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1.

図書

図書
福田務, 田中洋一郎著
出版情報: 東京 : ナツメ社, 2002.10  227p ; 19cm
シリーズ名: 図解雑学 : 絵と文章でわかりやすい!
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2.

図書

図書
橋本尚, 橋本岳著
出版情報: 東京 : 講談社, 2001.12  vi, 232p ; 21cm
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3.

図書

図書
論文飜譯委員会 [編]
出版情報: 東京 : 電信電話學會, 1930.11  1冊 ; 23cm
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4.

図書

図書
毛塚博史編著 ; 中野善明, 光井俊治 [執筆]
出版情報: 東京 : 実教出版, 2006.4  172p ; 21cm
シリーズ名: 専門基礎ライブラリー
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5.

図書

図書
井上誠一著
出版情報: 東京 : ナツメ社, 2003.2  235p ; 19cm
シリーズ名: 図解雑学 : 絵と文章でわかりやすい!
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6.

図書

図書
藤井信生監修
出版情報: 東京 : オーム社, 2006.1  xiv, 539p ; 21cm
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7.

図書

図書
Nobuyasu Kanekawa ... [et al.]
出版情報: New York : Springer, c2011  xxv, 204 p. ; 25 cm
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Introduction / 1:
Trends in Failure Cause and Countermeasure / 1.1:
Contents and Organization of This Book / 1.2:
For the Best Result / 1.3:
References
Terrestrial Neutron-Induced Failures in Semiconductor Devices and Relevant Systems and Their Mitigation Techniques / 2:
SER in Memory Devices / 2.1:
MCU in Memory Devices / 2.1.2:
SET and MNU in Logic Devices / 2.1.3:
Chip/System-Level SER Problem: SER Estimation and Mitigation / 2.1.4:
Scope of This Chapter / 2.1.5:
Basic Knowledge on Terrestrial Neutron-Induced Soft-Error in MOSFET Devices / 2.2:
Cosmic Rays from the Outer Space / 2.2.1:
Nuclear Spallation Reaction and Charge Collection in CMOSFET Device / 2.2.2:
Experimental Techniques to Quantify Soft-Error Rate (SER) and Their Standardization / 2.3:
The System to Quantify SER - SECIS / 2.3.1:
Basic Method in JESD89A / 2.3.2:
SEE Classification Techniques in Time Domain / 2.3.3:
MCU Classification Techniques in Topological Space Domain / 2.3.4:
Evolution of Multi-node Upset Problem / 2.4:
MCU Characterization by Accelerator-Based Experiments / 2.4.1:
Multi-coupled Bipolar Interaction (MCBI) / 2.4.2:
Simulation Techniques for Neutron-Induced Soft Error / 2.5:
Overall Microscopic Soft-Error Model / 2.5.1:
Nuclear Spallation Reaction Models / 2.5.2:
Charge Deposition Model / 2.5.3:
SRAM Device Model / 2.5.4:
Cell Matrix Model / 2.5.5:
Recycle Simulation Method / 2.5.6:
Validation of SRAM Model / 2.5.7:
Prediction for Scaling Effects Down to 22 nm Design Rule in SRAMs / 2.6:
Roadmap Assumption / 2.6.1:
Results and Discussions / 2.6.2:
Validity of Simulated Results / 2.6.3:
SER Estimation in Devices/Components/System / 2.7:
Standards for SER Measurement for Memories / 2.7.1:
Revisions Needed for the Standards / 2.7.2:
Quantification of SER in Logic Devices and Related Issues / 2.7.3:
An Example of Chip/Board-Level SER Measurement and Architectural Mitigation Techniques / 2.8:
SER Test Procedures for Network Components / 2.8.1:
Hierarchical Mitigation Strategies / 2.8.2:
Basic Three Approaches / 2.9.1:
Design on the Upper Bound (DOUB) / 2.9.2:
Inter Layer Built-in Reliability (LABIR) / 2.10:
Summary / 2.11:
Electromagnetic Compatibility / 3:
