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1999 4th International Workshop on Statistical Metrology, June 12, 1999, Kyoto / technical co-sponsored by IEEE Electron Devices Society ; co-sponsored by VLSI Symposium, the Japan Society of Applied Physics, IEEE ED Tokyo Chapter ; in cooperation with the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

資料種別:
図書
出版情報:
Tokyo, Japan : Business Center for Academic Societies Japan, [1999]
形態:
vi, 65 p. ; 28 cm
著者名:
International Workshop on Statistical Metrology <DA12290655>
IEEE Electron Devices Society <DA01257512>
VLSI Symposium
応用物理学会 <DA00633233>
IEEE Electron Devices. Tokyo Chapter
電子情報通信学会 <DA01657532>
さらに 1 件
ISBN:
9780780351547 [0780351541] (:softbound)
書誌ID:
BA48946730
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