第1章 緒言 |
1.1 微構造,組織の研究と偏光顕微鏡 1 |
1.2 偏光顕微鏡の発達と歴史 3 |
第2章 鉱物の光学的性質の概略 |
2.1 光の一般的性質 5 |
2.2 光学的等方体と光学的異方体 6 |
2.3 光学的等方体 7 |
2.4 光学的一軸性結晶 8 |
2.4.1 一軸性結晶の光線速度曲面 8 |
2.4.2 一軸性結晶の光波面の伝播速度を示す曲面 9 |
2.4.3 一軸性結晶の屈折率曲面 11 |
2.5 光学的二軸性結晶 12 |
2.5.1 二軸性結晶の光線速度曲面 12 |
2.5.2 二軸性結晶の光波面の伝播速度を示す曲面 14 |
2.5.3 二軸性結晶の屈折率曲面 15 |
2.6 光波の振動方向 18 |
2.7 光学的一軸性結晶と二軸性結晶との関係 20 |
2.8 光学的方位 21 |
2.9 光学的分散 24 |
2.9.1 屈折率の分散,複屈折の分散 24 |
2.9.2 光軸,光軸角および光学的弾性軸の分散 26 |
2.10 光の吸収と多色性 27 |
2.10.1 光学的等方体中での吸収 27 |
2.10.2 光学的異方体中での吸収と多色性 27 |
2.11 旋光性 29 |
2.12 基本的光学定数 30 |
第3章 顕微鏡観察用の試料 |
3.1 薄片の作り方 32 |
3.2 粉末試料,浸液法 35 |
第4章 偏光顕微鏡 |
4.1 偏光顕微鏡の構造部分の概略 37 |
4.2 顕微鏡使用上の注意 46 |
第5章 顕微鏡の調整 |
5.1 中心調整 49 |
5.2 直交ニコル調整 50 |
5.3 接眼鏡の十字線を偏光装置の振動方向に合わせる調整 51 |
5.4 接眼鏡の十字線の直角度の確認 52 |
5.5 ポラライザー,アナライザーの振動方向の確認 52 |
5.6 偏光装置の振動方向を接眼鏡の十字線の方向に合わせる調整 53 |
第6章 顕微鏡観察方法の分類 55 |
第7章 オルソスコープ観察 |
7.1 オルソスコープ開きニコル観察 57 |
7.1.1 形状 57 |
7.1.2 角度の測定 60 |
7.1.3 長さの測定 62 |
7.1.4 厚さの測定 63 |
7.1.5 劈開,亀裂,包含物,不透光性など 64 |
7.1.6 粒度分布の測定 67 |
7.1.7 定量方法 69 |
(1)面積比測定 69 |
(2)線分比測定 70 |
(3)点分布比測定 71 |
7.2 オルソスコープ直交ニコル観察 72 |
7.2.1 直交ニコル下での光学的異方体の単色光による観察 72 |
7.2.2 直交ニコル下での光学的異方体の白色光による観察 76 |
7.2.3 直交ニコル下で光学的異方体の薄片を重ね合わせた場合の現象 85 |
7.2.4 検板,コンペンセーター 87 |
(1)石膏検板 87 |
(2)雲母検板 88 |
(3)石英楔 88 |
(4)ベレックのコンペンセーター 89 |
(5)パペネ型コンペンセーター 91 |
7.2.5 干渉色,レターデーションの測定 91 |
(1)干渉色の直接測定方法 92 |
(2)検板による干渉色の概測 93 |
(3)石英楔による干渉色の概測 94 |
(4)コンペンセーターによるレターデーションの決定 95 |
7.2.6 結晶などの干渉色,レターデーション 96 |
7.2.7 薄片における振動方向の決定 97 |
(1)消光角 97 |
(2)X'とZ'の決定と伸長性 98 |
(3)結晶系と消光角,伸長性の正負と光学性の正負の関係 100 |
7.2.8 結晶,鉱物の消光角と伸長性 101 |
7.2.9 直交ニコル状熊でのその他の観察 103 |
(1)双晶 103 |
(2)累帯構造 105 |
7.3 浸液法による屈折率の測定方法 107 |
7.3.1 浸液法による屈折率測定用の試料の作成 107 |
