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1.

図書
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1. Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends
A. Benninghoven, F.G. Rüdenauer, H.W. Werner
出版情報: New York : John Wiley & Sons, c1987  xxxv, 1227 p. ; 24 cm
シリーズ名: Chemical analysis ; v. 86
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Ion-Solid Interaction
Aspects of Quantitative Elemental Sims-Analysis
Instrumentalion
Operational Modes
Application of Sims
Comparison of Sims with Other Analytical Techniques
Developments
Appendix B / Appendix A：
Index
Ion-Solid Interaction
Aspects of Quantitative Elemental Sims-Analysis
Instrumentalion
2.

図書
図書
2. Secondary ion mass spectrometry : SIMS VI
editors A. Benninghoven, A.M. Huber, H.W. Werner
出版情報: Chichester : Wiley, c1988  xxvii, 1078 p. ; 24 cm
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