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1.

図書

図書
中西八郎監修
出版情報: 東京 : シーエムシー出版, 2011.2  vii, 301p ; 21cm
シリーズ名: CMCテクニカルライブラリー ; 382 . 新材料・新素材シリーズ||シンザイリョウ シンソザイ シリーズ
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2.

図書

図書
植草秀裕
出版情報: 東京 : 東京工業大学, 2005.5
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3.

図書

図書
大橋裕二編著 ; 植草秀裕 [ほか] 著
出版情報: 東京 : 東京化学同人, 2015.12  x, 292p ; 22cm
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結晶の周期性とX線
結晶とその対称性
X線の回折と電子密度
回折強度の対称性と消滅則:空間群の判定
回折強度と構造因子
構造因子の位相の決定
構造の精密化
実際の構造解析:解析ソフトウェアの取扱いとCIFファイル
解析結果の整理
中性子構造解析
粉末構造解析
薄膜の構造解析
結晶の周期性とX線
結晶とその対称性
X線の回折と電子密度
4.

図書

図書
大場茂, 植草秀裕著
出版情報: 京都 : 化学同人, 2014.9  vi, 208p ; 26cm
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1章 : X線回折法の原理
2章 : 結晶構造の対称性
3章 : 構造モデルの導出および精密化
4章 : 単結晶育成と測定の用意
5章 : X線回折強度の測定
6章 : 構造解析の実際の流れ
7章 : 構造解析の落とし穴
8章 : CIF
9章 : トラブルシューティング
10章 : SHELXの使い方
1章 : X線回折法の原理
2章 : 結晶構造の対称性
3章 : 構造モデルの導出および精密化
5.

図書

図書
大場茂, 植草秀裕著
出版情報: 東京 : 三共出版, 2016.3  vi, 158p ; 26cm
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1章 : SHELXの概要
2章 : 束縛を用いた精密化
3章 : トラブルシューティング
4章 : コマンドの入力マニュアル
5章 : 構造精密化の基礎
6章 : lstファイルの見方
1章 : SHELXの概要
2章 : 束縛を用いた精密化
3章 : トラブルシューティング
6.

