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1.

図書

図書
十倉好紀編著
出版情報: 東京 : 日経BP社, 2001.11  201p ; 26cm
シリーズ名: アトムテクノロジーへの挑戦 : ナノテクノロジーの最前線 / 田中一宜監修 ; 2
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2.

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図書
市川昌和編著
出版情報: 東京 : 日経BP社, 2001.11  285p ; 26cm
シリーズ名: アトムテクノロジーへの挑戦 : ナノテクノロジーの最前線 / 田中一宜監修 ; 1
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3.

図書

図書
麻蒔立男著
出版情報: 東京 : 日刊工業新聞社, 2004.1  159p ; 21cm
シリーズ名: B&Tブックス ; . 今日からモノ知りシリーズ||キョウ カラ モノシリ シリーズ
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4.

図書

図書
出版情報: 東京 : エヌ・ティー・エス, 2011.3  2, 6, 426, 11p, 図版12p ; 27cm
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5.

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東工大
目次DB

図書
東工大
目次DB
Rainer Waser編 ; 木村達也訳
出版情報: 東京 : オーム社, 2006.11  2冊 ; 21cm
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まえがき i
第2版のまえがき ix
訳者まえがき xi
総論 1
   0 総論 3
   0.1 情報の性質 3
   0.2 情報の数学的定義 7
   0.3 情報の処理 11
    0.3.1 Boole代数とスイッチ回路 11
    0.3.2 スイッチング代数とスイッチ回路 13
    0.3.3 多値論理 16
    0.3.4 非可逆論理と可逆論理 18
   0.4 情報技術の領域 20
第I部 基礎 25
   第I部のまえがき 27
   1.1 境界領域 27
   1.2 予備知識 28
   1.3 材料の性質と種類 29
第1章 誘電体 35
   1.1 序論 35
   1.2 凝縮物質の分極 37
    1.2.1 誘電体の静電方程式 37
    1.2.2 微視的アプローチと局部電界 39
    1.2.3 分極のメカニズム 39
   1.3 分極メカニズムの周波数依存性 41
    1.3.1 複素誘電関数 41
    1.3.2 誘電関数の周波数依存性 42
    1.3.3 共鳴現象 43
    1.3.4 緩和現象 45
   1.4 イオン結晶の分極波 50
    1.4.1 音響フォノンと光学フォノン 51
    1.4.2 極性光学フォノン 54
    1.4.3 ポラトリン 55
    1.4.4 ペロブスカイト形酸化物の特性振動 65
    1.4.5 チタン酸化合物の誘電率の温度依存性 67
    1.4.6 イオン結晶誘電率の電圧依存性 68
   1.5 誘電体の光学的性質 68
    1.5.1 平面電磁波 68
    1.5.2 共振器と導波モード 69
    1.5.3 吸収 70
    1.5.4 偏光、反射および屈折 72
    1.5.5 電気光学効果 75
   1.6 むすび 77
第2章 強誘電体 79
   2.1 序論 79
   2.2 自発分極 81
    2.2.1 対称性 81
    2.2.2 強誘電体の現象論 81
    2.2.3 反強誘電体 85
    2.2.4 焦電性 86
    2.2.5 圧電性 86
   2.3 強誘電体相転移の理論 88
    2.3.1 Ginzburg-Landauの理論 88
    2.3.2 変位性相転移のソフトモードによるアプローチ 93
   2.4 強誘電体材料 95
   2.5 強誘電体分域 101
    2.5.1 分域の起源 101
    2.5.2 バルクシステムの静的分域配置 102
    2.5.3 薄膜の静的分域配置 105
    2.5.4 誘電体の小信号に対する振る舞い 108
    2.5.5 可逆および非可逆分極の寄与 109
    2.5.6 強誘電体分域の反転 111
   2.6 まとめ 113
第3章 電子的性質と量子効果 117
   3.1 序論 117
   3.2 結晶中の電子の性質 118
    3.2.1 量子力学の基礎 118
    3.2.2 周期的結晶格子と電子のバンド構造:金属と半導体 122
    3.2.3 金属と半導体のFermi統計 130
   3.3 損失を伴う電子輸送:電気抵抗 135
   3.4 界面とヘテロ構造 139
   3.5 低次元構造 145
    3.5.1 閉じ込められた電子状態 145
    3.5.2 量子輸送 148
   3.6 超伝導 152
   3.7 むすび 159
第4章 磁気エレクトロニクス-層構造の磁性と磁気輸送 161
   4.1 まえがき 161
   4.2 表面と界面の特殊な異方性 162
    4.2.1 界面(表面)の異方性 164
    4.2.2 交換異方性 166
   4.3 層間交換結合(IEC) 170
    4.3.1 現象論的記述 170
    4.3.2 メソスコピック描像:量子井戸状態 173
   4.4 巨大磁気抵抗(GMR) 179
    4.4.1 現象論的記述 179
    4.4.2 微視的描像:スピンに依存する散乱 180
    4.4.3 巨大磁気抵抗効果の改善法 182
   4.5 トンネル磁気抵抗(TMR) 183
    4.5.1 現象論的記述:スピンに依存するトンネル効果 183
    4.5.2 界面と障壁材料の影響 184
    4.5.3 中間層と障壁材料の影響 186
