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図書

東工大
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黒田晴雄 [ほか] 編
出版情報: 東京 : 丸善, 1993.8  xii, 595p ; 22cm
シリーズ名: 実験化学講座 / 日本化学会編 ; 13
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1 固体試料の作成と取り扱い 1
   1・1 単結晶表面試料の作成 [栃原 浩・山田太郎] 1
   はじめに 清浄表面とは (1)
   単結晶の製法と入手 (2)
   X線回折による結晶軸の決定 (4)
   結晶の切断と成型 (13)
   結晶面の研磨 (17)
   超高真空下の清浄化処理 (20)
   文献 (24)
   1・2 薄膜,多層膜の作成 [①小間 篤 ②清水 勇・半那純一・白井 肇] 25
   蒸着膜の作成 (25)①
   分子線エピタキシー (28)①
   CVD法 (46)②
   膜厚の測定 (74)②
   文献 (83)
   1・3 微粒子分散系 [①古澤邦夫 ②堤 和男・松本明彦 ③金子克美 ④上野晃史] 85
   超微粒子の作成 (85)①
   多孔性材料 (99)②
   粒径,孔度と比表面積 (117)③
   不均一系触媒の調製 (126)④
   文献 (139)
2 分子集合体試料の作成と状態分析 145
   2・1 有機薄膜 [①中原弘雄 ②川端康治郎・松本睦良 ③小山 昇] 145
   単分子膜 (145)①
   累積膜 (157)①
   有機薄膜の機能化 (175)②
   電解有機薄膜 (189)③
   文献 (195)
   2・2 分子組織体分散系 [①妹尾 学・篠塚則子 ②師井義清 ③国枝博信 ④児玉美智子 ⑤今栄東洋子 ⑥加藤 直・清宮 懋 ⑦山崎 巖] 200
   分子分散系の状態図 (200)①
   ミセル (208)②
   ミクロエマルション (217)③
   ゲル状態 (229)④
   分子組織体の構造解析(光散乱法⑤,核磁気共鳴吸収⑥,時間分解蛍光分光法⑦) (241)
   文献 (264)
3 固体表面の観察と構造解析 269
   3・1 電子顕微鏡による形態と構造の観察 [①八木克道 ②櫻井利夫・橋詰富博] 269
   透過型電子顕微鏡 (269)①
   走査型電子顕微鏡 (286)①
   走査型トンネル顕微鏡 (293)②
   FEMとFIM (304)②
   文献 (321)
   3・2 電子回折とX線吸収微細構造による構造解析 [①有賀哲也 ②大門 寛 ③二瓶好正 ④朝倉清高] 325
   低速電子回折 (325)①
   反射高速電子回折 (336)①
   光電子回折 (347)③
   広域X線吸収微細構造 (368)④
   表面EXAFS (385)④
   文献 (393)
4 表面状態分析 397
   4・1 表面の元素分析・状態分析 [①石谷 炯 ②原田義也・増田 茂 ③圦本尚義 ④黒崎和夫] 397
   Auger電子分光法 (397)①
   X線光電子分光法 (411)①
   Penningイオン化電子分光法 (432)②
   二次イオン質量分析 (439)③
   高速イオンを利用する表面分析 (451)④
   文献 (473)
   4・2 表面の振動分光 [①濱口宏夫 ②吉信 淳・西嶋光昭 ③堂免一成] 476
   赤外分光法 (476)①
   Raman分光法 (482)①
   高分解能電子エネルギー損失分光法 (490)②
   その他の振動分光法 (503)③
   文献 (511)
5 固体表面の反応性,物性の研究手法 515
   5・1 吸着量 [江川千桂司] 515
   気体分子(原子)の露出量 (515)
   低速電子回折 (516)
   昇温脱離法 (518)
   圧力変化による吸着量測定 (520)
   仕事関数 (520)
   Auger電子分光法 (521)
   光電子分光法 (523)
   参考文献 (523)
   文献 (523)
   5・2 昇温脱離法 [松島龍夫] 524
   真空装置の排気速度 (524)
   結晶の保持と加熱 (525)
   脱離分子の検出 (526)
   スペクトルの解析 (528)
   文献 (531)
   5・3 表面反応の研究方法 [岩澤康裕・中村潤児] 531
   表面反応の素過程の測定 (532)
   表面反応の速度論的解析 (535)
   触媒反応の研究 (538)
   分子線を用いた研究 (544)
   文献 (546)
   5・4 固体表面の光化学過程(1) [大西 洋] 547
   はじめに (547)
   真空槽と試料調製 (548)
   光源 (549)
   応答の検出 (552)
   文献 (557)
   5・5 固体表面の光化学過程(2) [安保正一] 557
   半導体表面での光触媒反応 (557)
   不活性(絶緑体)固体表面での光化学反応 (564)
   文献 (566)
   5・6 表面電位と仕事関数 [有賀哲也] 567
   表面電位と仕事関数とは (567)
   仕事関数の測定法 (570)
   文献 (575)
付録 [黒田晴雄] 577
   付録1:内殻準位の結合エネルギー (578)
   付録2:元素の主なAuger電子ピークのエネルギー (582)
索引 585
欧文索引 593
1 固体試料の作成と取り扱い 1
   1・1 単結晶表面試料の作成 [栃原 浩・山田太郎] 1
   はじめに 清浄表面とは (1)
2.

