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1.

図書
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1. 固体の表面を測る
二瓶好正編
出版情報: 東京 : 学会出版センター, 1997.2  x, 241p, 図版[3]p ; 21cm
シリーズ名: 日本分光学会測定法シリーズ ; 35
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2.

図書
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2. 表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用
D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳
出版情報: 東京 : アグネ承風社, 2003.7  xix, 429p ; 21cm
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3.

図書
図書
3. 化学計測ハンドブック : 前処理操作から最新機器まで
G.J.シュガー, J.A.ディーン著 ; 二瓶好正, 飯田芳男監訳
出版情報: 東京 : マグロウヒル出版, 1991.8  xiii, 654p ; 22cm
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