図書

東工大
目次DB

図書
東工大
目次DB
中井泉, 泉富士夫編集
出版情報: 東京 : 朝倉書店, 2009.7  ix, 283p, 図版 [2] 枚 ; 26cm
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1章 粉末X線回析法の原理を理解しよう…中井泉 1
   1.1 粉末回折のためのX線結晶学入門 1
    1.1.2 結晶とは 2
    1.1.3 結晶構造をどのように記述するか 4
    1.1.4 X線と結晶の相互作用 7
   1.2 粉末回折パターンはどのような情報を含むか 13
   1.3 粉末回折パターンをつくってみよう 15
2章 粉末X線回析データを測定する…藤縄剛 18
   2.1 粉末X線回析装置 18
    2.1.1 粉末X線回析のための光学系 18
    2.1.2 X線源 23
    2.1.3 検出器 26
   2.2 回折プロファイルの変形・変位 31
    2.2.1 光学系の原理的な系統誤差 32
    2.2.2 不十分な装置調整による誤差 35
    2.2.3 試料の調整と温度に起因する誤差 36
    2.2.4 機械加工精度や制御方法に起囚する誤差 37
    2.2.5 集中法光学系における回折角の誤差 37
    2.2.6 粉末試料自体の性質の影響 38
   2.3 どうすれば良質のデータを測定できるか 38
    2.3.1 X線 38
    2.3.2 測定試料 44
    2.3.3 最適測定条件 47
3章 粉末X線回析データを読む…山路功 49
   3.1 測定データの前処理 49
    3.1.1 平滑化 49
    3.1.2 バックグラウンド除去 49
    3.1.3 Kα2成分の除去 50
    3.1.4 自動ピークサーチ 50
   3.2 未知試料を同定する 51
    3.2.1 PDFの活用 51
    3.2.2 結晶相同定 54
    3.2.3 コンピュータによる自動検索 55
    3.2.4 検索に有効な情報 57
    3.2.5 同定時の注意 57
    3.2.6 うまく同定できない場合 58
4章 粉末X線回折データ解析の基礎…紺谷貴之 59
   4.1 格子定数の精密測定 59
    4.1.1 格子定数決定のための回折データ測定 59
    4.1.2 回折角の算出方法 60
    4.1.3 格子定数の算出方法 60
    4.1.4 格子定数算出の例 61
   4.2 結晶子サイズ,ひずみ解析 61
    4.2.1 結晶子サイズと回折線の広がり 62
    4.2.2 格子ひずみによる回折線の広がり 62
    4.2.3 半値幅と積分幅の算出 62
    4.2.4 シェラー法 63
    4.2.5 Wil1iamson-Hal1法 63
    4.2.6 装置による回折線の広かりの影響 64
    4.2.7 解析の注意点 64
    4.2.8 解析事例 64
   4.3 定量分析 65
    4.3.1 定量分析の原理 65
    4.3.2 内標準法 66
    4.3.3 標準添加法 66
    4.3.4 検量線を用いない方法 67
    4.3.5 定量分析用の試料調製 67
    4.3.6 定量方法の選択 68
5章 X線回折応用技術 69
   5.1 微小部回折…山田尚 69
    5.1.1 光学系 69
    5.1.2 ゴニオメーター 69
    5.1.3 検出器 70
    5.1.4 応用 70
   5.2 ガンドルフィカメラ…中牟田義博 74
   5.3 薄膜への応用…表和彦 76
    5.3.1 薄膜表面におけるX線の反射・屈折 76
    5.3.2 薄膜のX線回折測定 78
   5.4 結晶子サイズと格子ひずみの解析…井田隆 81
    5.4.1 シェラーの式 81
    5.4.2 結晶子の形状の異方性の影響 82
    5.4.3 結晶のサイズ分布の影響 83
    5.4.4 サイズとひずみの影響の分離 83
    5.4.5 装置による線幅の広がりの影響 83
    5.4.6 転位による格子ひずみ 84
    5.4.7 積層不整による線幅の広がり 85
6章 これだけは知っておきたい結晶学…佐々木聡 86
   6.1 回折でなぜ構造が求まるか 86
    6.1.1 結晶構造 86
    6.1.2 原子座標と結晶面 86
    6.1.3 回折の条件 87
    6.1.4 原子が結晶面に存在する場合 89
   6.2 空間群を理解しよう 89
    6.2.1 対称要素とラウエ群 90
    6.2.2 並進対称性 90
    6.2.3 エッシャーの絵から対称性を学ぶ 91
    6.2.4 空間群 92
    6.2.5 空間群の図 93
    6.2.6 Internationa1 Tablesの使い方 94
    6.2.7 空間群の情報 96
    6.2.8 結晶軸の変換の仕方 96
    6.2.9 ペロブスカイトの例 98
   6.3 回折強度はどのように決まるか 100
    6.3.1 原子散乱因子の物理的意味 100
    6.3.2 結晶構造因子 102
    6.3.3 結晶構造因子の計算 102
    6.3.4 消滅則 103
    6.3.5 空間群を決める 105
    6.3.6 積分反射強度 106
    6.3.7 単結晶から粉末結晶へ 106
   6.4 結晶構造解析に必要な概念をやさしく学ぼう 107
    6.4.1 サイト(席) 107
    6.4.2 席占有率 108
    6.4.3 温度因子 108
    6.4.4 フリーデル則と異常分散 109
    6.4.5 フーリエ合成 110
    6.4.6 差フーリエ合成 111