   4.6 電流誘起の磁気スイッチング 187
    4.6.1 現象論的な記述 187
    4.6.2 微視的描像:スピンの蓄積 188
   4.7 まとめ 190
第5章 有機分子-電子構造、性質と反応 195
   5.1 まえがき 195
   5.2 炭化水素 195
   5.3 π共役システムの電子構造 201
    5.3.1 LCAO理論 201
    5.3.2 Huckelの近似 204
   5.4 官能基と分子構造 210
    5.4.1 官能基の種類と双極子モーメント 210
    5.4.2 らせん中心と立体異性体 215
   5.5 化学合成の原理 215
    5.5.1 置換反応 217
    5.5.2 付加反応 220
    5.5.3 脱離反応 223
    5.5.4 骨格転位反応 224
   5.6 まとめ 225
第6章 神経細胞-電気励起の分子的基礎 229
   6.1 神経細胞の構造と基礎的信号機能 229
   6.2 膜電位 235
   6.3 静止膜電位の決定要因 237
   6.4 活動電位の発生 242
   6.5 神経細胞の電気信号の記録 243
    6.5.1 電圧クランプ法 244
    6.5.2 パッチクランプ法 247
   6.6 軸索に沿った信号伝搬 248
   6.7 活動電位による神経伝達物質放出の誘発 251
   6.8 イオンチャンネルの分子構造と機能 253
   6.9 学習と記憶の生化学的側面 256
第7章 回路とシステムの設計 261
   7.1 まえがき 261
   7.2 MOSFET 262
   7.3 CMOS回路 263
    7.3.1 インバータ 263
    7.3.2 NANDゲート 265
    7.3.3 NORゲート 266
    7.3.4 組み合わせゲート 266
    7.3.5 3状態出力 268
    7.3.6 SRAMセル 268
   7.4 ディジタル回路 269
    7.4.1 フリップフロップ 269
    7.4.2 マルチプレクサ 271
    7.4.3 デマルチプレクサ 272
    7.4.4 バレルシフタ 272
    7.4.5 加算器 273
   7.5 論理アレイ 274
   7.6 回路シミュレーション 276
    7.6.1 回路モデル 277
    7.6.2 DC解析 277
    7.6.3 過渡解析 278
    7.6.4 AC解析 278
   7.7 マイクロプロセッサ 279
    7.7.1 マイクロプロセッサ・システム 279
    7.7.2 基本原理 280
    7.7.3 パイプライン化 281
    7.7.4 命令セット 282
    7.7.5 アドレス指定モード 283
    7.7.6 マイクロコントローラの例 284
   7.8 ディジタル信号プロセッサ 285
    7.8.1 DSPプロセッサの分類 286
    7.8.2 DSPプロセッサの特徴 286
    7.8.3 ディジタル信号プロセッサの例 289
   7.9 性能とアーキテクチャ 290
第II部 技術と分析 295
   第II部のまえがき 297
   II.1 技術の基本概念 297
   II.2 CMOS技術 299
   II.3 ナノテクノロジーのアプローチ 302
   II.4 分析法 309
第8章 薄膜堆積法 313
   8.1 まえがき 313
   8.2 薄膜堆積の基礎 314
    8.2.1 気体運動論 314
    8.2.2 熱力学 316
    8.2.3 薄膜成長モード 317
    8.2.4 連続薄膜における歪み緩和 321
   8.3 物理堆積法 322
    8.3.1 熱蒸着/分子線エピタキシ 322
    8.3.2 パルスレーザ堆積 327
    8.3.3 スパッタ堆積法 329
   8.4 化学堆積法 334
    8.4.1 化学蒸気堆積 335
    8.4.2 化学溶液堆積345
    8.4.3 Langmuir-Blodgett薄膜 347
   8.5 まとめ 350
第9章 露光法 355
   9.1 概観 355
   9.2 光露光 358
    9.2.1 照射法と解像限界 358
    9.2.2 露光波長と光源 366
    9.2.3 マスク材料と光学系 369
   9.3 極紫外露光 372
   9.4 X線露光 374
   9.5 電子ビーム露光 376
    9.5.1 電子ビーム直接描画 376
    9.5.2 SCALPEL 379
   9.6 イオンビーム露光 380
    9.6.1 集束イオンビーム 380
    9.6.2 イオン投影露光 381
   9.7 フォトレジスト 382
   9.8 複数枚のマスク合わせ 388
   9.9 ナノインプリント露光 390
   9.10 むすび 392
第10章 材料除去技術-エッチングと化学機械研磨 397
   10.1 まえがき 397
   10.2 エッチング法 398
    10.2.1 全体の状況 398
    10.2.2 ウェットエッチング 399
    10.2.3 ドライエッチング-基本的方法 401
    10.2.4 プラズマ発生 404
    10.2.5 反応器の種類 405
    10.2.6 ドライエッチングの典型的応用 410
    10.2.7 プラズマ診断法 417
    10.2.8 ドライエッチングの挑戦課題 420
    10.2.9 将来の動向 422
   10.3 CMP-化学機械研磨 425
    10.3.1 化学機械研磨のメカニズム 426
    10.3.2 誘電体の化学機械研磨 426
    10.3.3 金属の化学機械研磨 428
    10.3.4 市販化学機械研磨装置の構成 430
    10.3.5 終了点検出 431
    10.3.6 パッド 433
    10.3.7 スラリー 434
    10.3.8 化学機械研磨用後の清浄化 434
    10.3.9 化学機械研磨の問題点 435
    10.3.10 欠陥 436
    10.3.11 将来技術の動向と挑戦課題 436
第11章 回折法と蛍光法による分析 441
   11.1 まえがき 441
   11.2 X線分析法 444
