close
1.

図書

図書
森田清三著
出版情報: 東京 : 工業調査会, 1992.2  252p ; 19cm
シリーズ名: K books ; 83
所蔵情報: loading…
2.

図書

図書
森田清三編著
出版情報: 東京 : 丸善, 2000.2  xi, 181p ; 21cm
所蔵情報: loading…
3.

図書

図書
淺川雅, 岡嶋孝治, 大西洋著 ; 日本分析化学会編
出版情報: 東京 : 共立出版, 2017.12  vi, 107p ; 21cm
シリーズ名: 分析化学実技シリーズ ; 機器分析編 ; 15
所蔵情報: loading…
目次情報: 続きを見る
1 : 走査型プローブ顕微鏡のイロハ
2 : AFMにはじめてさわる
3 : 形状像の見方
4 : もう一歩先へ:生体物質の測定
5 : さらに一歩先へ:弾性測定
6 : さらに一歩先へ:局所仕事関数の測定
7 : さらに一歩先へ:プローブのいろいろ
1 : 走査型プローブ顕微鏡のイロハ
2 : AFMにはじめてさわる
3 : 形状像の見方
4.

図書

図書
秦信宏編著
出版情報: 東京 : オーム社, 2013.8  xiii, 252p, 図版 [4] p ; 21cm
所蔵情報: loading…
目次情報: 続きを見る
第1章 走査型プローブ顕微鏡 / SPM
第2章 カンチレバー
第3章 SPM測定モードの基礎
第4章 SPMの基礎的な試料調製と観察方法
第5章 SPM観察時の注意点
第6章 より高度なSPM観察を行うために
第7章 : 進化するプローブ顕微鏡技術
第1章 走査型プローブ顕微鏡 / SPM
第2章 カンチレバー
第3章 SPM測定モードの基礎
5.

図書

図書
池谷元伺, 三木俊克著
出版情報: 東京 : シュプリンガー・フェアラーク東京, 1992.7  xiii, 283p ; 21cm
所蔵情報: loading…
6.

図書

図書
大津元一, 河田聡編
出版情報: 東京 : オプトロニクス社, 2000.4  vii, 133p ; 26cm
所蔵情報: loading…
7.

図書

図書
御子柴宣夫 [ほか] 編著 ; 電子情報通信学会編
出版情報: 東京 : 電子情報通信学会 , 東京 : コロナ社 (発売), 1993.7  viii, 164p ; 22cm
所蔵情報: loading…
8.