   6.5 中性子の利用 112
    6.5.1 中性子回折の特徴 112
    6.5.2 核散乱 112
    6.5.3 磁気散乱 113
7章 リートベルト法…泉富士夫 115
   7.1 リートベルト法の原理 115
   7.2 理論回折強度に含まれる関数 117
    7.2.1 表面粗さ補正因子 117
    7.2.2 吸収因子 117
    7.2.3 一定照射幅補正因子 118
    7.2.4 プラッグ角 118
    7.2.5 結晶構造因子 118
    7.2.6 選択配向関数 119
    7.2.7 ローレンツ・偏光因子 119
    7.2.8 バックグラウンド関数 120
   7.3 プロファイル関数 120
    7.3.1 対称プロファイル関数 120
    7.3.2 プロファイルの非対称化法 122
    7.3.3 ピーク位置の移動 123
    7.3.4 プロファイルパラメーターを精密化する際の留意点 123
    7.3.5 部分プロファイル緩和の技法 124
   7.4 リートベルト解析の進み具合と結果の評価 125
    7.4.1 フィットのよさの尺度 125
    7.4.2 精密化パラメーターの標準偏差 126
   7.5 リートベルト解析の手順 127
   7.6 粉末回折データへの構造情報の追加 128
   7.7 パターン分解との比較 129
   7.8 混合物の定量分析 131
    7.8.1 結晶相 131
    7.8.2 無定形成分 132
8章 構造解析のための回折データを測定する 134
   8.1 試料調整の勘所 134
    8.1.1 粒径 134
    8.1.2 選択配向 135
    8.1.3 試料表面の平滑さ 136
    8.1.4 結晶子サイズと格子ひずみ 136
    8.1.5 回折角・強度標準物質の混合 136
   8.2 測定における注意点…藤縄剛 137
    8.2.1 装置と光学系の詞整 137
    8.2.2 照射幅と発散スリット 137
    8.2.3 受光スリット 137
    8.2.4 試料の厚みと照射体積 138
    8.2.5 測定2θ間隔 138
    8.2.6 測定2θ範囲 139
    8.2.7 計数方法 139
    8.2.8 検出器の数え落とし 139
    8.2.9 特性X線の種類 139
   8.3 有機結晶の取扱い法…橋爪大輔 139
    8.3.1 有機結晶の特徴 139
    8.3.2 有機粉末結晶の調製法 140
    8.3.3 有機粉末結晶のマウント 140
   8.4 放射光利用測定…橋爪大輔・八島正知 142
    8.4.1 平板試料とアナライザー結晶を組み合わせた光学系 143
    8.4.2 キャピラリー試料とイメージングプレートを組み合わせた光学系 143
    8.4.3 分解能△d/dと格子面間隔dの範囲 144
    8.4.4 放射光利用前の注意点 144
    8.4.5 予備実験 145
    8.4.6 放射光施設での測定 146
   8.5 中性子粉末回折測定…八島正知 147
9章 RIETAN-FPを使ってみよう…八島正知 149
   9.1 リートベルト解析を行うための準備 149
   9.2 RIETAN-FPおよび関連ソフトウェア 150
   9.3 RIETAN-FPの入出力ファイル 150
   9.4 強度データファイル*.intのフォーマット 151
    9.4.1 一般フォーマッド 151
    9.4.2 RIETANフォーマット 151
    9.4.3 1gor Proテキストフォーマット 152
   9.5 入力ファイル*.ins作成のための文法 152
    9.5.1 入力ファイルのプリプロセッサー 152
    9.5.2 一行の長さの制限 152
    9.5.3 注釈 152
    9.5.4 変数とその値 152
    9.5.5 IfブロックとGo to文 153
    9.5.6 Selectブロック 153
    9.5.7 If・Se1ectブロックのネスト 153
   9.6 入力ファイル(*.ins)の編集 154
    9.6.1 RIETAN-FPの解析手順の概要 154
    9.6.2 回折強度を計算するためのパラメーターの入力 154
    9.6.3 精密化の指標 154
    9.6.4 タイトル,線源の種類,測定条件など 155
    9.6.5 化学種 155
    9.6.6 仮想化学種 155
    9.6.7 空間群 156
    9.6.8 選択配向関数 156
    9.6.9 プロファイル関数の選択 156
    9.6.10 ピーク位置シフト関数 157
    9.6.11 バックグラウンド関数と尺度因子 157
    9.6.12 部分プロファイル緩和 157
    9.6.13 TCHの擬フォークトプロファイル関数 158
    9.6.14 分割プロファイル関数 159
    9.6.15 格子定数と構造パラメーター 159
    9.6.16 構造パラメーター : 占有率 159
    9.6.17 構造パラメーター : 分率座標 160
    9.6.18 構造パラメーター : 原子変位パラメーター 161
    9.6.19 複数の相が含まれている試料における入力 161
    9.6.20 線形制約条件式 161
    9.6.21 除外2θ領域 162
    9.6.22 非線形最小二乗法 162
    9.6.23 結合距離と結合角の計算 162
    9.6.24 原子間距離,結合角,二面角に対する非線形抑制条件 163
   9.7 リートベルト解析の進め方とノウハウ 164
    9.7.1 *.insと*.intの用意 164
