1.粒子構造 (紀本和男) 1 |
1.1 粒子の結晶構造 1 |
1.1.1 結晶,単結晶と多結晶,固体の表面 1 |
1.1.2 微粒子とは何か 3 |
1.1.3 粒子の大きさと結晶構造との関係 4 |
1.1.4 微粒子によるX線の回折 5 |
1.1.5 微粒子による電子線の回折 17 |
1.2 粒子の外形 19 |
1.2.1 晶癖 19 |
1.2.2 固体の表面エネルギー 20 |
1.2.3 ガンマプロット 22 |
1.2.4 有限な温度における表面エネルギー 23 |
1.2.5 ウルフの多面体 24 |
1.2.6 ウルフ多面体のさまざまなタイプ 25 |
1.2.7 アルゴン中蒸発法で作られる金属微粒子 27 |
1.2.8 電子顕微鏡による微粒子の外形と構造の同定 29 |
2.力学物性I 充てん性 (川北公夫・梅屋 薫) 37 |
2.1 かさ密度,粒子密度,真密度の定義 38 |
2.2 かさ密度 39 |
2.2.1 かさ密度測定の意義と変動因子 42 |
2.2.2 静かさ密度 43 |
2.2.3 いろいろな充てん方法による空隙率測定値 44 |
2.2.4 横振動かさ密度測定法 46 |
2.2.5 顆粒のかさ密度 49 |
2.3 真密度測定法 49 |
2.4 沈降容積 53 |
2.4.1 分散の効果 54 |
2.4.2 媒質の粘度と密度と溶質の効果 54 |
2.4.3 沈降容積への理論的アプローチ 55 |
2.5 圧縮変形 56 |
2.5.1 タッピング圧密 56 |
2.5.2 ピストン圧縮 58 |
2.5.3 振動圧密 59 |
2.5.4 各種圧縮式の吟味 59 |
2.5.5 その他の圧縮成形法 61 |
2.6 粉体層内の圧力測定 62 |
2.7 固液系の充てん 65 |
2.7.1 粉体-液体の充てん形式(理想分散状態) 65 |
2.7.2 各充てん状態,臨界点における配合名 69 |
2.7.3 しゃへい効果 70 |
2.7.4 粉体の含有水分と測定 76 |
3.力学物性II 流動性 (青木隆一) 80 |
3.1 流動性の定義および意味 80 |
3.2 内部摩擦角および破壊包絡線 81 |
3.3 破壊包絡線の測定 83 |
3.3.1 三軸圧縮法 84 |
3.3.2 単純圧縮法 84 |
3.3.3 直接せん断法 86 |
3.4 崩壊関数または流れ関数 88 |
3.5 付着・凝集力の測定 90 |
3.5.1 付着・凝集の機構 90 |
3.5.2 単一粒子の接触点における付着力の測定 93 |
3.5.3 粉体層の付着・凝集力の測定 94 |
3.6 安息角の測定 96 |
3.6.1 注入法 96 |
3.6.2 排出法 97 |
3.6.3 傾斜法 99 |
3.6.4 堆積層の寸法と安息角との関係 99 |
3.7 流出速度による流動性の表示 103 |
3.7.1 自由に流れる粉体の流出速度 103 |
3.7.2 付着性粉体の流出 104 |
3.7.3 流出速度の変動 104 |
3.7.4 閉塞限界寸法 106 |
3.8 粉体の充てん性による流動性の表示 107 |
3.8.1 大型貯槽(サイロ)における粉体圧と流動性との関係 108 |
3.8.2 タッピング充てん過程と流動性 109 |
3.9 流動性の総合的な表示法 カーの流動性指数 110 |
3.9.1 測定量 111 |
3.9.2 各種角特性の測定 111 |
3.9.3 圧縮度 112 |
3.9.4 凝集度および均一度 113 |
3.9.5 分散度 113 |
3.9.6 流動性指数および噴流性指数 116 |
4.力学物性III 機械的性質 (堀 素夫) 120 |
4.1 粉体粒子の機械的性質 120 |
4.2 粉体固結物の機械的性質 124 |
5.熱物性 (早川宗八郎・阿部勝彦・芥川忠正) 129 |
5.1 粉体の熱測定 129 |
5.1.1 熱損失の影響 129 |
5.1.2 接触部の熱抵抗 130 |
5.1.3 温度測定の誤差 130 |
5.2 比熱測定 131 |
5.2.1 比熱と比熱測定法 131 |
5.2.2 低温用断熱型熱量計による比熱測定例 133 |