図書

東工大
目次DB

図書
東工大
目次DB
ナノ表面研究会編
出版情報: 大阪 : ティー・アイ・シィー, 1994.7  xiv, 401, 4p ; 30cm
所蔵情報: loading…
目次情報: 続きを見る
I 基礎編 1
   第1章 トンネル顕微鏡法 3
   1 トンネル顕微鏡とは 3
   2 トンネル顕微鏡の原理と構造 4
   3 STM/STSによる表面観察と原子操作 9
   4 走査型アトムプローブの開発 11
   5 今後の課題 12
   第2章 原子力顕微鏡入門 14
   1 原子間力顕微鏡の原理1-3) 14
   2 原子間力顕微鏡の応用2-4) 16
   3 AFMで何を見ているのか? 17
   第3章 探針・表面間の原子移動と原子間力顕微鏡の機構 19
   1 はじめに 19
   2 強電界・強電流下での電子状態理論 19
   3 フォーマリズムとモデル 20
   4 計算結果 20
   5 原子間力顕微鏡(AFM)の機構 21
   6 解析的考察 22
II 応用編 25
   第1章 有機・生体材料の測定 27
   第1節 AFMの薬学分野への応用 28
   1 まえがき 28
   2 アスピリン結晶 28
   3 フェニトイン結晶 30
   4 おわりに 32
   第2節 結晶化膜のAFM及びSEM観察 33
   第3節 走査プローブ顕微鏡による生体分子集合体の観察 38
   1 はじめに 38
   2 走査プローブ顕微鏡によるDNA・RNAの観察 38
   3 走査プローブ顕微鏡によるタンパク質及び生体分子集合体の観察 40
   4 走査プローブ顕微鏡による脂質膜・生体膜・細胞の観察 42
   5 走査プローブ顕微鏡技術の問題点 43
   第4節 DNA・タンパク質・生体関連物質のSTM/AFM 47
   1 まえがき 47
   2 初期の研究 47
   3 STM 48
   4 AFM 49
   5 終わりに 50
   第5節 液晶のSTM観察 52
   1 はじめに 52
   2 STMによる液晶分子の観察 52
   3 STMによる配向膜表面の観察 53
   4 不良解析手段としてのSTM 55
   5 まとめ 56
   第6節 モデル生体膜 58
   1 はじめに 58
   2 レプリカ膜によるリップル構造の観察 58
   3 リン脂質を積層したLB膜の観察 60
   4 課題と展望 61
   第7節 ラングミュアー・プロジェット膜のAFM観察 62
   1 はじめに 62
   2 LB膜の形成法と構造 62
   3 AFM観察の実際 65
   4 おわりに 67
   第8節 漆塗膜表面の劣化とSTM評価 69
   1 まえがき 69
   2 劣化過程の解析方法 69
   3 塗膜の劣化に伴う物性変化 70
   4 塗膜の観察 71
   5 塗膜の劣化に伴う化学構造の変化 74
   6 おわりに 75
   第2章 金属材料の測定 77
   第1節 EC-AFMによる金属表面における電気化学過程の観察 78
   1 はじめに 78
   2 Au(111)面清浄表面の作成 78
   3 AFM用の電気化学セル 79
   4 0.1MHCIO4水溶液中,アノード分極化のAu(111)面のAFM観察 79
   5 H2SO4水溶液中におけるAu(111)面へCuの電析初期過程のAFM観察 80
   6 まとめ 82
   第2節 珪素銅版のSTM観察 84
   1 はじめに 84
   2 試料 84
   3 表面形態観察と結晶方位解析 84
   4 ECPを併用したSTMによる珪素銅版の表面形態 85
   5 珪素銅版表面の酸化皮膜 86
   6 ファセット構造の生成原因 87
   7 まとめ 88
   第3節 めっき表面のSTM解析 90
   第4節 金属薄膜・多層膜のトポグラフィー 98
   1 はじめに 98
   2 実験方法 98
   3 結果および考察 98
   4 まとめ 102
   第5節 STM,TEM,SEMによる金箔の展延の解明 104
   1 はじめに 104
   2 STM,TEM及びSEMの観察実験 105
   3 結果と考察 106
   4 おわりに 109
   第3章 半導体材料の測定 111
   第1節 Si(100)表面上での金属のエピタキシャル成長 112
   1 まえがき 112
   2 装置 112
   3 実験結果 112
   4 おわりに 122
   第2節 Si上のGe膜の成長過程 123
   1 はじめに 123
   2 STM装置 123
   3 Si(001)面上のSiとGeの成長観察 124
   4 むすび 129
   第3節 H終端Si表面の構造解析 131
   1 はじめに 131
   2 H終端Si表面のSTMによる研究 131
   3 Si(111)表面のHF系溶液によるH終端過程 131
   4 H終端Si(111)表面のSTM原子像 132
   5 H終端Si(111)表面のマイクロラフネス制御と酸化 133
   6 おわりに 135
   第4節 Si表面界面の評価と表面初期酸化課程 137
   1 まえがき 137
   2 シリコン酸化膜界面の評価 137
   3 シリコン表面の初期酸化過程 140
   4 おわりに 141
   第5節 半導体デバイス表面の高精度AFM観察 144
   1 まえがき 144
   2 探針およびカンチレバー技術 144
