第1 章欠陥寸法測定の基礎 |
1.1 はじめに 1 |
1.2 超音波による欠陥高さ測定の歴史 2 |
1.3 欠陥高さ測定に関わる認証制度 4 |
第2 章欠陥高さ測定手順 |
2.1 欠陥寸法と測定手順の概要 7 |
2.2 端部エコー法による欠陥高さ測定 8 |
2.3 TOFD 法による欠陥高さ測定 10 |
2.4 フェーズドアレイ技術による欠陥高さ測定 11 |
2.5 概略欠陥高さ測定法 13 |
2.6 欠陥高さ測定の課題 15 |
参考文献 16 |
第3 章端部エコー法 |
3.1 端部エコー法の原理 17 |
3.2 端部エコー法における用語 17 |
3.3 端部エコー法の特徴 18 |
3.4 端部エコー法の適用 19 |
3.4.1 端部エコー法の主な方法 19 |
3.4.2 縦波端部エコー法と横波端部エコー法の選択 21 |
3.4.3 試験技術者に関する要件 22 |
3.4.4 適用の事例 22 |
3.4.5 端部エコー法の測定誤差 23 |
3.4.6 端部エコー法の測定限界 30 |
3.4.7 試験対象に関する知識 32 |
3.5 斜角端部エコー法で用いる試験機材 32 |
3.5.1 超音波探傷装置 32 |
3.5.2 超音波探傷器に要求される機能と性能 33 |
3.5.3 探触子に要求される性能 33 |
3.5.4 対比試験片 38 |
3.5.5 接触媒質 39 |
3.5.6 画像表示法の機能 39 |
3.6 斜角端部エコー法による欠陥高さ測定 40 |
3.6.1 欠陥高さ測定のフロー 40 |
3.6.2 斜角端部エコー法の準備 41 |
3.6.3 超音波探傷装置の校正 45 |
3.6.4 欠陥高さ測定 48 |
3.7 斜角端部エコー法による欠陥高さの評価 56 |
3.7.1 作図に基づく欠陥高さの評価 56 |
3.7.2 画像表示法の適用 60 |
3.7.3 欠陥高さ評価の注意事項 61 |
3.8 斜角端部エコー法の適用例 62 |
3.8.1 スリットの測定例 62 |
3.8.2 端部エコーのエコー高さに関する実験データ 64 |
3.8.3 端部エコー法の欠陥高さ測定精度 65 |
3.9 SPOD法による欠陥高さ測定 73 |
3.10 端部エコー法に関する規格 74 |
3.10.1 NDIS 2418 74 |
3.10.2 JEAC 4207 75 |
参考文献 76 |
第4 章TOFD法 |
4.1 TOFD 法の原理 79 |
4.2 TOFD 法における用語 80 |
4.3 TOFD 法の特徴 81 |
4.3.1 TOFD 法の特徴 81 |
4.3.2 斜角端部エコー法との比較 83 |
4.4 TOFD 法の適用 83 |
4.4.1 試験技術者に関する要件 83 |
4.4.2 適用の事例 83 |
4.4.3 探触子の走査 84 |
4.4.4 TOFD 法の測定誤差 85 |
4.4.5 TOFD 法における不感帯 88 |
4.4.6 TOFD 法の測定誤差の低減および不感帯の改善 90 |
4.4.7 TOFD 法の適用限界 90 |
4.4.8 試験対象に関する知識 92 |
4.5 TOFD 法で用いる試験機材 92 |
4.5.1 TOFD 装置 92 |
4.5.2 探触子に要求される性能 93 |
4.5.3 対比試験片 93 |
4.5.4 接触媒質 94 |
4.5.5 付属装置 94 |
4.6 TOFD 法による欠陥高さ測定 94 |
4.6.1 欠陥高さ測定のフロー 94 |
4.6.2 TOFD 法の準備 95 |
4.6.3 TOFD 装置の校正 97 |
4.6.4 欠陥高さ測定 103 |
4.6.5 TOFD 画像の特徴 105 |
4.7 欠陥高さの評価 107 |
4.7.1 欠陥高さの評価 107 |
4.7.2 伝搬時間の計測 108 |
4.7.3 欠陥高さを評価する場合の注意事項 108 |
4.8 TOFD 法の適用例 112 |
4.8.1 開口欠陥の高さ測定および測定精度 112 |
4.8.2 溶接欠陥の検出および欠陥高さ測定 127 |
4.8.3 オーステナイト系ステンレス鋼溶接部への適用 133 |
4.8.4 信号処理技術との組合せ 134 |
4.9 TOFD 法に関する規格 143 |
4.9.1 欧州の規格 143 |
4.9.2 米国の規格 143 |
4.9.3 日本の規格 144 |
参考文献 146 |
第5 章フェーズドアレイ技術 |
5.1 フェーズドアレイ技術の原理 151 |