Quantitative Estimation of the EMI Radiation Based on the Measured Near-Field Magnetic Distribution / 3.1:
Measurement of the Magnetic Field Distribution Near the Circuit Board / 3.2.1:
Calculation of the Electric Current Distribution on the Circuit Board / 3.2.2:
Calculation of the Far-Field Radiated EMI / 3.2.3:
Development of a Non-contact Current Distribution Measurement Technique for LSI Packaging on PCBs / 3.3:
Electric Current Distribution Detection / 3.3.1:
The Current Detection Result and Its Verification / 3.3.2:
Reduction Technique of Radiated Emission from Chassis with PCB / 3.4:
Far-Field Measurement of Chassis with PCB / 3.4.1:
Measurements of Junction Current / 3.4.2:
PSPICE Modeling / 3.4.3:
Experimental Validation / 3.4.4:
Chapter Summary / 3.5:
Power Integrity / 4:
Detrimental Effect and Technical Trends of Power Integrity Design of Electronic Systems and Devices / 4.1:
Detrimental Effect by Power Supply Noise on Semiconducting Devices / 4.2.1:
Trends of Power Supply Voltage and Power Supply Current for CMOS Semiconducting Devices / 4.2.2:
Trend of Power Distribution Network Design for Electronic Systems / 4.2.3:
Design Methodology of Power Integrity / 4.3:
Definition of Power Supply Noise in Electric System / 4.3.1:
Time-Domain and Frequency-Domain Design Methodology / 4.3.2:
Modeling and Design Methodologies of PDS / 4.4:
Modeling of Electrical Circuit Parameters / 4.4.1:
Design Strategies of PDS / 4.4.2:
Simultaneous Switching Noise (SSN) / 4.5:
Principle of SSN / 4.5.1:
S-G loop SSN / 4.5.2:
P-G loop SSN / 4.5.3:
Measurement of Power Distribution System Performance / 4.6:
On-Chip Voltage Waveform Measurement / 4.6.1:
On-Chip Power Supply Impedance Measurement / 4.6.2:
Fault-Tolerant System Technology / 4.7:
Metrics for Dependability / 5.1:
Reliability / 5.2.1:
Availability / 5.2.2:
Safety / 5.2.3:
Reliability Paradox / 5.3:
Survey on Fault-Tolerant Systems / 5.4:
Technical Issues / 5.5:
High Performance / 5.5.1:
Transparency / 5.5.2:
Physical Transparency / 5.5.3:
Fault Tolerance of Fault Tolerance for Ultimate Safety / 5.5.4:
Reliability of Software / 5.5.5:
Industrial Approach / 5.6:
Autonomous Decentralized Systems / 5.6.1:
Space Application / 5.6.2:
Commercial Fault-Tolerant Systems / 5.6.3:
Ultra-Safe System / 5.6.4:
Availability Improvement vs. Coverage Improvement / 5.7:
Trade-Off Between Availability and Coverage - Stepwise Negotiating Voting / 5.8:
Basic Concept / 5.8.1:
Hiten Onboard Computer / 5.8.2:
Fault-Tolerance Experiments / 5.8.3:
Extension of SNV - Redundancy Management / 5.8.4:
Coverage Improvement / 5.9:
Self-Checking Comparator / 5.9.1:
Optimal Time Diversity / 5.9.2:
On-Chip Redundancy / 5.10:
High Performance (Commercial Fault-Tolerant Computer) / 5.11:
Basic Concepts of TPR Architecture / 5.11.1:
System Configuration / 5.11.2:
System Reconfiguration on Fault Occurrence / 5.11.3:
Processing Take-Over on Fault Occurrence / 5.11.4:
Fault Tolerance of Fault Tolerance / 5.11.5:
Commercial Product Model / 5.11.6:
Current Application Field: X-by-Wire / 5.12:
Challenges in the Future / 6:
Index
Introduction / 1:
Trends in Failure Cause and Countermeasure / 1.1:
Contents and Organization of This Book / 1.2:
8.