    11.2.1 まえがき 444
    11.2.2 X線散乱実験の原理 447
    11.2.3 結晶のX線散乱 448
    11.2.4 例 : Si基板に埋め込まれたCoSi₂層 452
    11.2.5 小さなqにおけるX線散乱 456
    11.2.6 例 : 金属薄膜 458
    11.2.7 X線蛍光および吸収分光 458
   11.3 電子ビーム分析法 462
    11.3.1 まえがき 462
    11.3.2 電子光学系 462
    11.3.3 透過電子顕微鏡(TEM) 465
    11.3.4 走査電子顕微鏡(SEM) 468
    11.3.5 電子エネルギー損失分光(EELS) 472
   11.4 表面分析法 477
    11.4.1 まえがき 447
    11.4.2 2次イオン質量分析(SIMS) 478
    11.4.3 X線光電子分光(XPS)とAuger電子分光(AES) 480
    11.4.4 低エネルギー電子顕微鏡とその関連技術 483
   11.5 その他の方法 485
第12章 走査プローブ技術 489
   12.1 まえがき 489
   12.2 走査トンネル顕微鏡 491
    12.2.1 走査トンネル顕微鏡の理論的基礎 491
    12.2.2 走査トンネル顕微鏡の動作モード 497
    12.2.3 走査トンネル顕微鏡の作製 497
    12.2.4 走査トンネル顕微鏡の応用 499
   12.3 原子間力顕微鏡 502
    12.3.1 原子間力顕微鏡の理論的原理 503
    12.3.1 原子間力顕微鏡の動作原理 506
    12.3.3 原子間力顕微鏡の応用 509
   12.4 柔らかい有機あるいは生物試料の像形成 516
   12.5 原子と分子の操作 520
    12.5.1 横方向操作 520
    12.5.2 縦方向の操作 524
    12.5.3 トンネル電流の効果 526
    12.5.4 STMによる複雑な化学反応 528
第III部 論理デバイス 533
   第III部のまえがき 535
   III.1 論理デバイスの基礎 535
    III.1.1 論理デバイスへの要求条件 535
    III.1.2 論理ゲートの動的性質 541
    III.1.3 しきい値ゲート 541
   III.2 計算に対する物理的限界 543
   III.3 論理デバイスの概念 551
    III.3.1 分類 551
    III.3.2 2端子デバイス 553
    III.3.3 電界効果デバイス 554
    III.3.4 Coulombブロッケードデバイス 556
    III.3.5 スピントロニクス 559
    III.3.6 量子セルオートマトン 562
    III.3.7 量子計算 566
    III.3.8 DNAコンピュータ 568
   III.4 アーキテクチャ 569
    III.4.1 情報処理システムの柔軟性 570
    III.4.2 並列処理と粒度 574
    III.4.3 Teramac-ケーススタディ 577
   III.5 情報処理システムの性能 579
    III.5.1 基本的な2進演算 579
    III.5.2 性能の尺度 583
    III.5.3 生態神経細胞の処理能力 585
    III.5.4 人間の脳の性能推定 590
   III.6 究極の計算 592
    III.6.1 電力消費限界 592
    III.6.2 可逆計算における電力消費 596
第13章 シリコンMOSFET-新材料と新概念 605
   13.1 まえがき 605
   13.2 MOSFETデバイスの基礎 607
    13.2.1 MOSキャパシタ 607
    13.2.2 MOSFET 612
   13.3 スケーリング則 615
   13.4 2酸化シリコン系のゲート誘電体 619
    13.4.1 CMOSのための高誘電率材料 622
    13.4.2 誘電体特性 623
    13.4.3 熱力学 624
    13.4.4 電子的性質 625
    13.4.5 微細構造の安定性 626
    13.4.6 高誘電率材料の堆積法と化学 628
    13.4.7 処理の適用性 631
    13.4.8 高誘電率積層ゲート絶縁膜の例 632
   13.5 金属ゲート 635
    13.5.1 ポリシリコンと金属ゲート 635
    13.5.2 金属ゲートの材料選択 636
   13.6 接合とコンタクト 638
    13.6.1 浅い接合 638
    13.6.2 接合コンタクト 642
   13.7 先端的なMOSFETの概念 644
   13.8 まとめ 649
第14章 強誘電体電界効果トランジスタ 655
   14.1 まえがき 655
   14.2 強誘電体電界効果トランジスタの原理 656
    14.2.1 強誘電体電界効果トランジスタの構造設計と材料特性 659
    14.2.2 シリコン直上の強誘電体 660
    14.2.3 強誘電材料とシリコンの間のバッファ層 662
    14.2.4 金属・強誘電体・金属浮遊ゲート構造 663
    14.2.5 導電性酸化物上の金属・強誘電体 664
   14.3 強誘電体FETの電気特性 664
    14.3.1 MFIS構造 666
    14.3.2 MFMIS構造 669
    14.3.3 強誘電体FETの最適化 673
   14.4 強誘電体FETセルの設計とデバイスのモデル化 676
    14.4.1 強誘電体FETのデバイスシミュレーション 676
    14.4.2 強誘電体FETに対する1T2Cセル設計 679
    14.4.3 擾乱のない動作が可能な強誘電体FETメモリの概念 680
   14.5 強誘電体FETを用いた神経回路網 682
   14.6 まとめと展望 683
第15章 共鳴トンネリングに基づく量子輸送デバイス 687
   15.1 まえがき 687
   15.2 電子のトンネル現象 688
    15.2.1 伝達行列法 688
   15.3 共鳴トンネルダイオード 693
    15.3.1 共鳴特性 693
