1997 2nd International Workshop on Statistical Metrology, June 8, 1997, Kyoto | 東京工業大学附属図書館蔵書検索

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1997 2nd International Workshop on Statistical Metrology, June 8, 1997, Kyoto / sponsored by IEEE Electron Devices Society and in cooperation with Japan Society of Applied Physics ... [et al.]

資料種別:

図書

出版情報:

[New York] : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1997

形態:

vi, 124 p. ; 28 cm

著者名:

ISBN:

9780780337374 [0780337379]

書誌ID:

BA43633578

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書誌詳細

その他の標題:	97TH8246
注記:	"IEEE cat. no. 97TH8246." Includes bibliographical references
著者名ヨミ:	オウヨウブツリガッカイ
主題:	Semiconductors--Characterization--Statistical methods--Congresses; Semiconductors--Measurement--Congresses
言語:	英語

東工大ブックレビュー

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