図書

図書
高川弘三 [ほか] 編著
出版情報: 東京 : コロナ社, 2011.1  vii, 258p ; 26cm
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9.

図書

図書
日経エレクトロニクス編 ; 有機エレクトロニクス材料研究会協力
出版情報: 東京 : 日経BP社, 2010.9  192p ; 29cm
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10.

図書

東工大
目次DB

図書
東工大
目次DB
山中千代衛編
出版情報: 大阪 : レーザー技術総合研究所, 2007.11  464p ; 21cm
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1 創立の周年に寄せて
   レーザーは太ったフォトン[宮島 龍興] 1
   進化する光科学技術[霜田 光一] 2
   持続的成長の鍵[石田 寛人] 5
   光科学とレーザー[宅間 宏] 6
   研究と山勘[田幸 敏治] 8
   財団法人レーザー技術総合研究所の立ち上げに参加して[結城 章夫]11
   レーザー総研二十周年に寄せて[西津 潤一] 12
   高速点火核融合炉実現への期侍[苫米地 顯] 13
   ILTと光議連[坂田 東一] 17
   レーザー総研二十周年に寄せて[中原 恒雄] 18
   レーザー技術やレーザー技術総合研究所に対する思い出、エピソード[晝馬 輝夫] 21
   阪大レーザー研四半世紀前の思い[尾崎 正直] 22
   レーザー総研二十周年に寄せて[内田岱二郎] 25
   レーザー総研二十周年に寄せて[北田 幹夫] 27
   レーザー総研への期侍[尾形 仁士] 29
   レーザー核融合研究への参加の想い出[西川 恭治] 31
   手作りのレーザーが発振した日[櫛田 孝司]34
   社会とのむすびつき[田島 俊樹] 35
   レーザー技術総合研究所の萌芽時代[藤岡 知夫] 36
   プラズマ診断とレーザー[藤田 順治] 38
   小さいレーザ、大きいレーザ[伊賀 健一] 41
   レーザー総研二十周年に寄せて[佐々木三郎] 44
   光科学の意識改革[山内 薫] 48
   人工網膜LSIの着想と事業化まで[久間 和生] 49
   私の進学分野を変えたレーザーと光表面改質[村原 正隆] 52
   最新レーザ利用生産システムの発展[沓名 宗春] 53
   レーザー干渉計測定の進歩[永井 達二] 56
-海外からの祝辞-
   Jean-Paul Watrau 58
   Siegbert Witkowski 59
   Michael Key 60
   Guillermo Velarde 62
   Zhizhan Xu 63
   Heinrich Hora 64
   Allan Offenberger 66
2 レーザーと共に
   レーザー・光技術による新産業創成へ向けて[中井 貞雄] 67
   財団法人レーザー技術総合研究所創立二十周年を祝して[豊田 浩一] 70
   高エネルギー密度状態とレーザー核融合の研究と高出力レーザー科学[三間 圀興] 72
   レーザー核融合の波及効果開発[山中 正宣] 75
   レーザーEUV光源開発共同研究と今後のILTへの期待[西原 功修] 76
   太陽光励起レーザーが拓くマグネシウム社会[矢部 孝] 79
   非線形光学結晶CLBOからタンパク質結晶化への展開[森 勇介・佐々木孝友] 82
   ますます重要な環境問題[中島 信昭] 86
   FIREX計画[疇地 宏] 88
   レーザー総研二十周年に寄せて[田中 和夫] 93
   創立二十周年に寄せて[乗松 孝好] 96
   レーザー研の一員となって[萩行 正憲] 98
   レーザープラズマ極端紫外(EUV)光源開発研究[西村 博明] 102
   レーザー同位体分離の研究から思う基礎研究の重要性[阪部 周二] 105
   レーザー総研と阪大レーザー研について思うこと[猿倉 信彦] 110
   レーザー総研二十周年に寄せて[實野 孝久] 112
   原子法レーザー同位体分離[藤田 尚徳] 114
   原子力とレーザー同位体分離[仁木 秀明]117
   レーザー利用技術普及のさきがけ[河村 良行] 120
   光力[阪上 幸男] 123
   レーザー総研二十周年に寄せて[藤原 閲夫] 125
   粒子ビーム技術とレーザー技術[宮本 修治] 128
   私にとってのCO2レーザー[北嶋 巌] 130
   固体レーザーのルネサンス[金邉 忠] 132
   世界最大から最小まで[横谷 篤至] 135
   レーザー総研二十周年に寄せて[村上 匡且] 138
   活用したいバブルの遺産[吉田 実] 140
   レーザー同位体分離とレーザービーム伝播[陳 延偉] 143
   レーザー総研二十周年に寄せて[池田 直昭] 146
   レーザー総研二十周年に寄せて[遠藤 琢磨] 148
   核融合実験屋と光科学[中井 光男] 151
   レーザー総研二十周年に寄せて[陳 基忠] 153
   誘雷から太陽エネルギーサイクルへ[内田 成明] 154
   レーザー総研でお世話になった二年半[出口 博史] 156
   レーザー総研二十周年に寄せて[足立 智] 159
   レーザー総研での研究の思い出[草場 光博] 162
   レーザー総研での自由電子レーザー開発研究[浅川 誠] 165
   レーザー総研二十周年に寄せて[柴田 穣] 168
   レーザー総研二十周年に寄せて[橋田 昌樹] 170
3 レーザー総研の誕生[山中千代衛] 172
4 レーザー総研の構成
