close
1.

図書
図書
1. 走査型プローブ顕微鏡のすべて : 原子や分子を見て動かす
森田清三著
出版情報: 東京 : 工業調査会, 1992.2  252p ; 19cm
シリーズ名: K books ; 83
所蔵情報: loading…
2.

図書
図書
2. Noncontact atomic force microscopy ([v. 1] ; v. 2)
S. Morita, R. Wiesendanger, E. Meyer (eds.)
出版情報: Berlin : Springer-Verlag, c2002-2015  2 v. ; 24 cm
シリーズ名: Nanoscience and technology
Physics and astronomy online library
所蔵情報: loading…
目次情報: 続きを見る
Introduction / Seizo Morita1：
AFM in Retrospective / 1.1：
Present Status of NC-AFM / 1.2：
Future Prospects for NC-AFM / 1.3：
References
Principle of NC-AFM / Franz J. Giessibl2：
Basics / 2.1：
Relation to the Scanning Tunneling Microscope (STM) / 2.1.1：
Atomic Force Microscope (AFM) / 2.1.2：
Operating Modes of AFMs / 2.1.3：
Scanning Speed, Signal Bandwidth and Noise / 2.1.4：
The Four Additional Challenges Faced by AFM / 2.2：
Jump-to-Contact and Other Instabilities / 2.2.1：
Contribution of Long-Range Forces / 2.2.2：
Noisein theImagingSignal / 2.2.3：
Non-MonotonicImaging Signal / 2.2.4：
Frequency-Modulation AFM (FM-AFM) / 2.3：
Experimental Setup / 2.3.1：
Applications / 2.3.2：
Relation between Frequency Shift and Forces / 2.4：
Generic Calculation / 2.4.1：
Frequency Shift for a Typical Tip-Sample Force / 2.4.2：
Calculation of the Tunneling Current for Oscillating Tips / 2.4.3：
Noise in Frequency-Modulation AFM / 2.5：
Noisein theFrequencyMeasurement / 2.5.1：
Optimal Amplitude for Minimal Vertical Noise / 2.5.3：
A Novel Force Sensor Based on a Quartz Tuning Fork / 2.6：
Quartz Versus Silicon as a Cantilever Material / 2.6.1：
Benefits in Clamping One of the Beams (qPlus Configuration) / 2.6.2：
Conclusion and Outlook / 2.7：
Semiconductor Surfaces / Yasuhiro Sugawara3：
Instrumentation / 3.1：
Three-Dimensional Mapping of Atomic Force / 3.2：
Control ofAtomic Force / 3.3：
Imaging Mechanisms for Si(100)2×1 and Si(100)2×1: H / 3.4：
Surface Strain on an Atomic Scale / 3.5：
Low Temperature Image of Si(100) Clean Surface / 3.6：
Mechanical Control ofAtomPosition / 3.7：
Atom Identification Using Covalent Bonding Force / 3.8：
Charge Imaging with Atomic Resolution / 3.9：
Mechanical Atom Manipulation / 3.10：
Bias Dependence of NC-AFM Images and TunnelingCurrent Variations on Semiconductor Surfaces / Toyoko Arai ; Masahiko Tomitori4：
Experimental Conditions / 4.1：
