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1.

図書
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1. Silicon front-end technology--materials processing and modelling, symposium held April 13-15, 1998, San Francisco, California, U.S.A.
editors, Nichoals E.B. Cowern ... [et al.]
出版情報: Warrendale, Pa. : Materials Research Society, c1998  xi, 228 p. ; 24 cm
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings ; v. 532
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2.

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2. Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A.
editors, S. Ashok ... [et al.]
出版情報: Pittsburgh, PA : Materials Research Society, c1995  xxii, 1054 p. ; 24 cm
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings ; v. 378
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3.

図書
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3. Hydrogen in crystalline semiconductors (: ger : pbk)
S.J. Pearton, J.W. Corbett, M. Stavola
出版情報: Berlin ; New York : Springer-Verlag, c1992  xi, 363 p. ; 24 cm
シリーズ名: Springer series in materials science ; 16
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4.

図書
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4. Transport, correlation and structural defects (: pbk.)
edited by Hellmut Fritzsch
出版情報: Singapore ; Teaneck, N.J. : World Scientific, c1990  x, 305 p. ; 23 cm
シリーズ名: Advances in disordered semiconductors ; v. 3
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5.

図書
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5. General and ionic crystals
edited by James H. Crawford, Jr., and Lawrence M. Slifkin
出版情報: New York : Plenum Press, 1972  xv, 556 p. ; 24 cm
シリーズ名: Point defects in solids ; 1
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6.

図書
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6. Metal impurities in silicon-device fabrication (: gw ; : us)
Klaus Graff
出版情報: Berlin ; New York : Springer-Verlag, c1995  ix, 216 p. ; 25 cm
シリーズ名: Springer series in materials science ; v. 24
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