic Interferometry / 12.1：

Holographic Nondestructive Testing / 12.2：

Holographic Strain Analysis / 12.3：

Holographic Vibration Analysis / 12.4：

Speckle Interferometry / 12.5：

Electronic Speckle-Pattern Interferometry / 12.6：

Studies of Vibrating Objects / 12.7：

Interferometric Sensors / 12.8：

Laser-Doppler Interferometry / 13.1：

Measurements of Vibration Amplitudes / 13.2：

Fiber Interferometers / 13.3：

Rotation Sensing / 13.4：

Interference Spectroscopy / 13.5：

Resolving Power and Etendue / 14.1：

The Scanning Fabry-Perot Interferometer / 14.2：

The Confocal Fabry-Perot Interferometer / 14.2.2：

The Multiple-Pass Fabry-Perot Interferometer / 14.2.3：

Interference Filters / 14.3：

Birefringent Filters / 14.4：

Interference Wavelength Meters / 14.5：

Fourier-Transform Spectroscopy / 14.6：

The Multiplex Advantage / 15.1：

Theory of Fourier-Transform Spectroscopy / 15.2：

Practical Aspects of Fourier-Transform Spectroscopy / 15.3：

Computation of the Spectrum / 15.4：

Applications of Fourier-Transform Spectroscopy / 15.5：

Choosing an Interferometer / 15.6：

Monochromatic Light Waves / A：

Complex Representation / A.1：

Optical Intensity / A.2：

Phase Shifts on Reflection / B：

Diffraction / C：

Diffraction Gratings / C.1：

Polarized Light / D：

Production of Polarized Light / D.1：

Quarter-Wave and Half-Wave Plates / D.2：

Adjustment of the Mach-Zehnder Interferometer / E：

Fourier Transforms and Correlation / G：

Fourier Transforms / G.1：

Correlation / G.2：

Quasi-Monochromatic Light / H：

The Mutual Coherence Function / H.2：

Complex Degree of Coherence / H.3：

Visibility of the Interference Fringes / H.4：

Spatial Coherence / H.5：

Temporal Coherence / H.6：

Coherence Length / H.7：

Heterodyne Interferometry / I：

Laser Frequency Shifting / J：

Evaluation of Shearing Interferograms / K：

Phase-Stepping Interferometry / K.1：

Holographic Imaging / M：

Hologram Recording / M.1：

Image Reconstruction / M.2：

Laser Speckle / N：

Index / O：

Preface

Acknowledgments

Introduction / 1：

Interference: A Primer / 2：

Light Waves / 2.1：

Intensity in an Interference Pattern / 2.2：

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