   レーザー総研の構成[山中千代衛] 187
   総研二十周年に寄せて[中塚 正大] 190
   自由電子レーザーを求めて[今崎 一夫] 192
   太陽光励起レーザーの開発[佐伯 拓] 195
   レーザーγ線による原子炉核変換消滅処理[今崎 一夫] 202
   超短パルスレーザーの開発[藤田 雅之] 205
   レーザー超音波リモートセンシング[島田 義則] 213
   白色光ライダーの開発[藤田 雅之] 216
   レーザー誘雷研究者の武勇伝[島田 義則] 221
   カーボンナノチューブの新応用研究(CNTを用いた化学有害物質の無害化処理)[山浦 道照] 225
   超短パルスレーザー加工[藤田 雅之] 228
   極端紫外(EUV)光源開発[砂原 淳] 234
   レーザー核融合炉設計研究[古河 裕之] 240
   結晶は呼吸する?[本越 伸二] 244
   溶液及び光活性蛋白質の超高遠光反応のダイナミクスとメカニズムの解明[又賀 曻] 247
   レーザー総研創立二十周年に寄せて[谷口 誠治] 249
   Ultrafast Fluorescence Dynamics of Proto-recptor Proteins: Early Studies Recent Developments[Haik Chosrowian] 253
   新しいニーズを求めて[本越 伸二] 256
5 光と蔭のはざま
   年々歳々花相似たり、歳々年々人同じからず 259
   教師の冥利 261
   夢か希望か 263
   大学のビッグバーン 264
   森理事長への感謝 266
   終戦六十年に際して 268
   中空的権力構造とリーダーシップ 270
   IFSA2005とテラー賞 272
   今年のノーベル科学賞決定に際して 274
   求めよ さらば与えられん 276
   規律の崩壊とその対策 278
   わが国のありすがた 280
   又賀 曻教授の日本学士院賞受章を祝う 282
   わが国の科学技術開発への願い 284
   人はパンのみにて生きるものにあらず 286
   世界に出て戦うには 288
   人脈について 290
   ILEとILTとOEL 292
   科学技術の未来予測 294
   ハイパワーレーザー研究四十年と今後の展望 297
   Seven Stars 299
   精神一到何事か成らざらん 301
   レーザー総研諮問会議 303
   IFE(慣性核融合エネルギー)フォーラム 305
   電気学会元会長会に出席して 307
   伏見康治先生白寿のお祝い 309
   リーダーの権限と能力 311
   レーザー学会年次大会に思う 313
   第三次科学技術基本計画に向けて 315
   (財)レーザー技術総合研究所の諮問会議発足 317
   IFE(Intertial Fusion Energy)フォーラムの会合について 320
   研究への導き 322
   科学技術立国と大学の現場 324
   池谷元伺教授の急逝を悼む 326
   日本の再生 328
   ILE参与会開催される 330
   (財)レーザー技術総合研究所の現況 333
   第二十九回ECLIMについて 335
   Spectrum誌について 337
   Allan Offenbergerの抱負 339
   研究ネットワークの価値 342
   慣性核融合研究開発史-レーザー核融合研究パイオニア物語-上梓決まる 344
   Entropia Laser Initiative 346
   大学の危機 348
   成果報告会を終えて 350
   修身斉家治国平天下 352
   レーザー研シンポジウム2006にて 354
   お盆の八月十五日 357
   夏の終わり 359
   三つ子の魂百まで 361
   「レーザークロス」 363
   潮の目は変るか 365
   戦術(Tactics)と戦略(Strategy) 367
   教育再生会議に期待すること 370
   大阪大学レーザーエネルギー学研究センター全国共同利用施設発足の祝典に当って 373
   団塊の世代とその前後 376
   本音と建前 378
   Velardeの悲願達成 380
   研究所作戦要務令 382
   教育再生会議に望む 384
   歴史の伝承 386
   改正教育基本法の成立 388
   新年会ILFメンバーに向けての餞 390
   阪大電気系新年交礼会スピーチ 393
   レーザー学会年次大会に出席して 395
   ポスト石油エネルギーをどうするか 398
   いつも浮ぶ三月の感想 400
   レーザー総研役員会開催 403
   レーザートライアングル 406
   (社)レーザー学会第三十五回通常総会にて 408
   レーザー技術総合研究所創立二十周年記念座談会 411
   攻めと守りとお手上げと 415
   8月に思う 417
   レーザーエネルギー統合研究戦略 419
   原子力ルネッサンス 422
   レーザー総研諮問会議 424
   第五回慣性核融合科学とその応用国際会議開催(IFSA 2007、 Kobe) 424
   第五回慣性核融合科学と応用国際会議(IFSA2007)を終えて(一) 430
   第五回慣性核融合科学と応用国際会議(IFSA2007)を終えて(二) 432
   慣性核融合研究(ICF)はどこまできたか 435
おわりに
編集後記
レーザー技術総合研究所所長 研究暦年表
1 創立の周年に寄せて
   レーザーは太ったフォトン[宮島 龍興] 1
   進化する光科学技術[霜田 光一] 2
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