| 第1章 ULSI設計技術総論 |
| 1.1 はじめに 1 |
| 1.2 ULSIへの道のり 2 |
| 1.3 システムULSIの展望 12 |
| 1.4 ULSI時代の設計技術の課題 17 |
| 第2章 ASIC設計技術 |
| 2.1 ASICの回路技術 24 |
| 2.1.1 CMOS回路 24 |
| 2.1.2 ECL(CML)回路 31 |
| 2.1.3 BiCMOS回路 34 |
| 2.1.4 回路技術の選択 37 |
| 2.2 ASICの分類と発展の歴史 38 |
| 2.2.1 ASICの分類 38 |
| 2.2.2 ASIC発展の歴史 40 |
| 2.3 ASIC実現方式の種類と特長 42 |
| 2.3.1 ASIC設計の流れ 42 |
| 2.3.2 ゲートアレー 43 |
| 2.3.3 セルベース(スタンダードセル)方式 50 |
| 2.3.4 フルカスタム方式 55 |
| 2.3.5 フィールドプログラマブルデバイス 55 |
| 2.3.6 その他の設計方式 57 |
| 2.4 ASIC設計の最新技術と今後の展望 58 |
| 2.4.1 性能追求設計技術 58 |
| 2.4.2 設計TAT短縮技術 62 |
| 第3章 メモリ設計技術 |
| 3.1 DRAM 67 |
| 3.1.1 概要 67 |
| 3.1.2 メモリセル 68 |
| 3.1.3 回路構成 69 |
| 3.1.4 DRAMの課題とその対策 73 |
| 3.2 スタティックRAM 77 |
| 3.2.1 スタティックRAMの特長と用途 77 |
| 3.2.2 CMOS SRAMの基本動作、および回路技術 78 |
| 3.2.3 BiCMOS SRAMの回路技術 86 |
| 3.2.4 今後の展望 89 |
| 3.3 不揮発性メモリ 91 |
| 3.3.1 データの読出し 91 |
| 3.3.2 各不揮発性メモリの構造 93 |
| 3.3.3 各不揮発性メモリの特長と高集積化への課題 98 |
| 3.4 ASM 100 |
| 3.4.1 マルチポートDRAM 100 |
| 3.4.2 擬似SRAM 107 |
| 3.4.3 フィールドメモリ 108 |
| 3.4.4 ラインメモリ 109 |
| 3.4.5 その他のASM 109 |
| 第4章 マイクロプロセッサ設計技術 |
| 4.1 マイクロプロセッサの動作の概要 114 |
| 4.2 マイクロプロセッサの技術動向 115 |
| 4.3 アーキテクチャの設計 117 |
| 4.4 機能設計技術 123 |
| 4.5 並列処理技術 126 |
| 4.6 RISC 128 |
| 4.6.1 コンピュータ技術とVLSI技術 128 |
| 4.6.2 RISCのアーキテチャ 129 |
| 4.6.3 RISCの構成例 130 |
| 4.7 TRON仕様マイクロプロセッサ 131 |
| 4.7.1 アーキテクチャ 132 |
| 4.7.2 TRON仕様マイクロプロセッサチップ実現例 134 |
| 第5章 DSP設計技術 |
| 5.1 はじめに 139 |
| 5.2 汎用DSPと専用DSP 140 |
| 5.2.1 DSPの概要 140 |
| 5.2.2 DSPの構成 141 |
| 5.2.3 DSPの動作タイミング 144 |
| 5.2.4 DSPの非巡回形ディジタルフィルタへの応用 145 |
| 5.2.5 プログラム開発 147 |
| 5.2.6 16タップ非巡回形ディジタルフィルタの実現 148 |
| 5.3 DSPの設計 155 |
| 5.3.1 アーキテクチャ設計 155 |
| 5.3.2 回路設計 157 |
| 5.4 おわりに 183 |
| 第6章 アナログ回路設計技術 |
| 6.1 集積回路におけるアナログ回路の制限 186 |
| 6.2 アナログ集積回路の基本回路 189 |
| 6.2.1 直流電流源とカレントミラー 190 |
| 6.2.2 差動増幅回路 193 |
| 6.2.3 能動負荷回路 196 |
| 6.2.4 レベルシフト回路 197 |
| 6.3 演算増幅器 199 |
| 6.3.1 演算増幅器の基本構成 199 |
| 6.3.2 汎用演算増幅器の回路技術 200 |
| 6.3.3 演算増幅器の応用 203 |
| 6.4 アナログ集積回路の発振防止対策 206 |
| 6.4.1 増幅回路の周波数特性 206 |
| 6.4.2 帰還回路の安定性 207 |
| 6.4.3 アナログ回路の発振防止対策 209 |
| 6.5 集積化アナログフィルタ 210 |
| 6.5.1 集積化能動RCフィルタ 210 |
| 6.5.2 スイッチトキャパシタフィスタ 213 |
| 6.6 A/D,D/A変換器 216 |
| 6.6.1 高速型A/D,D/A変換器 216 |
| 6.6.2 オーバーサンプルÅ/D,D/A変換器 218 |
| 6.7 ULSI時代以降のアナログ回路技術 221 |
| 第7章 ULSI用CAD技術 |
| 7.1 LSIのCAD技術 225 |
| 7.2 設計言語 230 |
| 7.3 シミュレータ 233 |
| 7.4 配置配線ツール 243 |
| 7.5 論理合成とコンパイラ 253 |
| 第8章 ULSIテスト評価技術 |
| 8.1 テスト・評価の考え方 269 |
| 8.1.1 テスト・評価とは 269 |
| 8.1.2 従来のテスト・評価の考え方 273 |
| 8.1.3 テスト容易性 283 |
| 8.1.4 故障の原因とモデル化 284 |
| 8.1.5 ULSIのテスト・評価の考え方 298 |
| 8.2 テスト容易化設計の各手法 306 |
| 8.2.1 テスト容易化設計の基本的な分類 306 |
| 8.2.2 分割手法 309 |
| 8.2.3 スキャンデザイン 310 |
| 8.2.4 組込み自己テスト 314 |
| 8.2.5 メモリのテスト容易化設計手法 323 |
| 8.2.6 PLAのテスト容易化設計手法 327 |
| 8.2.7 クロスチェック技術 333 |
| 8.2.8 IDD・gテスト 335 |
| 8.2.9 バウンダリスキャンデザイン 338 |
| 8.3 テスト容易化設計のストラテジー 344 |
| 8.3.1 ASIC-ULSIとフルカスタムULSIのテスト容易化設計 344 |
| 8.3.2 マイクロプロセッサノテスト容易化設計のストラテジー 350 |
| 8.4 CAT 354 |
| 8.4.1 テストデータ自動発生 355 |
| 8.4.2 故障シミュレーション 360 |
| 8.5 ULSIテスト・評価技術の今後の展望 364 |
| 索引 371 |
図書
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