    15.3.2 電量電圧特性 694
    15.3.3 界面と成長温度 697
   15.4 共鳴トンネルデバイス 699
    15.4.1 共鳴トンネルダイオードの動作速度 699
    15.4.2 共鳴トンネルダイオードの応用 702
   15.5 まとめと展望 715
第16章 論理応用のための単電子デバイス 719
   16.1 まえがき 719
   16.2 単電子デバイス 720
    16.2.1 単電子ボックス 720
    16.2.2 単電子トランジスタ 724
    16.2.3 他の単電子デバイス 731
    16.2.4 単電子デバイスの作製 731
   16.3 単電子デバイスの論理回路への応用 734
    16.3.1 まえがき 734
    16.3.2 回路シミュレーションのための単電子トランジスタの解析モデル 735
    16.3.3 単電子トランジスタを有する論理回路 741
   16.4 将来の方向 747
第17章 超伝導ディジタルエレクトロニクス 751
   17.1 まえがき 751
   17.2 Josephson接合 752
    17.2.1 Josephson効果 : 基礎 752
    17.2.2 RSJモデル 754
    17.2.3 接合パラメータ 755
   17.3 電圧状態論理 756
    17.3.1 スイッチング特性 756
    17.3.2 論理ゲート 757
    17.3.3 メモリ素子 758
   17.4 単一磁束量子論理 759
    17.4.1 単一磁束量子の基礎 759
    17.4.2 単一磁束量子論理ゲート 761
   17.5 超伝導集積回路技術 765
    17.5.1 低温超伝導体技術 765
    17.5.2 高温超伝導体技術 767
   17.6 高速単一磁束量子論理の現状 769
    17.6.1 直近の応用 769
    17.6.2 将来の応用の展望 771
    17.6.3 高温超伝導による高速単一磁束量子の実装 772
   17.7 まとめ 773
第18章 超伝導による量子計算 777
   18.1 量子計算の原理 777
   18.2 qビットによる計算 779
   18.3 qビット : その実現法 781
   18.4 なぜ超伝導体か? 783
   18.5 電荷qビット 784
   18.6 磁束qビット 788
   18.7 他のqビット 791
   18.8 コヒーレンス劣化のメカニズム 792
   18.9 展望 793
第19章 データ処理のためのカーボンナノチューブ 797
   19.1 まえがき 797
   19.2 電子的性質 799
    19.2.1 幾何学的構造 799
    19.2.2 グランフェンの電子構造 800
    19.2.3 カーボンナノチューブの電子構造 801
    19.2.4 輸送特性 805
    19.2.5 コンタクト 810
   19.3 カーボンナノチューブの合成 812
    19.3.1 合成法 812
    19.3.2 成長メカニズム 815
    19.3.3 加工と官能化 817
    19.3.4 ナノチューブ列の実装とナノ回路 818
   19.4 カーボンナノチューブ配線 820
    19.4.1 ビアにおけるナノチューブ 822
    19.4.2 最大電流密度と信頼性 823
    19.4.3 ナノチューブ中の信号伝搬
   19.5 カーボンナノチューブ電界効果トランジスタ(CNTFET) 824
    19.5.1 MOSFETとの比較 824
    19.5.2 ナノチューブの調整 825
    19.5.3 バックゲート付きカーボンナノチューブ電界効果トランジスタ 828
    19.5.4 相補形カーボンナノチューブデバイス 829
    19.5.5 孤立バックゲートデバイス 831
    19.5.6 孤立トップゲートデバイス 832
    19.5.7 Si MOSFETと拡大カーボンナノチューブFETの比較 833
    19.5.8 カーボンナノチューブ回路 835
   19.6 メモリ応用のためのナノチューブ 837
    19.6.1 カーボンナノチューブSRAM 837
    19.6.2 他のメモリー概念 837
   19.7 全カーボンナノチューブナノエレクトロニクスの展望 841
第20章 分子エレクトロニクス 847
   20.1 まえがき 847
   20.2 電極とコンタクト 850
   20.3 機能 852
    20.3.1 分子ワイヤ,絶縁体,および配線 853
    20.3.2 ダイオード 855
    20.3.3 スイッチと記憶素子 858
    20.3.4 3端子デバイス 862
   20.4 分子エレクトロニクスデバイス-最初のテストシステム 864
    20.4.1 走査プローブ法 864
    20.4.2 単分子膜デバイス 867
    20.4.3 ナノポアの概念 871
    20.4.4 機械的に制御された破壊接合 872
    20.4.5 エレクトロマイグレーション法 876
   20.5 シミュレーションと回路設計 877
    20.5.1 理論的側面 877
    20.5.2 分子ナノ回路の設計ルール 881
   20.6 作製 883
    20.6.1 化学合成 883
    20.6.2 集積化プロセス 887
   20.7 まとめと展望 887
著者紹介 895
略語集 901
索引 913
第 IV 部 ランダムアクセスメモリー 1
第IV 部のまえがき 3
   IV.1 ランダムアクセスデバイスの定義 3
   IV.2 記憶の物理的原理 6
   IV.3 タイミング方式 10
   IV.4 スケーリングの一般傾向と将来のメモリ世代 12
第21章 DRAM のための高誘電率材料 19
   21.1 まえがき 19
   21.2 DRAM セルの基本動作 21
   21.3 Gb DARM キャパシタへの挑戦 24
   21.4 高誘電率誘電体の性質 26
    21.4.1 DARM に対する要求条件 27
    21.4.2 電界依存症 28
    21.4.3 温度依存症 29
    21.4.4 微細構造依存症 30