5.2.3 粉体系の比熱 136 |
5.3 熱伝導率測定 137 |
5.3.1 熱伝導率測定の原理と方法 137 |
5.3.2 フラッシュ法 139 |
5.3.3 レーザーパルス法によるサーメットの熱伝導率測定例 141 |
5.3.4 粉体の熱伝導 143 |
6.電気物性 (増田閃一・石田謙吾) 147 |
6.1 粉体の電気的特性 147 |
6.2 導電率の測定 149 |
6.2.1 導体粒子の場合(〓v>1〓/cm) 151 |
6.2.2 半導体粒子の場合(1〓/cm≧〓v≧10-8〓/cm) 153 |
6.2.3 絶縁物粒子の場合(〓v≦10-8〓/cm) 154 |
6.2.4 見かけ導電率の測定法 157 |
6.3 誘電率の測定 163 |
6.3.1 粉体層の見かけ誘電率 163 |
6.3.2 見かけ誘電率の測定法 164 |
6.4 絶縁耐力の測定 164 |
6.5 粒体の帯電電荷量の測定 167 |
6.5.1 直流電界法 167 |
6.5.2 交番電界法 168 |
6.5.3 ファラデーケージ法 172 |
6.5.4 空間電位の測定による方法 173 |
6.5.5 スペクトロメーター法 174 |
7.磁性 (関沢 尚) 179 |
7.1 磁性の測定 179 |
7.1.1 静磁気学の単位系 179 |
7.1.2 磁性体の分類 181 |
7.1.3 磁化測定法の原理 184 |
7.1.4 測定装置の実際 186 |
7.1.5 測定結果の分析法 192 |
7.2 メスバウアー測定 197 |
7.2.1 メスバウアー測定装置 197 |
7.2.2 試料の作り方 200 |
7.2.3 低温,高温,磁場中の測定 201 |
7.2.4 データ処理とその解釈 202 |
8.光物性 (早川宗八郎) 207 |
8.1 粒子の光学測定 207 |
8.1.1 単粒子の光学的観察 207 |
8.1.2 レイリー散乱 208 |
8.1.3 光散乱光度計 210 |
8.1.4 レーザー光による実験 211 |
8.2 拡散反射率 213 |
8.2.1 拡散反射率の解析 213 |
8.2.2 Kubelkaの2定数理論 214 |
8.2.3 絶対吸収係数の算出 215 |
8.2.4 反射率測定の問題点 216 |
8.3 粉体層の光学測定 217 |
8.3.1 楕円鏡法 218 |
8.3.2 定角反射率測定法 219 |
8.3.3 積分球法 220 |
8.3.4 オパールガラス法 221 |
8.3.5 ゴニオフォトメーター 222 |
8.3.6 ケイ光測定 224 |
8.3.7 光電導測定 225 |
9.界面物性 (荒川正文) 228 |
9.1 粉体粒子の表面とその特性 228 |
9.2 吸着 231 |
9.2.1 吸着の基礎 231 |
9.2.2 吸着等温線の測定法 239 |
9.2.3 吸着等温線からvmおよび比表面積の求め方 246 |
9.2.4 吸着熱とその測定 250 |
9.3 その他の比表面積測定法 253 |
9.3.1 粒度分布からの計算 253 |
9.3.2 ハーキンズージュラの相対法 254 |
9.3.3 浸せき熱による方法(ハーキンズージュラの絶対法) 255 |
9.3.4 透過法 256 |
9.4 粒子表面の細孔分布の測定 257 |
9.5 熱脱離スペクトル法 259 |
9.6 ぬれ 262 |
9.6.1 粉体のぬれやすさの測定 262 |
9.6.2 浸せき熱とその測定法 265 |
9.7 赤外線吸収スペクトルの利用 274 |
9.7.1 測定法 275 |
9.7.2 粉体の界面物性と赤外線吸収スペクトル 278 |
9.8 固・液系の界面電気現象 282 |
9.8.1 界面電気現象の基礎 282 |
9.8.2 電気泳動法 283 |
9.8.3 流動電位法 284 |
9.8.4 界面物性と界面電位 285 |
9.9 粉体粒子表面の水の構造 289 |
あとがき 粉体物性測定への注意 (早川宗八郎) 299 |
A.1 粒子の生成と特性 300 |
A.2 測定試料の作製 302 |
A.3 測定条件の設定と再現性 305 |
索引 307 |