1999 4th International Workshop on Statistical Metrology, June 12, 1999, Kyoto | 東京工業大学附属図書館蔵書検索

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1999 4th International Workshop on Statistical Metrology, June 12, 1999, Kyoto / technical co-sponsored by IEEE Electron Devices Society ; co-sponsored by VLSI Symposium, the Japan Society of Applied Physics, IEEE ED Tokyo Chapter ; in cooperation with the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

資料種別:

図書

出版情報:

Tokyo, Japan : Business Center for Academic Societies Japan, [1999]

形態:

vi, 65 p. ; 28 cm

著者名:

International Workshop on Statistical Metrology <DA12290655>

IEEE Electron Devices Society <DA01257512>

応用物理学会 <DA00633233>

IEEE Electron Devices. Tokyo Chapter

電子情報通信学会 <DA01657532>

さらに 1 件

ISBN:

9780780351547 [0780351541] (:softbound)

書誌ID:

BA48946730

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書誌詳細

その他の標題:	IWSM 99TH8391
注記:	"IEEE cat. no. 99TH8391."--T.p. verso Includes bibliographical references
著者名ヨミ:	オウヨウブツリガッカイデンシジョウホウツウシンガッカイ
言語:	英語

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