   3 ホッピング走査技術 146
   4 LSI用コンタクトホールのAFM観察 148
   5 おわりに 149
   第6節 STMによるSi(111)-AI表面の観察 151
   1 まえがき 151
   2 実験方法 151
   3 実験結果および検討 151
   4 おわりに 156
   第7節 Hg1-xCdxTe半導体表面のEC-STM観察 157
   1 まえがき 157
   2 実験 157
   3 結果と考察 158
   4 まとめ 162
   5 おわりに 162
   第4章 無機材料の測定 165
   第1節 SrTiO3(001)還元表面のSTMによる構造解析 166
   1 緒言 166
   2 実験方法 166
   3 SrTiO3(001)表面の構造と電子状態 167
   第2節 AFMによるセラミックスの表面観察 171
   1 まえがき 171
   2 セラミックスの表面・組織観察の現状 172
   3 AFMによるセラミックス表面での破壊の観察 173
   4 AFMによるエッチング面や破面の観察 175
   5 AFMによる粉体表面の観察 178
   6 さいごに 178
   第3節 単結晶MgOの表面構造解析[1] 179
   1 はじめに 179
   2 AFM観察および電子顕微鏡観察 179
   3 結果および考察 179
   4 まとめ 183
   第4節 イオン交換をした雲母のへき開面の溶媒中の観察 184
   1 はじめに 184
   2 実験 186
   3 結果 186
   4 まとめ 188
   第5節 黒鉛層間化合物の層間構造の解析 188
   1 はじめに 188
   2 フッ化黒鉛層間化合物のへき開面のAFM観察 188
   3 塩化物をゲストとする黒鉛層間化合物へのへき開面の構造解析 191
   4 おわりに 193
   第6節 強弾性体の分域構造のSTM観察 195
   1 まえがき…強弾性体の相転移と分域構造… 195
   2 STMとX線回折装置による強弾性体の分域観察と相転移の研究 195
   3 今後のSTMによる相転移現象研究の展開 198
   4 おわりに 199
   第7節 セラミックコーティングとSTM観察 200
   1 はじめに 200
   2 CVDとPVD 200
   3 CVD,PVD法の反応 202
   4 母材材料とCVD膜との反応 202
   5 走査トンネル顕微鏡(STM)の測定 203
   6 STM測定結果と考察 203
   7 結び 205
   第8節 フッ素雲母へき開表面及びマイカガラスセラミックス加工表面のAFM観察 206
   1 はじめに 206
   2 実験手法 207
   3 結果と考察 208
   4 おわりに 211
   第5章 計測・解析技術への応用 213
   第1節 STMによる固液界面構造解析 214
   1 はじめに 214
   2 電気化学STM装置 214
   3 貴金属単結晶電極の清浄表面構造 215
   4 表面の構造変化 215
   5 吸着原子構造解析 217
   6 半導体表面 219
   7 おわりに 219
   第2節 原子間力顕微鏡の電気化学への応用 222
   1 はじめに 222
   2 金属電極上でのUPD過程観察1) 222
   3 半導体電極の観察 223
   4 おわりに 227
   第3節 STMによるCVD過程観察 229
   1 はじめに 229
   2 STMによるフィラメントCVD過程観察 229
   3 おわりに 233
   第4節 無電解薄膜析出過程のin situ STM解析 234
   1 緒言 234
   2 無電解析出法による薄膜形成 234
   3 実験系及び観察手法 234
   4 観察例 236
   5 結言 237
   第5節 AFMによるX線ホログラム像の解析 240
   1 光学技術と表面トポグラフィー 240
   2 X線ホログラフィー 240
   3 X線レーザーを用いたホログラフィー8) 241
   4 AFMによるホログラム読み出しと像再生9) 242
   5 まとめ 244
   第6節 成長膜表面のカイネティックラフニング 245
   1 はじめに 245
   2 カイネティックラフニングとは 245
   3 ラフネスのスケーリング解析 246
   4 銅めっき表面3) 246
   5 CVDによるW薄膜成長表面4) 248
   6 まとめ 248
   第7節 材料表面ラフネスのフラクタル解析 250
   1 はじめに 250
   2 自己相似フラクタルと自己アファインフラクタル 250
   3 ラフネスの指標 251
   4 表面の幅のスケーリング 251
   5 パワースペクトル密度 253
   6 解像度に関する注意 254
   7 まとめ 255
   第8節 STMによる破面解析(事故解析への応用) 256
   1 はじめに 256
   2 破壊の基礎知識 256
   3 各種破壊様式とSTM破面模様の関係 261
   4 まとめ 263
   第9節 STMによる破面解析(破面のフラクタル:その理論と応用) 265
   1 はじめに 265
   2 フラクタルとは何か 265
   3 フラクタル次元について 266
   4 STM破面へのフラクタル幾何学の適用 267
   5 最後に 269