    9.7.2 粉末回折パターンのシミュレーション 164
    9.7.3 リートベルト解析のスタート 164
    9.7.4 初期段階1 : 線形パラメーターの精密化 165
    9.7.5 初期段階2 : 安定な収束を目指して 165
    9.7.6 解析中期における留意点1 165
    9.7.7 解析中期における留意点2 166
    9.7.8 解析後期における留意点1 166
    9.7.9 解析後期における留意点2 166
    9.7.10 解析後期における留意点3 166
10章 MEMによる解析 168
   10.1 MEMによる電子・散乱長密度の決定…泉富士夫 168
    10.1.1 MEMの原理 168
    10.1.2 MEMの特徴 169
    10.1.3 粉末回折データへのMEMの適用 170
   10.2 MEMによる構造精密化…泉富士夫 171
    10.2.1 前処理と反復改良 171
    10.2.2 MEM/リートベルト法 172
    10.2.3 MPF法 173
   10.3 最大エントロピーパターソン法…泉富士夫 174
   10.4 MRMとMPF法による電子・核密度と不規則性の解析…八島正知 175
    10.4.1 不規則性 175
    10.4.2 イオン伝導体α-CuIにおける電子密度分布 176
    10.4.3 熱振動と不規則性 176
    10.4.4 MEM,MPF,電子・核密度と不規則構造の解析におけるノウハウ 176
11章 リートペルト解析に取り組む人へのアドバイス…泉富士夫 181
   11.1 空間格子と同価位置 181
    11.1.1 空間格子 181
    11.1.2 同価位置 182
    11.1.3 構造因子計算時の同価位置の取扱い 183
   11.2 熱振動の取扱い 184
    11.2.1 原子の熱振動 184
    11.2.2 デバイ-ワラー因子の計算法 184
    11.2.3 リートベルト解析時の注意 186
   11.3 論文執筆の際の記述法 186
    11.3.1 反射と格子面の指数 186
    11.3.2 構造パラメーターの表記法 186
    11.3.3 熱振動に関係した物理量 187
    11.3.4 構造パラメーターの表 187
    11.3.5 結晶構造の図示 187
    11.3.6 解析結果の考察 188
   付記1 有効イオン半径 189
   付記2 bond valence sum 190
   付記3 有効配位数と電荷分布 190
12章 粉末結晶構造解析 191
   12.1 粉末結晶構造解析の概要…植草秀裕・藤井孝太郎 191
    12.1.1 はじめに 191
    12.1.2 粉末回折データの特徴 191
    12.1.3 構造解析の手順 193
    12.1.4 未知構造解析の実際 197
   12.2 無機結晶解析の実際…池田卓史 201
    12.2.1 はじめに 201
    12.2.2 解析における注意と手順 202
    12.2.3 データ収集 204
    12.2.4 結晶格子と空間群の決定 205
    12.2.5 パターン分解による積分強度の抽出 208
    12.2.6 直接法による初期構造モデルの探索 210
    12.2.7 実空間法による初期構造モデルの探索 213
    12.2.8 pCF法 215
    12.2.9 MEMによる部分構造の推定 216
    12.2.10 中性子回折データの利用 217
   12.3 有機結晶解析の実際…橋爪大輔 220
    12.3.1 はじめに 220
    12.3.2 解析の手順 220
    12.3.3 格子定数,空間群の決定,強度の抽出 221
    12.3.4 初期構造モデル導出 223
    12.3.5 構造の精密化 225
    12.3.6 結果の評価 227
13章 実例で学ぶ粉末X線解析 229
   A. 自動検索による同定と近似構造の検索方法…西郷真理 230
   B. アスベストの分析…中山健一・中村利麿 232
   C. セメント分野での定量分析への応用…佐川孝広 234
   D. ポリキャピラリー型平行光学系を用いたX線回折法とその応用…関口晴男 236
   E. X線応力測定…関口晴男238
   F. 水酸アパタイトの構造精密化…藤森宏高 240
   G. 鉱物の結晶化学的研究…赤坂正秀・永篤真理子 242
   H. 構造材料の構造解析…八島正知 244
   I. 触媒の構造と電子・核密度の解析…八島正知246
   J. 熱電変換特性を示す層状炭化物の結晶構造解析…福田功一郎 248
   K. アシル尿素誘導体の1次相転移ダイナミクスの観察…橋爪大輔 250
   L. 細孔性ネットワーク錯体の構造解析…河野正規 252
14章 粉末X線解析に役立つ標準試料とデータベース…紺谷貴之 254
    14.1 標準物質 254
    14.2 データベース 257
コラム ポータブル粉末X線回折計による考古資料のその場分析…中井泉 260
付録 262
   1. 有効イオン半径γ…寺田靖子 262
   2. ファンデルワールス半径γ…橋爪大輔 265
   3. bond va1ence parameter 10…寺田靖子 266
   4. 知っていると便利な粉末X線の関連情報…佐々木聡 267
   5. 粉末解析に必要な数学の基礎…佐々木聡 270
   6. 主要粉末回折用ソフトウェア…泉富士夫 277
索引 279
1章 粉末X線回析法の原理を理解しよう…中井泉 1
   1.1 粉末回折のためのX線結晶学入門 1
    1.1.2 結晶とは 2
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