    21.4.5 厚さ依存症 31
    21.4.6 周波数依存症 35
   21.5 キャパシタ電荷の安定性とセルの信頼性 36
    21.5.1 緩和電流 37
    21.5.2 漏れ電流のメカニズム 39
    21.5.3 抵抗劣化と絶縁破壊 42
   21.6 集積化の側面 43
   21.7 DARM における高誘電率材料 48
    21.7.1 新誘電材料実装の状況 48
    21.7.2 ロードマップの目標に向けた傾向 53
    21.7.3 別の高誘電体材料 56
第22章 強誘電体ランダムアクセスメモリ 63
   22.1 まえがき 63
    22.1.1 強誘電体不揮発生メモリ 65
    22.1.2 最新技術 66
   22.2 FeRAM の回路設計 68
    22.2.1 書き込み法 69
    22.2.2 読み出し法 70
    22.2.3 参照電圧 73
    22.2.4 メモリ構成 74
   22.3 強誘電体薄膜の性質 78
    22.3.1 一般論 78
    22.3.2 強誘電性のスイッチング 79
    22.3.3 厚さの効果 83
   22.4 薄膜の集積化 85
    22.4.1 一般的側面 85
    22.4.2 電極 88
    22.4.3 集積化の特別な話題 89
   22.5 劣化メカニズム 94
    22.5.1 分極疲労 94
    22.5.2 保持特性劣化 96
    22.5.3 刷り込み 97
   22.6 新たな挑戦課題 101
    22.6.1 高分子強誘電体 RAM 101
    22.6.2 将来のトレンド 103
   22.7 まとめ 105
第23章 磁気抵抗 RAM 109
   23.1 まえがき 109
   23.2 磁気 RAM デバイスの実装 111
    23.2.1 単一トランジスタ・単一TMR 磁気 RAM デバイス 113
    23.2.2 他の磁気 RAM セル構造 115
    23.2.3 磁気 RAM メモリ回路構成 117
   23.3 磁気 RAM デバイスの磁気的安定性 119
    23.3.1 磁気素子の熱活性反転 120
    23.3.2 スイッチングで誘起される減磁 125
   23.4 超高速磁化反転 133
   23.5 まとめの展望 135
第 V 部 大容量記憶デバイス 139
   第 V 部のまえがき 141
   V.1 定義 141
   V.2 記憶の物理的原理 143
    V.2.1 分類 143
    V.2.2 次元性 145
    V.2.3 初期の機械式記憶媒体 145
    V.2.4 磁気テープとディスク 147
    V.2.5 コンパクトディスク系のシステム 148
   V.3 分散記憶 153
第24章 ハードディスク 155
   24.1 まえがき 155
   24.2 磁気ハードディスクドライブ 156
   24.3 電磁誘導書き込みヘッド 158
    24.3.1 構成 158
    24.3.2 書き込み磁界の計算 158
    24.3.3 書き込みヘッド材料 162
   24.4 磁気記録媒体 162
    24.4.1 薄膜ディスク 162
    24.4.2 巨視的性質 163
    24.4.3 微視的性質 165
    24.4.4 熱的安定性 166
    24.4.5 反強磁性結合 (AFC) 媒体 167
   24.5 磁気読み出しヘッド 168
   24.6 ヘッド・ディスクインタフェース 172
   24.7 将来の動向 174
    24.7.1 垂直記録 175
    24.7.2 パターン化媒体 175
    24.7.3 自己組織化粒子媒体 177
    24.7.4 熱アシストによる記録 177
    24.7.5 トンネル磁気抵抗センサ 178
    24.7.6 コンタクト記録 178
    24.7.7 小形ドライブ 178
   24.8 まとめ 179
第25章 磁気光学ディスク 181
   25.1 まえがき 181
   25.2 磁気光学データ記憶の原理 182
   25.3 材料特性 185
   25.4 交換結合層の適応 188
    25.4.1 基本原理 188
    25.4.2 光変調オーバライト (LIM-DOW) 190
    25.4.3 磁気超解像 (MSR) 191
   25.5 まとめ展望 193
第26章 相変化材料系も書き換え可能 DVD 195
   26.1 まえがきと相変化材料の原理 195
   26.2 相転移の速度 198
    26.2.1 相転移の駆動力 198
    26.2.2 核形成と成長 199
   26.3 相変化媒体への要求条件 203
   26.4 相変化材料の現状 206
    26.4.1 書き込みプロセス 206
    26.4.2 消去プロセス 207
   26.5 記憶密度の向上 209
   26.6 相変化ランダムアクセスメモリ 211
   26.7 まとめ 214
第27章 ホログラフィックデータ記憶 217
   27.1 まえがき 217
   27.2 ホログラフィック情報記憶の基礎 218
   27.3 光プロセス 224
    27.3.1 ホログラフィック回折格子の書き込み 224
    27.3.2 ホログラフィック回折格子の読み出し 225
    27.3.3 Bragg 入射の不整合 227
    27.3.4 多重化の概念 229
    27.3.5 書き込みの配置 232
    27.3.6 ビット誤り率 234
    27.3.7 M#数 236
   27.4 無機材料 237
    27.4.1 基礎 237
    27.4.2 鉄添加ニオブ酸リチウム 238
    27.4.3 光誘起屈折率効果 239
    27.4.4 展望 : パルスホログラフィ 247
   27.5 光アドレス形高分子 248
    27.5.1 まえがき 248
    27.5.2 アゾペンゼンの光化学 250
    27.5.3 アゾペンゼンを含む高分子 251
    27.5.4 液晶側鎖高分子 251
    27.5.5 光記憶用の光アドレス形高分子 252
    27.5.6 光アドレス形高分子のホログラフィック測定 258
