Sechstes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse : Wien, 23. - 25. Okt. 1972 / Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse (6, 1972, Wien) ; Zacherl, M. K. (Michael K.), 1905-
- 資料種別:
- 図書
- 出版情報:
- Wien, New York : Springer, c1974
- 形態:
- vii, 477 p. ; 23 cm
- シリーズ名:
- Mikrochimica Acta ; Supplement 5 <BA22965004>
- 著者名:
- ISBN:
- 9783211811948 [321181194X] (: au)
9780387811949 [038781194X] (: us) - 書誌ID:
- BA57170638
類似資料:
Springer | |
Springer-Verlag |
B. G. Teubner |
Springer |
11
図書
Advanced applications of ion implantation : January 23-25, 1985, Los Angeles, California (pbk.)
SPIE--the International Society for Optical Engineering |