   第10節 精密機械加工面の観察 271
   1 はじめに 271
   2 STMの位置づけ 271
   3 STM探針 271
   4 機械加工面の観察事例 275
   5 おわりに 277
III 各社の取り組み 279
   第1章 メーカー 各社のSTM/AFM等SPM装置と特徴 281
   第2章 デジタル・インスツルメンツ社製NanoScape走査型プローブ顕微鏡(SPM)システム 283
   1 はじめに 283
   2 NanoScapeIII SPMコントロールステーション 283
   3 STM 走査型トンネル顕微鏡 285
   4 AFM 原子間力建微 285
   5 新しい表面情報を検索できるSPM 288
   6 マルチモードSPMユニット 290
   7 大型試料の観察 291
   8 電気化学SPM 291
   9 むすび 292
   第3章 最新の走査型プローブ顕微鏡SPI3700シリーズ 294
   1 はじめに 294
   2 SPI3700シリーズの特長,測定例 294
   3 SPA350 300
   4 おわりに 301
   第4章 TopoMetrix TMX-2000シリーズ 302
   1 まえがき 302
   2 TMX-2000シリーズの概要と特長 302
   3 TMX-2000エレクトロニクス制御システム 302
   4 計測ステージモジュール 303
   5 SPMの応用測定モード 307
   6 AFMカンチレバー 308
   7 オープンアーキテクチャー 309
   第5章 島津超高真空走査型トンネル顕微鏡AIS-900 島津雰囲気制御走査型トンネル顕微鏡WET-901 310
   1 はじめに 310
   2 超高真空走査型トンネル顕微鏡 AIS-900 310
   3 雰囲気制御走査型トンネル顕微鏡 WET-901 311
   4 むすび 317
   第6章 日本電子製UHV-STMの特徴 318
   1 はじめに 318
   2 UHV-STMの特徴 318
   3 装置の機能と構成 319
   4 応用例 323
   5 おわりに 327
   第7章 ドイツOMICRON社製UHVコンバインドAFM/STM 329
   1 まえがき 329
   2 UHVコンバインドAFM/STM 329
   3 おわりに 331
   第8章 オリンパス光学工業社製OSTM及びNV2000 332
   1 まえがき 332
   2 OSTM1,2) 332
   3 NV2000 333
   4 カンチレバー 336
   5 おわりに 341
   第9章 ユニソク製 走査トンネル顕微鏡と関連製品 344
   1 大気中STM(USM-201,202型) 344
   2 真空中極低温STM(USM-203型) 344
   3 超高真空STM(USM-301,401型) 344
   4 超高真空,超低温STM(USM-501型) 344
   5 超高真空,多目的STM(USM-601型) 344
   6 超高真空STM/AFM(USM-701型) 344
   7 特注システム 344
   8 各種付属装置 344
   IV 新技術及び今後の展開 347
   第1章 走査型プローブ顕微鏡の開発 349
   1 走査型プローブ顕微鏡(SPM) 349
   2 走査型原子力間/トンネル顕微鏡(AFM/STM)[AFMとSTMの複合化] 349
   第2章 電子のスピン情報を得るSPMの可能性 355
   1 はじめに 355
   2 電子スピン共鳴(ESR)画像 355
   3 トンネル電流によるラーマー周波数の測定 355
   4 マイクロ波と結合した系のSTM 357
   5 これからの展望 360
   第3章 STM,AFMの周辺機器の開発と走査型プローブ顕微鏡の今後の発展動向 362
   1 まえがき…表面物理関連機器等とその今後の発達… 362
   2 走査型プローブ顕微鏡(SPM)の現状と今後の動向 364
   3 STM,AFMの周辺機器と開発と応用 370
   4 終わりに 372
   第4章 高温でのSTM構造解析 374
   1 はじめに 374
   2 高温UHV-STM装置開発 374
   3 高温UHV-STMの観察方法 375
   4 Si(111):(7×7)-(1×1)構造相転移の観察 376
   5 Si(111)表面の原子ステップ移動観察 377
   6 おわりに 378
   第5章 蛍光顕微鏡・原子間力顕微鏡一体型システムの開発・製作 380
   1 はじめに 380
   2 顕微鏡の主要構成 380
   3 制御システムなど 382
   4 観察 383
   5 今後の展開 386
   第6章 分子間力顕微鏡の開発 387
   1 はじめに 387
   2 実験方法 387
   3 結果と考察 388
   4 まとめと今後の展開 391
   第7章 STMによる表面励起反応を用いた原子微細加工 394
   1 まえがき 394
   2 STM-EBISEDによる微細加工 394
   3 電界蒸発による原子微細加工 396
   4 おわりに 399
   第8章 AFMによる表面微細加工 400
   1 はじめに 400
   2 AFMチップを用いる材料表面の加工 401
   3 おわりに 401
I 基礎編 1
   第1章 トンネル顕微鏡法 3
   1 トンネル顕微鏡とは 3
9.

