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1.

図書

図書
中澤裕之, 堀江正一, 井部明広著 ; 日本分析化学会編
出版情報: 東京 : 共立出版, 2013.5  viii, 128p ; 21cm
シリーズ名: 分析化学実技シリーズ ; 応用分析編 ; 5
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1 試料採取と分析法の妥当性 : 試料採取 / サンプリング
分析方法の妥当性
2 食品成分 : タンパク質
脂質 ほか
3 食品中の危害化学物質 : 環境汚染物質
残留農薬 ほか
4 食品添加物 : 食品添加物分析の必要性
保存料 ほか
1 試料採取と分析法の妥当性 : 試料採取 / サンプリング
分析方法の妥当性
2 食品成分 : タンパク質
2.

図書

図書
千葉光一 [ほか] 著 ; 日本分析化学会編
出版情報: 東京 : 共立出版, 2013.8  x, 233p ; 21cm
シリーズ名: 分析化学実技シリーズ ; 機器分析編 ; 4
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1 : 序論
2 : 誘導結合プラズマの特性—その生成、構造と測定方法
3 : ICP発光分析装置
4 : 分析上の課題と波長の選択
5 : 試料導入法
6 : 試料の前処理
7 : 応用例
1 : 序論
2 : 誘導結合プラズマの特性—その生成、構造と測定方法
3 : ICP発光分析装置
3.

図書

図書
大谷肇 [ほか] 著 ; 日本分析化学会編
出版情報: 東京 : 共立出版, 2013.10  viii, 220p ; 21cm
シリーズ名: 分析化学実技シリーズ ; 応用分析編 ; 4
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1 : 高分子分析の概要
2 : 高分子分析のための試料前処理
3 : 赤外分光法による高分子分析
4 : 核磁気共鳴法による高分子分析
5 : ガスクロマトグラフィーによる高分子分析
6 : 液体クロマトグラフィーによる高分子分析
7 : 質量分析法による高分子分析
1 : 高分子分析の概要
2 : 高分子分析のための試料前処理
3 : 赤外分光法による高分子分析
4.

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図書
Alex Williams, Steve Ellison [編] ; 米沢仲四郎訳
出版情報: 東京 : 丸善出版, 2013.9  x, 220p ; 21cm
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1 : 適用範囲
2 : 不確かさ
3 : 分析化学測定と不確かさ
4 : 測定不確かさの推定プロセス
5 : ステップ1・測定量の明細
6 : ステップ2・不確かさ要因の同定
7 : ステップ3・不確かさの定量
8 : ステップ4・合成標準不確かさの計算
9 : 不確かさの報告
1 : 適用範囲
2 : 不確かさ
3 : 分析化学測定と不確かさ
概要: GUM法に基づいた不確かさ評価法を、分析化学の分野に適用するための解説書。分析試験所において不確かさを評価するための実際的な経験の観点、正式な品質保証手順の観点から、最新の知見までを含めて解説。
5.

図書

図書
日本分析化学会編
出版情報: 東京 : 丸善出版, 2013.1  xvii, 242p, 図版[2]p ; 21cm
シリーズ名: 試料分析講座
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1 概論 : “高分子”の特性
高分子材料の一般的な分析手順
2 高分子素材の分析 : モノマー種の定性・定量
ポリマーの一次構造解析
分子量の測定(平均分子量、分子量分布
3 高分子製品の分析 : 前処理
ポリマー成分の分析
添加剤の分析 ほか
4 高分子分析の実際 : プラスチック製品
繊維製品
ゴム製品 ほか
1 概論 : “高分子”の特性
高分子材料の一般的な分析手順
2 高分子素材の分析 : モノマー種の定性・定量
概要: 高分子分析の全体像を把握するとともに、実際の製品でどのように分析されるか実例を示し、ノウハウを盛り込んで実用的に解説。物質や現象の本質にせまり、製品の性能をより理想に近づけたい、二律背反の性能を両立させたい、開発期間を短縮したい、といった難 題解決のためのヒントをみつけられる参考書。 続きを見る
6.

図書

図書
日本分析化学会編
出版情報: 東京 : 丸善出版, 2013.7  xxi, 300p, 図版 [2] p ; 21cm
シリーズ名: 試料分析講座
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半導体・電子材料の分析
誘導結合プラズマ質量分析 / ICP‐MS
誘導結合プラズマ発光分光分析 / ICP‐AES
二次イオン質量分析 / SIMS
蛍光X線分析 / XRF
三次元アトムプローブ / APT
走査電子顕微鏡 / SEM
測長走査電子顕微鏡 / 測長SEM
透過電子顕微鏡 / TEM
走査プローブ顕微鏡 / SPM
RBS : と弾性反跳検出分析 / ERDA
X線反射率
陽電子消滅
AES : とX線電子分光法 / XPS
半導体・電子材料の分析
誘導結合プラズマ質量分析 / ICP‐MS
誘導結合プラズマ発光分光分析 / ICP‐AES
概要: 多くの工業製品には半導体・電子材料を用いたナノ構造デバイスが使われている。本書では、研究開発、不具合診断、製造装置の条件出しなどに用いられる種々の分析法について詳しく解説した。各分析法の原理・特徴を記述し、応用・分析例も示した実用的かつ充実 した内容である。また今後の利用が期待される分析・計測法についても解説している。 続きを見る
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