所蔵情報QRコード
Advanced technology and reliability of electronic devices and systems : proceedings of the 8th International Workshop, Department of Mechanical Sciences and Engineering, Tokyo Institute of Technology, January 15, 2004, Meeting Room at Main Building of International House,Tokyo Institute of Technology / organizers, Kikuo Kishimoto, Soon-Bok Lee, Qiang Yu ; sponsors, Tokyo Institute Technology (The 21st Cetntury COE Program), Japan Society of Mechanical Engineers (RC-202 Committee)
- 資料種別:
- 図書
- 出版情報:
- [Tokyo, Japan] : [Tokyo Institute of Technology], [2004]
- 形態:
- 1 v. ; 30 cm
- 著者名:
- 分担著者名:
- 岸本, 喜久雄
- 書誌ID:
- BA67503770
類似資料:
東京工業大学 | |
東京工業大学 |
東京工業大学 |
東京工業大学 | |
東京工業大学 |
東京工業大学 |
東京工業大学 |
培風館 |
東京工業大学 |
Trans Tech Publications |