Bias Dependence of NC-AFM Images for Si(111)7×7 / 4.2：
MechanismofInvertedAtomicCorrugation / 4.2.1：
NC-AFM Imaging and Tunneling Current / 4.2.2：
NC-AFM Images for Ge/Si(111) / 4.3：
Concluding Remarks / 4.4：
Alkali Halides / Roland Bennewitz ; Martin Bammerlin ; Ernst Meyer5：
Experimental Techniques / 5.1：
Relevant Forces / 5.1.2：
Imaging of Single Crystals / 5.2：
Sample Preparation / 5.2.1：
Atomic Corrugation / 5.2.2：
Imaging of Defects / 5.2.3：
Mixed Alkali Halide Crystals / 5.2.4：
Imaging of Thin Films / 5.3：
Preparation of Thin Films / 5.3.1：
Atomic Resolutionat Low-Coordinated Sites / 5.3.2：
Radiation Damage / 5.4：
Metallization and Bubble Formation in CaF2 / 5.4.1：
Monatomic Pits in KBr / 5.4.2：
Dissipation Measurements / 5.5：
Material and Site-Specific Contrast / 5.5.1：
Using Damping for Distance Control / 5.5.2：
Atomic Resolution Imaging on Fluorides / Michael Reichling ; Clemens Barth6：
Tip Instabilities / 6.1：
Flat Surfaces / 6.3：
Step Edges / 6.4：
Atomically Resolved Imaging of a NiO(001) Surface / Hirotaka Hosoi ; Kazuhisa Sueoka ; Kazunobu Hayakawa ; Koichi Mukasa7：
Antiferromagnetic Nickel Oxide / 7.1：
ExperimentalConsiderations / 7.2：
Morphology ofthe Cleaved Surface / 7.3：
Atomically Resolved Imaging UsingNon-CoatedandFe-CoatedSiTips / 7.4：
Short-Range Magnetic Interaction / 7.5：
Analysis ofthe Cross-Section / 7.6：
Conclusion / 7.7：
Atomic Structure, Order and Disorder on High Temperature Reconstructed α-Al2O3(0001) / 8：
TheCleanSurface / 8.1：
Defect Formation upon Water Exposure / 8.2：
Self-Organized Formation of Nanoclusters / 8.3：
NC-AFM Imaging of Surface Reconstructions and Metal Growth on Oxides / Chi Lun Pang ; Geoff Thornton9：
1×1 to 1×3 Phase Transition of TiO2(100) / 9.1：
Surface Reconstructions of TiO2(110) / 9.3：
The 1×2 Reconstruction of SnO2(110) / 9.4：
Imaging Thin Film Alumina: NiAl(110)-Al2O3 / 9.5：
Growth of Cu and Pd on α-Al2O3(0001)- <$$> / 9.6：
A Short-Range-Ordered Overlayer of K on TiO2(110) / 9.7：
Conclusions / 9.8：
Atoms and Molecules on TiO2(110) and CeO2(111) Surfaces / Ken-ichi Fukui ; Yasuhiro Iwasawa10：
Background / 10.1：
Brief Description of Experiments / 10.2：
Surface Structures of TiO2(110) / 10.3：
Adsorbed Atoms and Molecules on TiO2(110) / 10.4：