7.3.2 屈折率の概測 108 |
7.3.3 ベッケ線と等方体の屈折率の測定方法 109 |
7.3.4 標準浸液 116 |
7.3.5 一軸性結晶の屈折率の測定方法 121 |
7.3.6 二軸性結晶の屈折率の測定方法 126 |
7.3.7 屈折率の特殊な測定方法 129 |
(1)分散法による屈折率の測定 129 |
(2)温度変化法による屈折率の測定 132 |
(3)二重変化法による屈折率の測定 133 |
(4)標準ガラス法による屈折率の測定 135 |
7.4 多色性の測定 136 |
第8章 コノスコープ観察 |
8.1 一軸性結晶のコノスコープ像 143 |
8.1.1 c軸に垂直な薄片のコノスコープ像 143 |
8.1.2 一軸性結晶のc軸に垂直な薄片の光学性の正負 148 |
8.1.3 一軸性結晶のc軸に対し斜交している薄片のコノスコープ像 151 |
8.1.4 c軸に平行な薄片のコノスコープ像 156 |
8.1.5 一軸性結晶の定方向薄片によるマラード定数の決定方法 160 |
8.2 二軸性結晶のコノスコープ像 161 |
8.2.1 Z軸に垂直な薄片のコノスコープ像 162 |
8.2.2 Z軸に垂直な薄片の光軸角の概測 167 |
8.2.3 二軸性結晶の鋭角等分線に垂直な薄片によるマラード定数の決定方法 168 |
8.2.4 X軸に垂直な薄片のコノスコープ像 169 |
8.2.5 Z軸またはX軸に垂直な薄片における光学性の正負の決定方法 170 |
8.2.6 光軸面に垂直であるがZ軸またはX軸に対し傾斜している薄片のコノスコープ像 174 |
(1)光軸面に垂直でZ軸またはX軸がコノスコープの視野に入っている場合 174 |
(2)光軸面に垂直でZ軸もX軸も視野に入らない場合 178 |
(3)光軸に垂直な薄片 182 |
(4)光軸面に垂直な薄片で弾性軸も光軸も視野に入らない場合 183 |
8.2.7 光軸面に対して斜交している薄片のコノスコープ像 186 |
8.2.8 光軸面に平行な薄片のコノスコープ像 194 |
8.2.9 光学的二軸性結晶のコノスコープ観察のまとめ 197 |
8.2.10 光軸角の分散の測定 200 |
第9章 自在回転台による観察法 |
9.1 自在回転台の構造 206 |
9.2 観測試料の設置 208 |
9.3 自在回転台の調整 209 |
9.4 傾斜角の補正 210 |
9.5 光学的等方体と光学的異方体との識別方法 212 |
9.6 一軸性結晶と二軸性結晶との識別方法 213 |
9.7 一軸性結晶薄片の光軸の方向を決定する方法 215 |
9.8 一軸性結晶の光学性の決定方法 216 |
9.9 二軸性結晶薄片の光学的弾性軸の方向を決定する方法 216 |
9.10 二軸性結晶の光軸角の測定方法 218 |
9.11 二軸性結晶の光学性の決定方法 219 |
9.12 結晶の形態学的研究への応用 221 |
9.12.1 薄片面に対する劈開面の方向を決定する方法 221 |
9.12.2 双晶体の研究に対する自在回転台の適用 223 |
第10章 鉱物,結晶の対称性と投影 |
10.1 鉱物と結晶の概念 225 |
10.2 結晶の対称性 226 |
10.3 結晶投影 228 |
10.3.1 結晶の実在形と理想形 228 |
10.3.2 球面投影 228 |
10.3.3 ステレオ投影 229 |
10.3.4 ウルフのネット 231 |
10.4 対称の要素のステレオ投影 231 |
10.5 対称要素の組合わせと結晶形態の32の晶族 240 |
10.6 結晶面の記載方法 250 |
10.7 結晶の分類 252 |
10.8 Schoenfliesの記号とHermann-Mauguinの記号の関係 255 |
参考図書 257 |
索引 258 |