5.2 フェーズドアレイ技術における用語 152 |
5.3 フェーズドアレイ技術の特徴 154 |
5.4 フェーズドアレイ技術の適用 155 |
5.4.1 フェーズドアレイ技術の種類 155 |
5.4.2 アレイ探触子の選定 155 |
5.4.3 電子走査方式の選定 156 |
5.4.4 試験技術者に関する要件 157 |
5.4.5 適用の事例 158 |
5.4.6 フェーズドアレイ技術の測定誤差 158 |
5.4.7 フェーズドアレイ技術の適用限界 158 |
5.4.8 試験対象に関する知識 158 |
5.4.9 フェーズドアレイ技術の適用上の注意 158 |
5.5 フェーズドアレイ技術で用いる試験機材 159 |
5.5.1 フェーズドアレイ探傷装置 159 |
5.5.2 アレイ探触子 160 |
5.5.3 対比試験片 160 |
5.5.4 接触媒質 160 |
5.5.5 付属装置 160 |
5.6 電子走査 161 |
5.6.1 主な電子走査方式 161 |
5.6.2 遅延制御 164 |
5.7 フェーズドアレイ技術による欠陥高さ測定 172 |
5.7.1 欠陥高さ測定のフロー 172 |
5.7.2 フェーズドアレイ技術の試験手順書および試験機材 172 |
5.7.3 フェーズドアレイ探傷装置の校正 175 |
5.7.4 欠陥高さ測定 176 |
5.7.5 欠陥高さの評価 178 |
5.8 フェーズドアレイ技術の適用例 179 |
5.8.1 欠陥高さ測定および測定精度 179 |
5.8.2 欠陥高さ測定に関する主な研究調査報告 186 |
5.8.3 フェーズドアレイ技術を用いた探傷例 188 |
5.9 フェーズドアレイ技術による概略欠陥高さ測定法 191 |
5.9.1 フェーズドアレイ技術によるモード変換波法 191 |
5.9.2 フェーズドアレイ技術によるタンデム探傷法 192 |
5.10 フェーズドアレイ技術に関する動向 193 |
5.10.1 3次元フェーズドアレイ技術 193 |
5.10.2 リングアレイ 195 |
5.10.3 高周波フェーズドアレイ技術 195 |
5.11 フェーズドアレイ技術に関する規格 197 |
5.11.1 米国の規格 197 |
5.11.2 日本の規格 198 |
参考文献 199 |
第6 章概略欠陥高さ測定法 |
6.1 モード変換波法 201 |
6.1.1 モード変換波法の原理 201 |
6.1.2 モード変換波法における用語 202 |
6.1.3 モード変換波法の特徴 203 |
6.1.4 モード変換波法の注意事項 203 |
6.1.5 モード変換波法で用いる試験機材 204 |
6.1.6 モード変換波法による概略欠陥高さ測定 205 |
6.1.7 モード変換波法の実施例 214 |
6.1.8 モード変換波法に関する規格 219 |
6.2 タンデム探傷法 220 |
6.2.1 タンデム探傷法の原理 220 |
6.2.2 タンデム探傷法における用語 220 |
6.2.3 タンデム探傷法の特徴 220 |
6.2.4 タンデム探傷法の注意事項 222 |
6.2.5 タンデム探傷法で用いる試験機材 222 |
6.2.6 タンデム探傷法による概略欠陥高さ測定 223 |
6.2.7 タンデム探傷法の実施例 227 |
6.2.8 タンデム探傷法に関する規格 229 |
参考文献 229 |
付録A 欠陥長さの測定方法 |
A.1 はじめに 231 |
A.2 超音波探傷試験による欠陥長さ測定 232 |
A.3 放射線透過試験による欠陥長さ測定 234 |
A.4 渦電流探傷試験による欠陥長さ測定 239 |
A.4.1 低炭素オーステナイト系ステンレス鋼のSCC を対象とした国内研究調査 239 |
A.4.2 複雑形状部におけるSCC の長さ測定に関する試み 241 |
A.4.3 ECT 画像例 241 |
参考文献 243 |
付録B 超音波探傷試験方法以外の欠陥高さの測定方法 |
B.1 はじめに 245 |
B.2 放射線透過試験による欠陥高さ測定 245 |
B.3 渦電流探傷試験による欠陥高さ測定 247 |
B.3.1 欠陥高さ測定の試み 248 |
B.3.2 欠陥間隙を考慮した欠陥高さ測定精度向上に関する試み 249 |
B.3.3 ECT 信号電圧とSCC 高さの関係調査 250 |
B.3.4 欠陥高さ測定に関する注意事項 251 |
B.4 電位差法による欠陥高さ測定 252 |
参考文献 256 |
索引 257 |