Carboxylate Ions on TiO2(110) / 10.4.1：
Hydrogen Adatoms on TiO2(110) / 10.4.2：
Fluctuation ofAcetate Ions on TiO2(110) / 10.5：
Surface Structures of CeO2(111) / 10.6：
NC-AFM Imaging of Adsorbed Molecules / 10.7：
NucleicAcidBasesonaGraphiteSurface / 11.1：
Double-StrandedDNAonaMicaSurface / 11.2：
Alkanethiol on a Au(111) Surface / 11.3：
Organic Molecular Films / Hirofumi Yamada12：
AFM Imaging of Molecular Films / 12.1：
Fullerenes / 12.1.1：
AlkanethiolSAMs / 12.1.2：
Ferroelectric Molecular Films / 12.1.3：
Surface Potential Measurements / 12.2：
Technical Developments in NC-AFM Imaging ofMolecules / 12.3：
Single-Molecule Analysis / Akira Sasahara ; Hiroshi Onishi12.4：
Molecules and Surface / 13.1：
Experimental Methods / 13.3：
Alkyl-Substituted Carboxylates / 13.4：
Numerical Simulation ofPropiolate Topography / 13.5：
Sphere-Substrate Force / 13.5.1：
Sphere-Carboxylate Force / 13.5.2：
Cluster-Substrate Force / 13.5.3：
Cluster-Carboxylate Force / 13.5.4：
Simulated Topography / 13.5.5：
Fluorine-Substituted Acetates / 13.6：
Conclusions and Perspectives / 13.7：
Low-Temperature Measurements: Principles, Instrumentation, and Application / Wolf Allers ; Alexander Schwarz ; Udo D. Schwarz14：
Microscope Operation at Low Temperatures / 14.1：
Drift / 14.2.1：
Noise / 14.2.2：
Van der Waals Surfaces / 14.3：
HOPG(0001) / 14.4.1：
Xenon / 14.4.2：
Nickel Oxide / 14.5：
Semiconductors / 14.6：
Δf(z) Curves on Specific Atomic Sites / 14.6.1：
Tip-Dependent Atomic Scale Contrast / 14.6.2：
Tip-Induced Relaxation / 14.6.3：
Magnetic Force Microscopy at Low Temperatures / 14.7：
MFM Data Acquisition / 14.7.1：
Domain Structure of La0.7Ca0.3MnO3-δ / 14.7.2：
Vortices on YBa2Cu3O7-δ / 14.7.3：
Theory of Non-Contact Atomic Force Microscopy / Masaru Tsukada ; Naruo Sasaki ; Michel Gauthier ; Katsunori Tagami ; Satoshi Watanabe14.8：
Cantilever Dynamics / 15.1：
Theoretical Simulation of NC-AFM Images / 15.3：
Non-Contact Atomic Force Microscopy Images ofDynamic Surfaces / 15.4：
Effect of Tip on Image for the Si(100)2×1: H Surface / 15.5：
Effect of Tip on Surface Structure Change and its Relation to Dissipation / 15.6：
Chemical Interaction in NC-AFM on Semiconductor Surfaces / San-Huang Ke ; Tsuyoshi Uda ; Kiyoyuki Terakura ; Ruben Pérez ; Ivan Štich15.7：