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藤川高志, 朝倉清高共著
出版情報: 東京 : 裳華房, 2004.1  ix, 195p ; 21cm
シリーズ名: 化学サポートシリーズ
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1.行列と行列式
   1.1 行列式 2
   1.2 基底と次元 7
   1.3 固有値と固有ベクトル 10
   1.4 行列の対角化 12
   1.5 実対称行列の対角化 15
   1.6 エルミート行列の対角化 21
2.微分と微分方程式
   2.1 微分 28
   2.2 テイラー展開 29
   2.3 偏微分 30
   2.4 ヤコビアン 35
   2.5 マックスウェルの関係式と全微分 38
   2.6 ラグランジェの未定係数法 47
   2.7 常微分方程式 48
   2.8 偏微分方程式 59
3.ベクトル解析
   3.1 ベクトルの基礎 62
   3.2 ベクトルの微分 66
   3.3 ベクトルによる微分-勾配,発散,回転 69
    3.3.1 ベクトルの勾配 69
    3.3.2 ベクトルの発散 71
    3.3.3 ベクトルの回転 73
    3.3.4 直交曲線座標系における発散,勾配,回転 75
   3.4 ベクトルと積分 81
    3.4.1 線積分 82
    3.4.2 面積分 86
    3.4.3 体積積分 89
   3.5 ガウスの発散定理,グリーンの定理,ストークスの定理 90
    3.5.1 ガウスの定理 90
    3.5.2 グリーンの定理 91
    3.5.3 ストークスの定理 92
   3.6 付録 94
4.固有値と固有関数
   4.1 オブザーバブルとエルミート演算子 98
   4.2 ディラックのデルタ関数 101
   4.3 フーリエ級数 109
   4.4 フーリエ変換 113
   4.5 可換なオブザーバブル 121
   4.6 角運動量演算子と球面調和関数 127
5.複素関数
   5.1 複素数の基本的な性質 146
   5.2 解析関数 147
   5.3 複素積分,コーシーの積分定理 149
   5.4 留数定理と実定積分 154
    5.4.1 三角関数の積分 153
    5.4.2 有理関数の積分 157
    5.4.3 フーリエ変換 159
おわりに 163
問の解答 164
索引 193
Coffee Break
   I 計算科学 25
   II 隠された変数 31
   III スカラー,ベクトル,テンソル 65
   IV クラマース-クローニッヒの関係式 161
1.行列と行列式
   1.1 行列式 2
   1.2 基底と次元 7
3.

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米澤徹, 朝倉清高, 幾原雄一編著
出版情報: 東京 : 講談社, 2016.6  xii, 338p ; 21cm
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第1部 X線・中性子線 : X線吸収微細構造 / XAFS
顕微XRF・顕微XAFS : ほか
第2部 電子線・プローブ : 走査電子顕微鏡 / SEM
集束イオンビーム‐走査型電子顕微鏡(FIB‐SEM) : ほか
第3部 そのほかの分析手法 : 共焦点レーザースキャン顕微鏡 / LSCM
動的光散乱法による粒子径測定 : ほか
第4部 トピックス : ナノ粒子触媒評価
合金ナノ粒子評価 ほか
第1部 X線・中性子線 : X線吸収微細構造 / XAFS
顕微XRF・顕微XAFS : ほか
第2部 電子線・プローブ : 走査電子顕微鏡 / SEM
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