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1.

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International Symposium on Software Testing and Analysis ; ACM Sigsoft
出版情報: New York, N.Y. : Association for Computing Machinery, c2010  282 p. ; 28 cm
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2.

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International Symposium on Software Testing and Analysis ; ACM Sigsoft
出版情報: New York, N.Y. : Association for Computing Machinery, c2008  287 p. ; 28 cm
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3.

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International Symposium on Software Testing and Analysis ; ACM Sigsoft
出版情報: New York, N.Y. : Association for Computing Machinery, c2009  295 p. ; 28 cm
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4.

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International Workshop on Random Testing ; International Symposium on Software Testing and Analysis
出版情報: New York, NY : Association for Computing Machinery, c2006  78 p. ; 28 cm
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5.

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International Symposium on Software Testing and Analysis ; ACM Sigsoft
出版情報: New York, N.Y. : Association for Computing Machinery, c2007  249 p. ; 28 cm
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6.

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図書
edited by Gregg Rothermel
出版情報: New York, N.Y. : ACM Press, c2004  [10], 285 p. ; 28 cm
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7.

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International Symposium on Software Testing and Analysis ; ACM Sigsoft
出版情報: New York, N.Y. : ACM Press, c2006  [10], 265, [10] p. ; 28 cm
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