First-Principles Calculation of Tip-Surface Chemical Interaction / 16.1：
Simulation of NC-AFM Images / 16.3：
Simulations on Various Surfaces / 16.4：
Tip-Induced Surface Relaxation on the GaAs(110) Surface / 16.5：
Vertical Scan Over an As Atom / 16.5.1：
Vertical Scan Over a Ga Atom / 16.5.2：
RelevancetoNear-Contact STM Observations / 16.5.3：
Tip-Induced Surface Atomic Processes and EnergyDissipation in NC-AFM / 16.5.4：
Image Contrast on GaAs(110) for a Pure Si Tip: Distance Dependence / 16.6：
Effect of Tip Morphology on NC-AFM Images / 16.7：
Image Contrast for the Ga/Si Tip / 16.7.1：
Image Contrast for the As/Si Tip / 16.7.2：
Contrast Mechanisms on InsulatingSurfaces / Adam Foster ; Alexander Shluger16.8：
Model ofAFM and Main Forces / 17.1：
Tip-Surface Setup / 17.2.1：
Forces / 17.2.2：
Simulating Scanning / 17.3：
TheSurface / 17.3.1：
TheTip / 17.3.2：
Tip-Surface Interaction / 17.3.3：
Modelling Oscillations / 17.3.4：
Generating a Theoretical Surface Image / 17.3.5：
The Calcium Fluoride (111) Surface / 17.4：
Calcite: Surface Deformations During Scanning / 17.4.2：
Studying Surface and Defect Properties / 17.5：
Analysis of Microscopy and Spectroscopy Experiments / Hendrik Hölscher17.6：
BasicPrinciples / 18.1：
Origin ofthe Frequency Shift / 18.2.1：
Calculation ofthe FrequencyShift / 18.2.3：
Frequency Shift for Conservative Tip-Sample Forces / 18.2.4：
Experimental NC-AFM Images of van der Waals Surfaces 355 / 18.3：
BasicPrinciplesoftheSimulationMethod / 18.3.2：
Applications ofthe Simulation Method / 18.3.3：
Dynamic Force Spectroscopy / 18.4：
Determining Forces fromFrequencies / 18.4.1：
Analysis ofTip-Sample Interaction Forces / 18.4.2：
Theory of Energy Dissipation into Surface Vibrations / Lev Kantorovich18.5：
Possible Dissipation Mechanisms / 19.1：
Adhesion Hysteresis / 19.2.1：
Stochastic Dissipation / 19.2.2：
Other Mechanisms / 19.2.3：
Brownian Particle MechanismofEnergy Dissipation / 19.3：
Brownian Particle / 19.3.1：
Fluctuation-Dissipation Theorem / 19.3.2：
Oscillating Tip as a Brownian Particle / 19.3.3：
Energy Dissipated Per Oscillation Cycle / 19.3.4：
Nonequilibrium Considerations for NC-AFM Systems / 19.4：
Preliminary Remarks / 19.4.1：
Mixed Quantum-Classical Representation / 19.4.2：
Equation ofMotion for the Tip / 19.4.3：