図書

東工大
目次DB

図書
東工大
目次DB
応用物理学会有機分子・バイオエレクトロニクス分科会編
出版情報: 東京 : 共立出版, 1993.6  vi, 174p ; 22cm
所蔵情報: loading…
目次情報: 続きを見る
第1章 走査トンネル顕微鏡の理論
   1.1 はじめに 1
   1.2 理論シミュレーションの方法論 2
   1.3 理論シミュレーションの実例 4
   A.グラファイト 4
   B.Si(100)再構成表面 5
   C.Si(111)√3×√3-B表面の負性微分抵抗 7
   1.4 Si(111)√3×√3-Ag表面の電子状態とSTM像 8
   1.5 透明な分子や最外原子層 10
   A.解析的考察 10
   B.ベンゼン/グラファイト系の実例 13
   C.TiC(111)/グラファイト単原子層の実例 14
   1.6 弱く吸着した閉殻原子・分子によるトンネル電流の増強 15
   1.7 電子格子相互作用 17
   1.8 STMの発光 19
   1.9 単一電子トンネル過程(SET) 21
   1.10 おわりに 23
   文献 24
第2章 原子間力顕微鏡の原理
   2.1 はじめに 26
   2.2 AFMの原理と装置 27
   A.探針・カンチレバー28
   B.変位測定系 30
   2.3 AFMの動作モード 31
   A.引力モード(非接触モード) 31
   B.斥力モード(接触モード) 33
   2.4 有機分子系の観察 36
   2.5 今後の課題 40
   文献 42
第3章 有機分子・バイオ材料の観察・評価
   3.1 STMによる分子・バイオの観察 44
   A.導電性の有機単結晶 46
   B.薄い絶縁性の試料 46
   C.厚い絶縁性の試料 54
   D.非常に厚い絶縁性の試料 57
   3.2 AFMによる分子・バイオの観察 58
   A.絶縁性の有機単結晶 59
   B.高分子膜の測定 59
   C.孤立した分子や高分子の観察 63
   D.バイオ材料のダイナミクスの観察 63
   文献 66
第4章 生体模倣膜の観察・評価
   4.1 高速走査型STM装置 69
   4.2 高速走査のための技術的な考察 70
   4.3 生体膜と合成二分子膜 73
   4.4 アゾベンゼン誘導体を用いた合成二分子膜および単分子膜 76
   4.5 アゾベンゼン誘導体の固体物性 79
   4.6 STMによる走接観察 82
   4.7 一般的な有機分子集合体として 87
   4.8 おわりに 89
   文献 89
第5章 生体分子/生体構造の観察・評価
   5.1 はじめに 92
   5.2 一般的なもの 92
   5.3 核酸 95
   5.4 蛋白質 96
   5.5 多糖類 99
   5.6 細胞やその他の生体試料の観察例 99
   5.7 まとめ 100
第6章 導電性有機材料の観察・評価
   6.1 はじめに 101
   6.2 試料および実験 101
   6.3 結果と考察 102
   A.K-(BEDT-TTF)2Cu(NCS)2 102
   B.B-(BEDT-TTF)2I3 107
   C.(BEDT-TTF)2KHg(SCH)4,(NH4)Hg(SCN)4 111
   D.(BEDT-TTF)2I3薄膜 115
   E.TTF-TCNQ薄膜 119
   6.4 まとめ 121
   文献 122
第7章 液晶および分子性超薄膜の観察・評価
   7.1 はじめに 124
   7.2 STM複合システム 124
   7.3 液晶分子系のSTM研究 127
   A.初期の研究 127
   B.アンカリング構造の研究 129
   C.液晶試料の作成法 135
   7.4 分子性超薄膜系のSTM研究 137
   A.0次元系分子 137
   B.1次元系分子 138
   C.2次元系分子 138
   D.3次元系分子 139
   7.5 むすび 139
   文献 140
第8章 電気化学および情報変換への応用
   8.1 はじめに 142
   8.2 STMによる電気化学研究 142
   8.3 STMによる表面微細加工(大気・真空雰囲気中) 147
   8.4 溶液中における表面微細加工 149
   8.5 STMと光電気化学のハイブリッド化による超高密度情報記録 158
   文献 162
第9章 原子操作への応用
   9.1 はじめに 164
   9.2 STMによる表面修飾の種類 164
   9.3 電界蒸発法による実験 166
   A.試料と探針 166
   B.実験 167
   9.4 まとめ 169
   文献 171
   索引 172
第1章 走査トンネル顕微鏡の理論
   1.1 はじめに 1
   1.2 理論シミュレーションの方法論 2
10.

