第Ⅰ部 微小構造の顕微鏡観察 1 |
第1章 三次元透過型電子顕微鏡-ネットワークナノ構造の三次元可視化- 3 |
1.1 はじめに 3 |
1.2 実験 4 |
1.2.1 試科 4 |
1.2.2 3D-TEM装置および観察条件 5 |
1.3 CB充填硫黄加硫天然ゴムの3D-TEM観察 7 |
1.4 三次元形態パラメーターと物性との相関 8 |
1.5 CB凝集体ネットワーク構造 10 |
1.6 おわりに 12 |
参考文献 13 |
第2章 走査フォース顕微鏡-表面ナノ構造と物性をみる手法- 15 |
2.1 はじめに 15 |
2.2 原子間力顕微鏡 16 |
2.3 水平力顕微鏡 19 |
2.4 走査粘弾性顕微鏡 22 |
2.5 化学力顕微鏡 23 |
2.6 おわりに 25 |
参考文献 25 |
第3章 表面プラズモン共鳴分光法および顕微鏡-局所場による高感度光計測- 27 |
3.1 はじめに 27 |
3.2 表面プラズモン共鳴現象の原理 28 |
3.3 表面プラズモン共鳴分光装置の概要 30 |
3.4 シミュレーションによる測定条件の決定 31 |
3.5 表面への吸着反応の測定 33 |
3.6 吸着のキネティクス測定 34 |
3.7 表面プラズモン顕微鏡 36 |
3.8 おわりに 37 |
参考文献 38 |
第4章 近接場光学顕微鏡-光でみるナノの世界- 39 |
4.1 はじめに 39 |
4.2 走査型近接場光学顕微鏡 40 |
4.3 高分子単分子膜の構造評価 42 |
4.4 新しい近接場分光法 46 |
4.5 おわりに 50 |
参考文献 50 |
第5章 共焦点レーザー顕微鏡-光学顕微鏡による三次元構造観察- 53 |
5.1 はじめに 53 |
5.2 装置と原理 54 |
5.3 高分子材料の観察例 57 |
5.3.1 コンボジット材料 57 |
5.3.2 コロイド粒子 57 |
5.3.3 ポリマーブレンド 58 |
5.3.4 ブロック共重合体 60 |
5.3.5 その他の高分子材料 63 |
5.4 おわりに 63 |
参考文献 63 |
第Ⅱ部 微小構造の間接的観察 65 1 |
第1章 放射光を用いた観察法-微細・微小・迅速・in situ測定を目指して- 67 |
1.1 はじめに 67 |
1.2 放射光を用いてできること 68 |
1.2.1 微細試料 70 |
1.2.2 微小領域 72 |
1.2.3 迅速測定 74 |
1.3 おわりに 78 |
参考文献 78 |
第2章 中性子小角散乱法-生きたままをみる分析技術- 83 |
2.1 はじめに 83 |
2.2 中性子の発生から小角散乱の検出まで 84 |
2.3 小角から超小角散乱 87 |
2.4 そしてダイナミックスヘ-中性子スピンエコー法 89 |
2.5 成長する高分子をみる-リビング重合反応のその場観測 91 |
2.6 流動誘発相分離の三次元観察 95 |
2.7 おわりに 97 |
参考文献 97 |
第3章 陽電子消滅法-自由体積空孔サイズの測定- 99 |
3.1 はじめに 99 |
3.2 測定法 100 |
3.2.1 22Naを用いた方法 101 |
3.2.2 解析方法 102 |
3.2.3 陽電子ビームを用いた測定 105 |
3.2.4 ドップラー拡がり測定 105 |
3.2.5 デジタルオシロスコープを用いた測定法 106 |
3.3 高分子の自由体積測定例 107 |
3.4 おわりに 111 |
参考文献 111 |
第Ⅲ部 分子構造の解析 113 |
第1章 固体NMR-固体でここまでわかる精密測定- 115 |
1.1 はじめに 115 |
1.2 基礎的事項 115 |
1.3 標準的測定の準備 118 |
1.4 -次元NMR 119 |
1.4.1 スペクトル測定 119 |
1.4.2 緩和時間測定 122 |
1.4.3 異種核間距離の精密測定 124 |
1.4.4 表面高分解能NMR 125 |
1.5 二次元測定 126 |
1.5.1 二次元交換スペクトル 127 |
1.5.2 異種核相関スペクトル 128 |
1.5.3 二次元スピン拡散スペクトル 128 |
1.5.4 二次元二量子遷移スペクトル 128 |
1.6 四極子核 130 |
1.6.1 2H NMR 130 |
1.6.2 MQMAS 131 |
1.7 おわりに 131 |
参考文献 132 |
第2章 TOF-SIMS-サブミクロン領域からの分子構造情報- 135 |
2.1 はじめに 135 |
2.2 TOF-SIMSの各種測定モード 136 |
2.2.1 表面第1層の質量分析 137 |
2.2.2 ケミカルイメージングならびに深さ方向分析 138 |
2.3 TOF-SIMS測定のテクニック 139 |
2.3.1 測定目的と試料準備 139 |
2.3.2 クラスター一次イオンを利用した二次イオンの高収率化 144 |
2.4 TOF-SIMSデータ解釈とその留意点 146 |
2.5 おわりに 148 |
参考文献 149 |
第3章 MALDI-MS/MS-質量測定を越えた微細化学構造解析- 151 |
3.1 はじめに 151 |
3.2 MALDI-MS/MSの測定装置 152 |
3.3 MALDI-MS/MS測定とスペクトル解析の実際 154 |
3.4 MALDI-MS/MS測定のテクニックと注意点 157 |
3.4.1 前駆イオンの選択 158 |
3.4.2 マトリックス剤の選択 158 |
3.4.3 クラスターイオンによる妨害 160 |
3.5 CIDを用いたMALDI-MS/MS測定と装置 161 |
3.6 おわりに 163 |
参考文献 164 |
第4章 赤外円二色性スペクトル-紫外・可視発色団を必要としない新しいキラル分析法- 165 |
4.1 はじめに 165 |
4.2 装置概要 166 |
4.3 基礎的事項 167 |
4.4 実際の測定にあたって 168 |
4.5 応用 169 |
4.5.1 絶対配置決定 169 |
4.5.2 タンパク質の二次構造解析 171 |
4.5.3 複合糖質への応用 171 |
4.5.4 らせん分子への応用 173 |
4.6 おわりに 174 |
参考文献 175 |
索引 177 |
第Ⅰ部 微小構造の顕微鏡観察 1 |
第1章 三次元透過型電子顕微鏡-ネットワークナノ構造の三次元可視化- 3 |
1.1 はじめに 3 |