   27.6 展望 260
第28章 AFM による大容量記憶- 「ミリピード」 の構想 267
   28.1 まえがき、動機、目的 267
   28.2 ミリピード構想 269
   28.3 熱機械的 AFM データ記憶 271
   28.4 高分子媒体 274
   28.5 アレイの設計・技術・製作 279
   28.6 アレイの特性評価 283
   28.7 32×32 アレイチップを用いた最初の書き込み・読み出し実験 286
   28.8 データ記憶へのミリピードの応用の可能性 288
   28.9 まとめ展望 290
第 VI 部 データ伝送とインタフェース 295
   第 VI 部のまえがき 297
   VI.1 信号伝送 297
   VI.2 信号の種類と伝送の限界 298
   VI.3 ベースバンド伝送 - 伝送線路 301
   VI.4 キャリア伝送 - 伝送システム 304
    VI.4.1 Shannon の通信モデル 304
    VI.4.2 チャンネル容量とキャリア変調 305
    VI.4.3 情報源符号化 307
    VI.4.4 チャンネル符号化 308
    VI.4.5 線路符号化と変調 309
第29章 チップとボードレベルの伝送 315
   29.1 まえがき 315
   29.2 オンチップ配線技術 317
   29.3 チップと基板の配線 321
    29.3.1 チップ配線技術 321
    29.3.2 フリップチップボンディング 326
    29.3.3 テープオートメーテッドボンディング 328
    29.3.4 比較 329
   29.4 ボールグリッドアレイ 330
   29.5 マルチチップモジュール 331
   29.6 3次元パッケージ 332
   29.7 まとめ 334
第30章 光ネットワーク 337
   30.1 まえがき 337
    30.1.1 全体のあらまし 337
    30.1.2 光波システムに使う材料 340
   30.2 光ファイバ中の光の伝搬 342
    30.2.1 光導波路 342
    30.2.2 光ファイバ 346
    30.2.3 波長分割多重化 349
   30.3 光源 353
   30.4 光検出器 358
   30.5 光増幅器 363
   30.6 スイッチと変調器 366
    30.6.1 スイッチングデバイスの2つの基本機能 366
    30.6.2 MEMS - 微小電気機械システム 367
    30.6.3 光強誘電体 367
    30.6.4 音響光学デバイス 371
   30.7 まとめ 375
第31章 マイクロ波通信システム - 受動デバイスの新動向 379
   31.1 まえがき 379
   31.2 マイクロ波通信システムの重要な特性 380
    31.2.1セルラ通信 381
    31.2.2 衛星通信と固定通信 383
   31.3 マイクロ波共振デバイスの基本的性質 385
    31.3.1 電磁波共振器 385
    31.3.2 有極形フィルタ 390
   31.4 金属、超伝導体、誘電体材料のマイクロ波特性 392
    31.4.1 通常金属の表面インピーダンス 393
    31.4.2 高温超伝導薄膜の表面インピーダンス 394
    31.4.3 誘電体単結晶、セラミックおよび薄膜のマイクロ波特性 396
   31.5 マイクロ波通信システムの新受動デバイス 403
    31.5.1 誘電体フィルタ 403
    31.5.2 高温超伝導平面フィルタとサブシステム 406
   31.6 マイクロ波用の微小機械 : RF MEMS とFBAR 408
   31.7 フォトニックバンドギャップ構造 411
   31.8 まとめ 415
第32章 神経電子インタフェース - イオンチャンネル、神経細胞、および脳を有する半導体チップ 419
   32.1 まえがき 419
   32.2 イオン・電子インタフェース 421
    32.2.1 平面コア・コート伝導体 423
    32.2.2 細胞・シリコン接合の間隙 427
    32.2.3 間隙の伝導度 430
    32.2.4 細胞・シリコン接合におけるイオンチャンネル 439
   32.3 神経細胞・シリコン回路 443
    32.3.1 神経細胞活動のトランジスタ記録 444
    32.3.2 神経細胞活動の容量性刺激 449
    32.3.3 シリコンチップ上の2神経細胞回路 454
    32.3.4 規定された神経細胞ネットワークに向けて 461
   32.4 脳・シリコンチップ 465
    32.4.1 組織・シート伝導体 466
    32.4.2 脳スライスのトランジスタ記録 468
    32.4.3 脳スライスの容量性刺激 470
   32.5 まとめと展望 472
第 VII 部 センサアレイと画像システム 475
   第 VII 部のまえがき 477
   VII.1 センサの分類と物理的原理 477
   VII.2 電子センサアレイ 480
   VII.3 生物センサアレイ 483
    VII.3.1 視覚 483
    VII.3.2 嗅覚 485
    VII.3.3 触覚 456
第33章 光3次元飛行時間形画像化システム 489
   33.1 まえがき 489
   33.2 3次元光技術の分類 490
   33.3 CMOS 画像化 492
   33.4 CMOS 3次元飛行時間画像センサ 495
   33.5 応用例 501
   33.6 まとめ 501
第34章 赤外画像化のための焦電検出器アレイ 505
   34.1 まえがき 505
   34.2 焦電赤外検出器の動作原理 507
    34.2.1 焦電応答 507
    34.2.2 雑音と検出能 511
    34.2.3 数値例 514
    34.2.4 熱波長効果 514
    34.2.5 熱画像のための焦点面アレイの特性 516
   34.3 焦電材料 517
   34.4 デバイス製作、評価とプロセスの問題 520
    34.4.1 製作技術 520
    34.4.2 読み出し集積回路 526
   34.5 まとめ 529
第35章 電子嗅覚 533
   35.1 まえがき 533