Estimation ofDissipation Energies in NC-AFM / 19.5：
Comparison with STM / 19.6：
Conclusions and Future Directions / 19.7：
Measurement of Dissipation Induced by Tip-Sample Interactions / H.J. Hug ; A. Baratoff20：
Experimental Aspects of Energy Dissipation / 20.1：
ExperimentalMethods / 20.3：
ApparentEnergyDissipation / 20.4：
Velocity-DependentDissipation / 20.5：
Electric-Field-MediatedJouleDissipation / 20.5.1：
Magnetic-Field-MediatedJouleDissipation / 20.5.2：
Magnetic-Field-MediatedDissipation / 20.5.3：
Brownian Dissipation / 20.5.4：
Hysteresis-Related Dissipation / 20.6：
Magnetic-Field-Induced Hysteresis / 20.6.1：
Hysteresis Due to Adhesion / 20.6.2：
Hysteresis Due to Atomic Instabilities / 20.6.3：
DissipationImagingwithAtomicResolution / 20.7：
DissipationSpectroscopy / 20.8：
Index / 20.9：
Introduction / Seizo Morita1：
AFM in Retrospective / 1.1：
Present Status of NC-AFM / 1.2：
3.

図書

東工大
目次DB
図書
東工大
目次DB
3. 走査型プローブ顕微鏡 : 最新技術と未来予測
森田清三編著
出版情報: 東京 : 丸善, 2005.12  xii, 202p ; 21cm
所蔵情報: loading…
目次情報: 続きを見る
1 21世紀の科学と技術の動向（森田清三） 1
   1.1 21世紀の科学と技術の動向 1
   1.2 前回の予測(SPMロードマップ2000)と現状 3
   1.3 SPM ロードマップ 2005 4
   　1.3.1 シーズ,ニーズ両サイドからのロードマップ 4
   　1.3.2 ロードマップの方向性(高分解能を狙う方向と各種応用に特化する方向) 5
2 走査型プローブ顕微鏡の基礎 7
   2.1 走査型トンネル顕微鏡(STM)（富取正彦） 7
   　2.1.1 原理 7
   　2.1.2 歴史 10
   　2.1.3 現状と問題点 12
   　2.1.4 未来予測 13
   2.2 原子間力顕微鏡(AFM)（菅原康弘） 15
   　2.2.1 原理 15
   　2.2.2 歴史 19
   　2.2.3 現状と問題点 20
   　2.2.4 未来予測 21
   2.3 近接場光学顕微鏡(NSOM)（斎木敏治） 23
   　2.3.1 近接場光学顕微鏡の原理 23
   　2.3.2 歴史 24
   　2.3.3 現状と問題点 25
   　2.3.4 未来予測 28
3 走査型プローブ顕微鏡の応用技術 33
   3.1 走査型キャパシタンス顕微鏡(SCM)（中川善嗣） 33
   　3.1.1 SCM の原理 33
   　3.1.2 SCM によるドーパントプロファイリングの現状と問題 35
   　3.1.3 ドーパントプロファイリングに用いられる他の SPM 37
   　3.1.4 未来予測 39
   3.2 電気力顕微鏡(EFM)（山田啓文・中村雅一） 40
   　3.2.1 原理 41
   　3.2.2 現状と問題点 44
   　3.2.3 未来予測 48
   3.3 磁気力顕微鏡(MFM)（保坂純男） 50
   　3.3.1 MFM の原理 50
   　3.3.2 MFM の歴史 54
   　3.3.3 MFM 技術の磁気記録媒体への応用例 54
   　3.3.4 MFM ロードマップと高分解能化 56
   3.4 STM 発光分光（村下達） 57
   　3.4.1 特長 57
   　3.4.2 動作原理 58
   　3.4.3 歴史 60
   　3.4.4 現状と課題 60
   　3.4.5 未来予測 61
   3.5 走査型アトムプローブ(SAP)（西川治） 64
   　3.5.1 走査型アトムプローブとは? 64
   　3.5.2 SAP による非金属の分析 65
   　3.5.3 現状と問題点: 2000 年の予測との差異 67
   　3.5.4 未来予測ロードマップ 67
4 走査型プローブ顕微鏡の新技術動向 73
   4.1 原子・分子の同定・識別（米田忠弘・森田清三・菅原康弘） 73
   　4.1.1 原子・分子の同定・識別:非弾性トンネル効果利用による単一分子振動分光 73
