| 第1章 計測とは |
| 1・1 計測と測定 1 |
| 1・2 尺度と次元 1 |
| 1・2・1 測定の尺度 1 |
| 1・2・2 測定の次元 1 |
| 第2章 単位と標準 |
| 2・1 国際単位系 2 |
| 2・2 計量標準 2 |
| 2・2・1 知的基購としての計量標準 2 |
| 2・2・2 計量標準 2 |
| 2・2・3 標準物質 3 |
| 2・2・4 トレーサビリティ 4 |
| 2・3 工業規格 4 |
| 2・3・1 ISO規格の目的 4 |
| 2・3・2 ISOの歴史 5 |
| 2・3・3 ISO規格と測定 5 |
| 2・3・4 ISO規格制定のプロセス 5 |
| 2・3・5 適合性評価について 5 |
| 第3章 測定概論 |
| 3・1 測定の計画と設計 7 |
| 3・1・1 測定計画の基本 7 |
| 3・1・2 測定計画の具体化 8 |
| 3・2 測定方式の分類 9 |
| 3・2・1 直接測定と間接測定 10 |
| 3・2・2 絶対測定と比較測定 10 |
| 3・2・3 各種の測定方式 10 |
| 3・2・4 アナログ方式とディジタル方式 10 |
| 3・3 測定の誤差と不確かさ 10 |
| 3・3・1 誤差 10 |
| 3・3・2 不確かさ 12 |
| 3・3・3 不確かさの原因 12 |
| 3・3・4 不確かさの評価（解析の手順） 13 |
| 3・3・5 不確かさの表示（不確かさの総合的見積り） 13 |
| 3・3・6 不確かさの性質 13 |
| 3・4 測定の精度と校正 14 |
| 3・4・1 各種の精度 14 |
| 3・4・2 安定性 14 |
| 3・4・3 直線性とヒステリシス 14 |
| 3・4・4 校正とその目的 15 |
| 3・4・5 幾何学量の計測と各種の校正法 15 |
| 3・5 補償法 17 |
| 3・5・1 補償の考え方 17 |
| 3・5・2 差動構造での補償 18 |
| 3・5・3 除算構造での補償 19 |
| 3・5・4 加算構造 20 |
| 3・5・5 各種の補償法 21 |
| 第4章 測定データの処理 |
| 4・1 静的データの処理 25 |
| 4・1・1 静的データとは 25 |
| 4・1・2 数値の丸め方 25 |
| 4・1・3 一次元データの要約 25 |
| 4・1・4 一次元データの表現と近似 26 |
| 4・1・5 二次元データの要約 27 |
| 4・1・6 二次元データの表現と近似 27 |
| 4・1・7 検定と推定 28 |
| 4・2 動的データ処理 30 |
| 4・2・1 動特性の表示 30 |
| 4・2・2 フィルタリング 31 |
| 4・2・3 周波数解析 33 |
| 4・2・4 ウェーブレット解析 35 |
| 4・3 機器の雑音とその対策 36 |
| 第5章 各種変量の測定 |
| 5・1 基本量の測定 38 |
| 5・1・1 長さ 38 |
| 5・1・2 質量 40 |
| 5・1・3 時間（周波数） 42 |
| 5・1・4 電流（電圧，電気抵抗） 46 |
| 5・1・5 温度 48 |
| 5・1・6 物質量 51 |
| 5・1・7 光度 54 |
| 5・2 幾何学量の測定 56 |
| 5・2・1 寸法，変位 56 |
| 5・2・2 角度 62 |
| 5・2・3 形状 66 |
| 5・2・4 表面性状 71 |
| 5・3 力学量の測定 73 |
| 5・3・1 力，動力，回転数 73 |
| 5・3・2 圧力，真空度 75 |
| 5・3・3 振動，速度，加速度 79 |
| 5・3・4 流量，流速 81 |
| 5・4 熱的諸量，湿度の測定 86 |
| 5・4・1 熱的諸量 86 |
| 5・4・2 湿度 88 |
| 5・5 各種物性値の測定 90 |
| 5・5・1 密度 90 |
| 5・5・2 粘度 92 |
| 5・5・3 弾性係数 94 |
| 5・5・4 熱物性値 96 |
| 5・6 その他の諸量の測定 99 |
| 5・6・1 振動，騒音 99 |
| 5・6・2 放射線 103 |
| 5・6・3 環境関連 106 |
| 5・6・4 生体関連 lO9 |
| 5・6・5 感応量 113 |
| 第6章 各種応用計測 |
| 6・1 電気計測器 120 |
| 6・1・1 はじめに 120 |
| 6・1・2 波形測定器 120 |
| 6・1・3 電力計測器 121 |
| 6・1・4 データ収集装置 122 |
| 6・1・5 現場用計測器 124 |
| 6・2 光応用計測 125 |
| 6・2・1 光干渉計による変位計測 126 |
| 6・2・2 光を用いた回転角度計測 126 |
| 6・2・3 光干渉計による形状計測 127 |
| 6・2・4 ホログラフィーおよびスペックル干渉による変形計測 128 |
| 6・2・5 終わりに 128 |
| 6・3 放射線応用計測 128 |
| 6・3・1 SEM応用計測（測長SEM，LSI検査） 128 |
| 6・3・2 工業用X線CT 129 |
| 6・4 超音波応用計測 130 |
| 6・4・1 超音波の定義と超音波応用計測の特徴 130 |
| 6・4・2 使用する周波数範囲 131 |
| 6・4・3 伝搬する弾性波動の種類 131 |
| 6・4・4 伝搬速度・波長と計測における分解能 131 |
| 6・4・5 超音波の発生と検出 131 |
| 6・4・6 距離測定 132 |
| 6・4・7 速度測定 133 |
| 6・4・8 物性測定・材料評価 133 |
| 6・4・9 超音波を用いた計測，センサデバイス 133 |
| 6・5 画像応用計測 134 |
| 6・5・1 幾何光学的原理による方法 134 |
| 6・5・2 波動光学的原理による方法 136 |
| 6・6 知識応用計測 139 |
| 6・6・1 知識応用計測の範囲 139 |
| 6・6・2 区分と逐次接続法 139 |
| 6・6・3 反転法，マルチステップ法 139 |
| 6・6・4 ステレオ法 140 |
| 6・6・5 CT 140 |
| 6・6・6 ニューラルネットワーク，GA 140 |
| 6・6・7 GPS 141 |
| 6・6・8 計測における複雑化への動向と知識応用計測 141 |
| 6・7 官能検査 141 |
| 6・7・1 官能検査と官能量計測 141 |
| 6・7・2 官能検査方法 141 |
| 6・7・3 適用例 142 |
| 6・7・4 官能検査の不確かさ 142 |
| 6・7・5 感性と官能検査 142 |
| 第7章 計測における管理と教育 |
| 7・1 計測機器の管理 144 |
| 7・1・1 計測機器管理の必要性 144 |
| 7・1・2 管理対象機器の選定 144 |
| 7・1・3 計測機器の校正とその周期 144 |
| 7・1・4 日常点検 145 |
| 7・2 計測技術者の教育・訓練 145 |
| 7・2・1 計測技術者としての条件の把握 145 |
| 7・2・2 教育・訓練のマニュアルの必要性とその基本 147 |
| 7・2・3 教育・訓練の方法 147 |
| 7・2・4 教育・訓練の効果 148 |
| 7・2・5 測定データヘの人間の影響と教育 148 |
| 索引（日本語・英語） 巻末 |