   35.2 ガスセンサ素子の動作原理 533
    35.2.1 熱量測定センサ 534
    35.2.2 電気化学セル 535
    53.2.3 表面およびバルク弾性波デバイス 536
    35.2.4 ガス感受性 FET 538
    35.2.5 半導体抵抗ガスセンサ 539
   35.3 電子嗅覚 542
   35.4 信号評価 543
   35.5 実現例 544
    35.5.1 有害溶剤やガスの同定 544
    35.5.2 半導体センサアレイ - KAMINA 546
    35.5.3 食品の香りの検出 547
    35.5.4 食品のローストプロセスの監視 548
   35.6 まとめと展望 551
第36章 2次元触覚センサと触覚センサアレイ 555
   36.1 まえがき 555
   36.2 定義と分類 556
   36.3 抵抗形タッチスクリーン 560
   36.4 超音波形タッチスクリーン 563
   36.5 ロボット触覚センサ 566
   36.6 指紋センサ 568
    36.6.1 まえがき 568
    36.6.2 容量形指紋センサの原理 570
    36.6.3 指紋照合処理を統合化した単一チップ指紋センサアレイ 570
    36.6.4 センサ構造と製作プロセス 572
   36.7 まとめと展望 576
第VIII 部 ディスプレイ 581
   第 VIII 部のまえがき 583
   VIII.1 定義 583
   VIII.2 測光 585
   VIII.3 人間の視感度 586
   VIII.4 色彩理論 588
   VIII.5 ディスプレイの概念とアドレス法 590
   VIII.6 3次元ディスプレイの概念 591
    VIII.6.1 眼鏡を使う立体視 592
    VIII.6.2 裸眼立体視 593
    VIII.6.3 今後のアプローチ 594
第37章 液晶ディスプレイ 597
   37.1 まえがき 597
   37.2 液晶材料 599
    37.2.1 液晶の物理的性質 599
    37.2.2 液晶の化学 605
   37.3 ねじれネマティックセル 607
   37.4 液晶ディスプレイのアドレス指定 611
    37.4.1動的 (多重化) アドレス指定 611
    37.4.2 グレイスケールとカラーの発生 615
   37.5 高解像度ディスプレイのためのセル 616
    37.5.1 超ねじれネマティックセル 616
    37.5.2 能動マトリクスディスプレイ 619
   37.6 バックライト 622
   37.7 反射形液晶ディスプレイ 623
    37.7.1 2偏光子反射形液晶ディスプレイ 625
    37.7.2 偏光子のない反射形液晶ディスプレイ 625
    37.7.3 単一偏光子反射形液晶ディスプレイ 626
    37.7.4 反射板 627
   37.8 半透過形ディスプレイ 629
   37.9 投影形ディスプレイ 630
    37.9.1 透過形ディスプレイ 630
    37.9.2 反射形ディスプレイ 631
   37.10 新しい液晶ディスプレイの原理 633
    37.10.1 強誘電性液晶 633
   37.11 まとめ 638
第38章 有機発光デバイス 643
   38.1 まえがき 643
   38.2 有機半導体 646
    38.2.1 独立分子と van der Waals 分子結晶 646
    38.2.2 吸収、励起子拡散、および蛍光 647
    38.2.3 電荷キャリアの輸送 649
   38.3 有機発光ダイオード 650
    38.3.1 効率的な有機発光ダイオードの必要条件 650
    38.3.2 単層および 2 層有機発光ダイオード 652
    38.3.3 蛍光不純物を用いたデバイス効率の改善 653
    38.3.4 高効率の燐光有機発光ダイオード 654
    38.3.5 不純物添加電荷輸送層のよる低電圧化 658
   38.4 有機ディスプレイ 663
    38.4.1 受動および能動マトリクスディスプレイ 663
    38.4.2 パターン化技術 664
    38.4.3 展望 : 透明、積層、および可撓性有機発光ダイオード 665
第39章 電解放出とプラズマディスプレイ 671
   39.1 まえがき 671
   39.2 電解放出ディスプレイ (FED) 672
    39.2.1 電界放出ディスプレイの基本原理 672
    39.2.2 電界放出ディスプレイの陰極と陰極材料 674
    39.2.3 電界放出ディスプレイの蛍光スクリーン 678
    39.2.4 電界放出ディスプレイのマトリクスアドレス指定 686
    39.2.5 電界放出ディスプレイの性能と展望 687
   39.3 プラズマディスプレイパネル(PDP) 688
    39.3.1 プラズマディスプレイパネルの放電 690
    39.3.2 プラズマディスプレイパネルの動作原理 693
    39.3.3 プラズマディスプレイパネルの設計と製造 695
    39.3.4 プラズマディスプレイパネルのセルにおける高γコーティング 696
    39.3.5 プラズマディスプレイパネル用の蛍光体 702
    36.3.6 プラズマディスプレイパネルの性能と展望 709
   39.4 まとめ 711
第40章 電子ペーパ 717
   40.1 まえがき 717
   40.2 微小粒子系ディスプレイ 718
    40.2.1 電気泳動ディスプレイ 718
    40.2.2 回転球ディスプレイ 727
    40.2.3 懸濁粒子ディスプレイ 729
   40.3 紙状ディスプレイの代替技術 730
    40.3.1 直視形反射液晶ディスプレイ 730
    40.3.2 双安定性液晶ディスプレイ 731
    40.3.3 微小機械系ディスプレイ 732
   40.4 フレキシブル背面版の電子回路 733
    40.4.1 印刷可能な集積回路 734
    40.4.2 流体的自己集積化 736
   40.5 展望と将来像 737
著者紹介 741
略語集 747
索引 759
まえがき i
第2版のまえがき ix
訳者まえがき xi
6.