   　4.1.2 原子・分子の同定・識別: AFM 利用 76
   　4.1.3 未来予測 77
   4.2 原子・分子の操作（米田忠弘・森田清三・山田啓文・田中秀吉） 79
   　4.2.1 原子・分子の操作: STM 利用―振動励起を用いた操作 79
   　4.2.2 原子・分子の操作: AFM 利用 81
   　4.2.3 未来予測 85
   4.3 多探針（長谷川修司） 88
   　4.3.1 現状 88
   　4.3.2 課題 88
   　4.3.3 未来予測 90
   4.4 液中 AFM 測定（山田啓文） 91
   　4.4.1 液中 AFM の必要性 91
   　4.4.2 液中動作ダイナミックモード AFM 92
   　4.4.3 課題 96
   　4.4.4 未来予測 97
   4.5 高速 SPM（安藤敏夫） 99
   　4.5.1 AFM の高速化に必要なデバイスの最適化 99
   　4.5.2 高速 SPM の世界の動向 102
   　4.5.3 未来予測 103
   4.6 非線形誘電率顕微鏡（長康雄） 105
   　4.6.1 走査型非線形誘電率顕微鏡の動作原理 105
   　4.6.2 SNDM を用いた強誘電体材料評価 107
   　4.6.3 SNDM を用いた半導体材料評価 108
   　4.6.4 SNDM 強誘電体プローブメモリー 108
   　4.6.5 新型高機能 SNDM と未来予測 109
   4.7 外場との結合（中嶋健・末岡和久・米田忠弘） 111
   　4.7.1 光励起 STM 111
   　4.7.2 磁気共鳴力顕微鏡(MRFM) 112
   　4.7.3 電子スピン共鳴(ESR)との結合 114
   　4.7.4 未来予測 117
   4.8 スピン計測（末岡和久） 117
   　4.8.1 スピン偏極 STM (SP-STM) 119
   　4.8.2 STM によるスピン依存分光 123
   　4.8.3 バリスティック(電子・ホール)磁気顕微鏡(BEMM/BHMM) 124
   　4.8.4 交換相互作用力顕微鏡 124
   　4.8.5 SPM によるスピン計測の未来予測 127
   4.9 プローブ技術（吉村雅満・片山光浩・山田啓文・中嶋健） 128
   　4.9.1 従来技術 128
   　4.9.2 カーボンナノチューブ(CNT)探針 130
5 走査型プローブ顕微鏡の応用 137
   5.1 磁性材料の評価（末岡和久） 137
   5.2 半導体材料の評価（長谷川修司・富取正彦） 139
   　5.2.1 半導体表面の評価 140
   　5.2.2 半導体界面の評価 141
   　5.2.3 半導体ナノ構造の評価と操作 141
   　5.2.4 半導体欠陥等の評価 142
   　5.2.5 半導体プロセスの評価 143
   5.3 LSI デバイスのSPM評価（臼田宏治・吉川貴司・門旧靖） 143
   　5.3.1 LSI デバイスの現状と未来予測 143
   　5.3.2 LSI デバイス評価技術の現状と SPM 評価の最新動向 146
   　5.3.3 LSI デバイスおよび SPM 評価の課題と未来予測 152
   5.4 固体触媒への応用（大西洋） 153
   　5.4.1 SPM に何を期待するか 153
   　5.4.2 脱硫触媒モデルのSTM観察 154
   　5.4.3 SPM 触媒研究のロードマップ 156
   5.5 生体試料の評価（猪飼篤） 158
   　5.5.1 バイオサイエンス 158
   　5.5.2 バイオテクノロジー 163
   5.6 有機・高分子材料の評価（中嶋健・田中秀吉） 167
   　5.6.1 有機材料の評価 167
   　5.6.2 高分子材料の評価 171
   　5.6.3 今後の方向性と未来予測 174
6 各種 SPM の理論 179
   6.1 STM の現状（塚田捷） 179
   6.2 原子間力顕微鏡理論の現状（塚田捷） 180
   6.3 汎用 SPM シミュレータの開発計画と課題（塚田捷） 181
   　6.3.1 階層型探針・試料模型 182
   　6.3.2 修飾探針による STM のシミュレーション 183
   　6.3.3 液中 AFM 計測の理論解析法 183
   　6.3.4 有機分子およびタンパク質分子の SPM シミュレーション 184
   　6.3.5 ケルビン力顕微鏡シミュレータ 185
   6.4 NSOM のシミュレーションの現状と課題（長谷川信也） 185
   6.5 未来予測（塚田捷・長谷川信也） 187
7 SPM の夢はいつ実現するか?― SPM ロードマップ―（久保理） 191
索引 199
1 21世紀の科学と技術の動向（森田清三） 1
   1.1 21世紀の科学と技術の動向 1
   1.2 前回の予測(SPMロードマップ2000)と現状 3
4.

図書

東工大
目次DB
図書
東工大
目次DB
4. 原子・分子のナノ力学
森田清三編著
出版情報: 東京 : 丸善, 2003.1  ix, 200p ; 21cm