図書

東工大
目次DB

図書
東工大
目次DB
重川秀実 [ほか] 共編
出版情報: 東京 : 裳華房, 2005.11  xii, 429p ; 22cm
所蔵情報: loading…
目次情報: 続きを見る
第1章はじめに 1
第2章プローブ顕微鏡と局所分光の基礎
   2.1走査プローブ顕微鏡の基礎 13
   2.1.1走査トンネル顕微鏡の動作原理 14
   2.1.2原子間力顕微鏡の動作原理 18
   2.3除振技術 21
   2.1.4粗動機構 24
   2.1.5微動機構 28
   2.1.6STM用探針 30
   2.1.7AFM用探針 31
   2.1.8フィードバック回路 34
   2.2電子分光の理論 35
   2.2.1走査トンネル分光法の基礎 35
   2.2.2共鳴トンネル現象 40
   2.2.3クーロン閉塞と単電子過程 43
   2.2.4電子ホッピングにおけるフォノン効果 49
   2.2.5第一原理リカージョン伝達行列法 52
   2.2.6トンネル領域からコンタクト形成へ 54
   2.2.7原子ワイヤー 58
   2.2.8分子架橋系 63
   2.3力学分光の理論 68
   2.3.1はじめに 68
   2.3.2マクロな物理量-周波数シフト- 69
   2.3.3ミクロな物理量-探針-表面間相互作用- 73
   2.3.4理論と実験との比較 76
   2.3.5おわりに 79
第3章電子分光
   3.1トンネル分光 82
   3.1.1はじめに 82
   3.1.2顕微鏡法から分光法へ 83
   3.1.3走査トンネル分光法の原理と測定例 85
   3.1.4非弾性トンネル分光 92
   3.1.5まとめ 104
   3.2スピン偏極トンネル分光 105
   3.2.1はじめに 105
   3.2.2強磁性体探針による分光 106
   3.2.3実験例 109
   3.2.4SP-STM/STS用探針 113
   3.2.5まとめ 115
   3.3局所トンネル障壁・微視的仕事関数計測 116
   3.3.1はじめに 116
   3.3.2計測原理 117
   3.3.3表面形状の影響 121
   3.3.4計測上の注意点 122
   3.3.5まとめ 126
   3.4局所容量計測 127
   3.4.1歴史的背景 127
   3.4.2計測原理 129
   3.4.3半導体への応用例 131
   3.4.4現状 133
   3.4.5おわりに 134
   3.5電気化学分光 135
   3.5.1固液界面と電気化学STM 135
   3.5.2試料電位掃引を伴う電気化学STM測定 138
   3.5.3電気化学STM像のトンネル電流依存性 140
   3.5.4水溶液中におけるトンネル電流-距離曲線 141
   3.5.5まとめ 143
第4章力学的分光
   4.1原子間力計測 148
   4.1.1非接触法・周波数シフト 149
   4.1.2ファンデルワールス力 154
   4.1.3共有結合力 157
   4.1.4静電気力 162
   4.1.5原子分解能を実現するには 166
   4.2静電気力計測 167
   4.2.1はじめに 167
   4.2.2表面電位測定の原理 168
   4.2.3KFMの動作方式 169
   4.2.4KFMによる表面電位測定例 173
   4.2.5走査容量原子力間力顕微鏡法 176
   4.2.6おわりに 178
   4.3磁気力計測 179
   4.3.1MFMの原理 180
   4.3.2MFM計測技術 183
   4.3.3磁性媒体観察例 188
   4.3.4最近のマイクロマグネティクス計測 192
   4.3.5おわりに 195
   4.4散逸・非保存力計測 196
   4.5分子間力計測 208