図書

東工大
目次DB

図書
東工大
目次DB
三好旦六, 小川真人, 土屋英昭共著
出版情報: 東京 : 培風館, 2007.11  vii, 261p ; 22cm
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   注 : g[R]の[R]は上つき文字
   注 : sp[3]s[*]の[3]、[*]は上つき文字
   注 : sp[3]d[5]s[*]の[3]、[5]、[*]は上つき文字
   
I編 序論
1 ナノエレクトロニクス序論 1
   1.1 はじめに 1
   1.2 ナノエレクトロニクスの発展 2
    1.2.1 メゾスコピック物理現象発現デバイス 2
    1.2.2 単一電子トンネリング 2
    1.2.3 超格子デバイス 3
    1.2.4 ナノMOS-FET 3
    1.2.5 カーボンナノチューブ 4
    1.2.6 ナノ構造デバイスの分類 5
   1.3 ナノ構造量子輸送モデルの概要 6
    1.3.1 半古典的ボルツマン輸送方程式 6
    1.3.2 量子輸送モデルの発展 8
    1.3.3 散乱理論 10
    1.3.4 非平衡グリーン関数法(NEGF法) 14
    1.3.5 ウイグナー関数法 21
    1.3.6 非平衡量子輸送モデルの体系 22
   1.4 ナノ構造電子状態の概要 23
    1.4.1 原子軌道,分子軌道,バンド構造 23
    1.4.2 ナノ構造のサブバンド 24
   付録A 26
    A.1 アハラノフ-ボーム効果 26
    A.2 クーロンブロッケード 27
    A.3 カーボンナノチューブ 30
    A.4 電極の平衡遅延グリーン関数g[R] 34
   引用・参考文献 35
Ⅱ編 ナノ構造の電子状態
2 強束縛近似法 38
   2.1 はじめに 38
   2.2 強束縛近似法 39
    2.2.1 一次元強束縛近似モデル 40
    2.2.2 三次元多バンドモデル 46
    2.2.3 sp[3]s[*]基底の閃亜鉛鉱結晶とダイヤモンド結晶のバルクハミルトニアン 49
    2.2.4 sp[3]d[5]s[*]基底の閃亜鉛鉱結晶とダイヤモンド結晶のバルクハミルトニアン 51
    2.2.5 スピン軌道相互作用の考慮 52
   2.3 ナノ構造(薄膜)へのTB法の応用 57
    2.3.1 量子閉じ込め状態のハミルトニアンの導出 57
    2.3.2 終端の取り扱い 58
    2.3.3 薄膜構造の解析例 62
   付録A スレーター・コスターパラメータ 65
    A.1 方向余弦 65
    A.2 閃亜鉛鉱型結晶の基本ベクトルと最近接原子位置 66
    A.3 重なり積分(二中心積分)の計算 67
   付録B 量子閉じ込め構造のハミルトニアンの行列要素 72
   引用・参考文献 75
3 K・p摂動法 76
   3.1 はじめに 76
   3.2 K・p摂動法理論 77
    3.2.1 閃亜鉛鉱構造とダイヤモンド構造の対称性 78
    3.2.2 スピン軌道相互作用を考慮しない場合 79
    3.2.3 スピン-軌道相互作用を考慮した場合 86
    3.2.4 ケインのパラメータと双極子モーメントとの関係 94
   3.3 強束縛近似ハミルトニアンとの対応 96
   3.4 バンド構造に対する歪の効果 99
    3.4.1 応力テンソルと歪テンソル 99
    3.4.2 バンド構造への歪の影響 103
   3.5 量子構造への応用 106
    3.5.1 有効質量方程式 106
    3.5.2 結晶方位変換 109
    3.5.3 量子構造への応用例 113
   付録A 双極子モーメントと運動量期待値の関係 120
   付録B 縮退を含む場合の摂動論 121
   引用・参考文献 124
4 第一原理計算法 126
   4.1 はじめに 126
   4.2 断熱近似 126
   4.3 第一原理計算法 129
   4.4 ハートレー・フォック法 130
    4.4.1 ハートレー・フォック方程式 130
    4.4.2 スレーターの交換ポテンシャル 132
   4.5 密度汎関数法 134
    4.5.1 局所密度近似 136
    4.5.2 コーン・シャム方程式 136
    4.5.3 交換相関ポテンシャル 137
    4.5.4 平面波展開法 139
    4.5.5 カー・パリネロ法(Car-Parrinello method) 142
   4.6 シリコンナノ構造への適用例 145
    4.6.1 ナノスケールシリコン薄膜の電子状態解析 145
    4.6.2 シリコンナノワイヤの電子状態解析 148
   付録A 152
    A.1 式(4.18)の積分計算 152
    A.2 式(4.21)の積分計算 153
    A.3 ホーエンベルグとコーンの定理の証明 153
    A.4 交換相関エネルギーの汎関数微分 154
   引用・参考文献 155
Ⅲ編 ナノ構造の量子輸送
5 非平衡グリーン関数法 157
   5.1 はじめに 157
   5.2 非平衡グリーン関数法 157
    5.2.1 自己無撞着場の方法 157
    5.2.2 ハミルトニアンと密度行列 159
    5.2.3 正規直交基底による表現 161
    5.2.4 平衡状態の密度行列とグリーン関数 164
    5.2.5 非平衡状態の密度行列とグリーン関数 170
    5.2.6 多バンド強束縛近似非平衡グリーン関数法 173
    5.2.7 二次元デバイスの解析 181
    5.2.8 非平衡グリーン関数法による量子輸送シミュレーション 186
   5.3 非直交基底に基づく非平衡グリーン関数輸送理論 192
    5.3.1 非直交基底による孤立系の電子状態計算 193
    5.3.2 平衡状態における分子デバイスの電子状態 195
    5.3.3 非平衡状態における分子デバイスの電子状態 202
    5.3.4 散乱のある場合への拡張 205
    5.3.5 非直交基底による電流の計算 206
    5.3.6 強束縛近似法との関係 209
   付録A 210
    A.1 一次元の場合の境界自己エネルギーの計算 210
    A.2 多バンド強束縛近似ハミルトニアンの行列要素 211
   引用・参考文献 212
6 ウィグナー関数法 215
   6.1 はじめに 215
   6.2 ウィグナー関数モデル 215
    6.2.1 量子力学的ボルツマン方程式(ウィグナー輪送方程式) 215
    6.2.2 古典的極限 219
    6.2.3 自己無撞着計算 220
    6.2.4 有限差分法による離散化 220
    6.2.5 境界条件 224
    6.2.6 ヘテロ構造への拡張 225
    6.2.7 ウィグナー輪送モデルの適用例 226
   6.3 量子補正モンテカルロ法 233
    6.3.1 量子補正ボルツマン方程式 234
    6.3.2 Si-MOSFETの量子補正モンテカルロシミュレーション 238
    6.3.3 ナノスケールMOSFETへの適用例 242
   付録A 249
    A.1 ウィグナー輪送方程式の導出 250
    A.2 連続の式 251
    A.3 式(6.36)の導出 251
    A.4 シュレディンガー・ポアソン法 252
   引用・参考文献 254
索引 257
   注 : g[R]の[R]は上つき文字
   注 : sp[3]s[*]の[3]、[*]は上つき文字
   注 : sp[3]d[5]s[*]の[3]、[5]、[*]は上つき文字
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