所蔵情報: loading…
目次情報: 続きを見る
1 序論 21世紀の科学と技術(森田清三) 1
   1.1 21世紀初頭はナノテクノロジーナノサイエンスの時代 1
   1.2 21世紀初頭に来る半導体デバイスのミクロ化の壁 2
   1.3 21世紀前半は微細加工から微細組立への転換期 4
   1.4 ナノ力学的原子・分子用工具としての原子間力顕微鏡への期待 5
2 力学的ナノ測定の原理 7
   2.1 STM,AFM,SPMの基礎(森田清三) 7
   2.2 非接触AFM・動的な変位検出(菅原康弘) 17
   2.3 ダンピングの測定方法(富取正彦・新井富子) 22
   2.4 非接触動作とタッピング動作の比較(山田啓文) 26
   2.5 静電気力顕微鏡(山田啓文) 31
   2.6 磁気力顕微鏡・交換相互作用力顕微鏡(武笠幸一・細井浩貫) 37
   2.7 NC-AFM/STM同時測定(富取正彦) 4
   2.8 フォースカーブ測定(猪飼 篤) 45
   2.9 非接触原子間力顕微鏡の理論的な基礎(塚田 捷・佐々木成朗) 51
   2.10 ナノ力学の分子動力学シミュレーション(岡崎 進) 65
3 半導体へのナノ力学的応用(菅原康弘) 76
   3.1 はじめに 76
   3.2 Si(111)√3×√3-Ag表面の非接触AFM測定(室温) 76
   3.3 水素終端されたSi(100)2×1:H表面の非接触AFM測定 81
   3.4 Si-Sb混在Si(111)5√3×5√3-Sb表面の非接触AFM観察 86
   3.5 Si-Ge混在Si(111)7×7-Ge表面の原子識別 89
   3.6 LT-NC-AFMを用いた力学的な原子の操作 91
4 半導体のナノ力学的複合測定(富取正彦・新井豊子) 93
   4.1 まえがき 93
   4.2 ピエゾ抵抗カンチレバーを利用したNC-AFM装置 94
   4.3 印加電圧によるNC-AFM像の変化 94
   4.4 原子像コントラスト反転の考察 96
   4.5 トンネル電流の同時観察 99
   4.6 ダンピングの同時測定 101
   4.7 まとめ 102
5 磁性体へのナノ力学応用(武笠幸一・細井浩貴) 104
   5.1 強磁性体探針を用いた反強磁性体NiO(001)表面のNC-AFM観察 104
   5.2 重ね焼き法を用いたNC-AFM像の解析 106
   5.3 まとめ 108
6 分子系へのナノ力学的応用(山田啓文) 110
   6.1 はじめに 110
   6.2 有機分子材料の高分解能AFM観察 111
   6.3 静電相互作用とエネルギー散逸 119
   6.4 ダイナミックモードAFMの液体環境への応用 124
   6.5 今後の展開 126
7 走査型プローブ顕微鏡による有機分子の複合計測(杉村博之) 129
   7.1 はじめに 129
   7.2 KPFMによる有機分子薄膜の表面電位測定 130
   7.3 まとめ 138
8 生体高分子ナノ力学(猪飼 篤・荒川秀雄・岡嶋孝治) 140
   8.1 生体高分子の力学特性 140
   8.2 AFMによる力学特性測定法 144
   8.3 力学特性測定結果とその意義 150
   8.4 将来への展望 159
9 自励発振法を用いた液中観察用原子間力顕微鏡(岡嶋孝治・荒川秀雄・猪飼 篤) 161
   9.1 まえがき 161
   9.2 自励発振法を用いたAFM 162
   9.3 カンチレバーの共振特性 163
   9.4 自励発振特性 164
   9.5 液中観察像 166
   9.6 自励発振の必要条件 167
   9.7 むすび 168
10 半導体を中心としたナノ力学的理論(塚田 捷・佐々木成朗) 170
   10.1 はじめに 170
   10.2 非接触AFM像の第一原理シミュレーション法 170
   10.3 Si(111)√3×√3-Ag表面 172
   10.4 Si(100)2×1表面 180
   10.5 Si(100)2×1:H表面 182
   10.6 探針に吸着した原子の位置ゆらぎ 186
   10.7 おわりに 187
11 バイオ高分子のナノ力学理論(岡崎 進) 189
   11.1 計算 189
   11.2 フォースカーブ 190
   11.3 ポリアラニンの構造変化 192
索引 195
1 序論 21世紀の科学と技術(森田清三) 1
   1.1 21世紀初頭はナノテクノロジーナノサイエンスの時代 1
   1.2 21世紀初頭に来る半導体デバイスのミクロ化の壁 2
5.

図書
図書
5. 走査型プローブ顕微鏡 : 基礎と未来予測
森田清三編著
出版情報: 東京 : 丸善, 2000.2  xi, 181p ; 21cm
所蔵情報: loading…
6.

図書
図書
6. はじめてのナノプローブ技術
森田清三著
出版情報: 東京 : 工業調査会, 2001.1  194p ; 21cm
シリーズ名: ビギナーズブックス ; 18
所蔵情報: loading…
文献の複写および貸借の依頼を行う
 文献複写・貸借依頼