| 1 固体試料の作成と取り扱い 1 |
| 1・1 単結晶表面試料の作成 [栃原 浩・山田太郎] 1 |
| はじめに 清浄表面とは (1) |
| 単結晶の製法と入手 (2) |
| X線回折による結晶軸の決定 (4) |
| 結晶の切断と成型 (13) |
| 結晶面の研磨 (17) |
| 超高真空下の清浄化処理 (20) |
| 文献 (24) |
| 1・2 薄膜,多層膜の作成 [①小間 篤 ②清水 勇・半那純一・白井 肇] 25 |
| 蒸着膜の作成 (25)① |
| 分子線エピタキシー (28)① |
| CVD法 (46)② |
| 膜厚の測定 (74)② |
| 文献 (83) |
| 1・3 微粒子分散系 [①古澤邦夫 ②堤 和男・松本明彦 ③金子克美 ④上野晃史] 85 |
| 超微粒子の作成 (85)① |
| 多孔性材料 (99)② |
| 粒径,孔度と比表面積 (117)③ |
| 不均一系触媒の調製 (126)④ |
| 文献 (139) |
| 2 分子集合体試料の作成と状態分析 145 |
| 2・1 有機薄膜 [①中原弘雄 ②川端康治郎・松本睦良 ③小山 昇] 145 |
| 単分子膜 (145)① |
| 累積膜 (157)① |
| 有機薄膜の機能化 (175)② |
| 電解有機薄膜 (189)③ |
| 文献 (195) |
| 2・2 分子組織体分散系 [①妹尾 学・篠塚則子 ②師井義清 ③国枝博信 ④児玉美智子 ⑤今栄東洋子 ⑥加藤 直・清宮 懋 ⑦山崎 巖] 200 |
| 分子分散系の状態図 (200)① |
| ミセル (208)② |
| ミクロエマルション (217)③ |
| ゲル状態 (229)④ |
| 分子組織体の構造解析(光散乱法⑤,核磁気共鳴吸収⑥,時間分解蛍光分光法⑦) (241) |
| 文献 (264) |
| 3 固体表面の観察と構造解析 269 |
| 3・1 電子顕微鏡による形態と構造の観察 [①八木克道 ②櫻井利夫・橋詰富博] 269 |
| 透過型電子顕微鏡 (269)① |
| 走査型電子顕微鏡 (286)① |
| 走査型トンネル顕微鏡 (293)② |
| FEMとFIM (304)② |
| 文献 (321) |
| 3・2 電子回折とX線吸収微細構造による構造解析 [①有賀哲也 ②大門 寛 ③二瓶好正 ④朝倉清高] 325 |
| 低速電子回折 (325)① |
| 反射高速電子回折 (336)① |
| 光電子回折 (347)③ |
| 広域X線吸収微細構造 (368)④ |
| 表面EXAFS (385)④ |
| 文献 (393) |
| 4 表面状態分析 397 |
| 4・1 表面の元素分析・状態分析 [①石谷 炯 ②原田義也・増田 茂 ③圦本尚義 ④黒崎和夫] 397 |
| Auger電子分光法 (397)① |
| X線光電子分光法 (411)① |
| Penningイオン化電子分光法 (432)② |
| 二次イオン質量分析 (439)③ |
| 高速イオンを利用する表面分析 (451)④ |
| 文献 (473) |
| 4・2 表面の振動分光 [①濱口宏夫 ②吉信 淳・西嶋光昭 ③堂免一成] 476 |
| 赤外分光法 (476)① |
| Raman分光法 (482)① |
| 高分解能電子エネルギー損失分光法 (490)② |
| その他の振動分光法 (503)③ |
| 文献 (511) |
| 5 固体表面の反応性,物性の研究手法 515 |
| 5・1 吸着量 [江川千桂司] 515 |
| 気体分子(原子)の露出量 (515) |
| 低速電子回折 (516) |
| 昇温脱離法 (518) |
| 圧力変化による吸着量測定 (520) |
| 仕事関数 (520) |
| Auger電子分光法 (521) |
| 光電子分光法 (523) |
| 参考文献 (523) |
| 文献 (523) |
| 5・2 昇温脱離法 [松島龍夫] 524 |
| 真空装置の排気速度 (524) |
| 結晶の保持と加熱 (525) |
| 脱離分子の検出 (526) |
| スペクトルの解析 (528) |
| 文献 (531) |
| 5・3 表面反応の研究方法 [岩澤康裕・中村潤児] 531 |
| 表面反応の素過程の測定 (532) |
| 表面反応の速度論的解析 (535) |
| 触媒反応の研究 (538) |
| 分子線を用いた研究 (544) |
| 文献 (546) |
| 5・4 固体表面の光化学過程(1) [大西 洋] 547 |
| はじめに (547) |
| 真空槽と試料調製 (548) |
| 光源 (549) |
| 応答の検出 (552) |
| 文献 (557) |
| 5・5 固体表面の光化学過程(2) [安保正一] 557 |
| 半導体表面での光触媒反応 (557) |
| 不活性(絶緑体)固体表面での光化学反応 (564) |
| 文献 (566) |
| 5・6 表面電位と仕事関数 [有賀哲也] 567 |
| 表面電位と仕事関数とは (567) |
| 仕事関数の測定法 (570) |
| 文献 (575) |
| 付録 [黒田晴雄] 577 |
| 付録1:内殻準位の結合エネルギー (578) |
| 付録2:元素の主なAuger電子ピークのエネルギー (582) |
| 索引 585 |
| 欧文索引 593 |
| 1 固体試料の作成と取り扱い 1 |
| 1・1 単結晶表面試料の作成 [栃原 浩・山田太郎] 1 |
| はじめに 清浄表面とは (1) |
| 単結晶の製法と入手 (2) |
| X線回折による結晶軸の決定 (4) |
| 結晶の切断と成型 (13) |