   4.5.1生化学反応のナノスケール測定 208
   4.5.2動的分子間力分光法の原理 209
   4.5.3効率良い測定手法 215
   4.5.4熱揺らぎ 217
   4.5.5力増加速度の制御 222
   4.5.6まとめ 223
第5章光学的分光
   5.1固体の光分光の基礎 227
   5.1.1物質中の光の伝搬と光学定数 228
   5.1.2固体の光吸収 229
   5.1.3固体の光散乱 234
   5.1.4表面増強およびイメージング 251
   5.1.5超高速分光 254
   5.2近接場分光 264
   5.2.1はじめに 264
   5.2.2近接場光 267
   5.2.3近接場光学顕微鏡 270
   5.2.4SNOMの分解能 276
   5.2.5位置制御 278
   5.2.6分光技術 280
   5.2.7まとめ 286
   5.3STM発光分光 286
   5.3.1はじめに 286
   5.3.2電子トンネル励起発光 288
   5.3.3STM発光計測技術 291
   5.3.4計測例 297
   5.3.5まとめ 302
   5.4光STM 302
   5.4.1はじめに 302
   5.4.2光と試料の相互作用 304
   5.4.3光STMにおける留意点と計測技術 309
   5.4.4まとめ 320
   5.5局所誘電率計測 321
   5.5.1走査非線形誘電率顕微鏡 321
   5.5.2局所線形誘電率分布測定 328
   5.5.3局所非線形誘電率分布測定 329
第6章発展的応用分光
   6.1微小質量計測 337
   6.1.1はじめに 337
   6.1.2カンチレバーの設計 338
   6.1.3カンチレバーの共振特性の利用 339
   6.1.4微小変位・振動検出技術と微小質量計測 341
   6.2局所温度・熱物性計測 344
   6.2.1走査熱顕微鏡 344
   6.2.2温度・熱伝導性画像の単純計測法 344
   6.2.3SThMにおける定量温度計測 348
   6.3ナノチューブ探針と多探針計測 351
   6.3.1はじめに 351
   6.3.2カーボンナノチューブ探針 353
   6.3.3マルチプローブ顕微鏡 357
   6.3.4まとめ 360
   6.4液中ダイナミックモード計測 360
   6.4.1はじめに 360
   6.4.2カンチレバー振動の励起法 362
   6.4.3動作制御方式 364
   6.4.4おわりに 368
第7章局所分光の実践例
   7.1有機・バイオ分子の解析 371
   7.1.1はじめに 371
   7.1.2試料調製法 372
   7.1.3有機・バイオ分子のSTM測定 374
   7.1.4有機・バイオ分子の走査フォース顕微鏡測定 381
   7.1.5SPMによる単一(少数)分子の電気伝導計測 383
   7.2触媒・反応過程の解析 388
   7.2.1はじめに 388
   7.2.2サイト選別した表面反応性 389
   7.2.3金属/酸化物界面の電子状態と共鳴電子トンネリング 392
   7.2.4非弾性トンネル分光法の応用 394
   7.2.5絶縁性酸化物膜上での分子の振動励起 395
   7.2.6微粒子化による触媒活性の発現 398
   7.2.7格子歪みに起因した触媒活性の変化 400
   7.3半導体量子構造の解析 402
   7.3.1波動関数マッピング 402
   7.3.2単電子トンネリング 406
   7.3.3ナノ光学応答特性 411
   あとがき 420
   索引 422
第1章はじめに 1
第2章プローブ顕微鏡と局所分光の基礎
   2.1走査プローブ顕微鏡の基礎 13
文献の複写および貸借の依頼を行う
 文献複写・貸借依頼